Н.С. Зефиров - Химическая энциклопедия, том 4 (1110091), страница 159
Текст из файла (страница 159)
пиков на дифрактограмме осталась нерасшифрованной. В этом случае по указателю следует подобрать три меукплоскостных расстояния, последовательность значений карых совпадала бы с последовательностью значений с( для трех наиб. интенсивных пиков, Затем на дифрактограмме находят остальные пики предполагаемой фазы. Идентификация не м.б, осуществлена описанными методами, если фазы-твердые р-ры переменного состава. Миним. кол-во фазы в смеси, к-рое дает достаточное число 47 С днфрашь пиков для ее надежного определения, зависит от природы фазм, состава смесей, условий съемщ и др. факторов и колеблется в широких пределах — от 0,1 до 10еА. Качесп!енный Р.
ф. а. Может быль осуществлен автоматически при сьемке образцов в рентгенонском дифраатометре, управляемом ЭВМ, в память к-рой введены данные картотеки АЗТМ. Количественный Р. ф, а. смеси основан на зависимости отношения интенсивностей 1 /1„дифращ. пахов двух фаз нс и я от отношения массовых кош!евтрапий С„/С, этих фаз. В случае двухфазных смесей с концентрациями фаз С! и Ск и при налвчии одной из фаз, напр. 1, в чистом виде (внеш. стандарт) применяется т.
наз. метод внеш. стандарта, основанный на соотношении: ф= С,~Сф — 11 (+8,~ Здесь 1! и Гх-интенсивности дифращ. пиков фазы 1, находящейся соотв. в смеси и в чистом виде, ру и р$-массовтке коэф. поглощения фаз 1 н 2, равные отношенню линейвьУх коэф. поглощения (т.е. поглощению образна на едшпшу длины) к плотности фазы. Как видно из ур-вия, для смеси фаз с рУ = р$ отношение 1!/Рх = С,.
При рф ~ р$ следует рассчитать отношение р$/рй илн определить его экспериментально по эталонной смеси. В последнем случае кривые зависямости 1,/1', = /(Сх ) нелинейны, что неудобно. Поэтому чаде используют т. йаз. Метод внутр. стандарта. В этом методе в состав анализируемой смеси вводят новую фазу (внутр. стандарт) Тогда 1„/1, = а С„, где 1„и 1,-интенсивности дифракц.
пиков фазй нн и стандартной фазы соотв„апостоявный коэффициент. Для построения првмой 1„/1,— С достаточно сиять дифрактограмму (или рентгенограмму) одной двухфазной смеси. Пряменяя метод внугр, стандарта, в образпе с и фазами можно определить концевтрацито всех фаэ. Для этого необходимо построить л — 1 градунровочных а графнков, т.к. условие Е С, =! позволяет определить ! 1 щнцевтрацию последней фазы без градунровсчиого графика. Погрешность в количеств. определении фазы составлжт 2е Лныл Мир«на Л.
н„спрааокшк яо рынтснсструктурному алалюу яолнкристаклоа, М., 1961; Гиллер и. Л., табыяне меинлоскнстных рассгоа. нна, т. 1-2, м..!966; Аэтм Оавасаол ьаы ие. Рьх 1969. В.д. кумам. РЕИПТВНОВСКИЙ ФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ, см. Рентгеновская слнсвугоскояил. РБНТГЕНОГРАФИЯ, совокупность методов исследовашш строения кристаллич. и аморфных в-в, основанных на изучении дифракции ренттеновсктьч лучей. В Р. использутот в осн. харакшристич. рентгеновское излучение (см.
Рентгеновская спектроскопилБдифракц. картины регистрируют либо фото- методом, т.е. на рентгеновской пленке (рентгенограммы), нли дифрактометрич. Методом-с помощью счетчиков ионизирующего излучения (дифрактограммы). Рентгенографич, метолы позволяют прецизионно измерять параметры кристаллич, решетки (см. Рентгеновский структурный анализ), исследовать процес.'ы образовашш и распада твердых р-ров, устанавливать их тип и концентрацию, определять величины макронапряжений в изделиях, коэф.
теплового расширения и их айизотропито, изучать процессы диффузии, исследовать фазовые диаграммы, определять в них границы р.римости фаз (см, Рентгеновский йнуосый она,шу), В поликристаллич. образцах методами Р. устанавливают размеры кристаллич. блоков, к-рые могут существенно влиять на разл. св-ва материалов (напра мех., маги., каталитнч.). Размеры кристаллич. блоков более О,1 мкм определяют по числу точечных дифракц.
рефлексов на рентгенограмме, размеры блоков 0,1 — 1 мкм-па.анализу интегральной интенсивности дифракц. пиков. Блоки размером менее О,1 мхм вызывают уширение дифракц. пиков; их размеры определяют по полуширнне профиля интенсивности ди47б фраки. пика, нли методом фурье-анализа распределения интенсивности в дифракц. пиках. Последний метод позволяет точнее определять такхее значения неориевтир. микро- деформаций и концентраций деформац. и двойииковых ошибок в периодичности расположеяия атомных слоев кристаллич.
решетки. Анализ дифракц. картин дает сведения о процессах упорядочения в твердых р-рах, позволяет оценить силы межатомного взаимодействия. Условия по,чучення и обработки полякристаллич. материалов часто обусловливают образование в них кристаллаграфич. текстуры, т.е. преимуществ. ориентации в кристаллах крнсталлографич. направлений и, следовательно, анвзотропин са-в.
Получение дифракц. картин от текстурир. образца при разл. углах его поворота и наклона по отношению к рентгеновскому лучу дает возможность построить т. наз. полюсную фигуру. Последняя позволяет установить распределение кристаллографич. направлений, определенным образом ориентировишых (в т. ч. параллельно) относительно оси ориентировки — характерного для данного обьекта направления, Дефекты в кристаллич.
решетках кристаллич. материалов (дислокацни, ошибки упаковки и др,) изучают с помощью рентгеновской топографии, основанной на том, что дефектные и бездефектные области кристалла по-разному рассеивают рентееновские лучи. Анализ углового распределения интенсивности диффузного рассеяния рентгеновских лучей, обусловленного наличием ближнего порядка в расположении рассеивающих частиц, позволяет определить параметры ближнего порядка твердых р-ров, дает сведеюи о внутри- н межмол. строении аморфных в-в. Аперноднч.
флуктуашш электронной плотности в материалах (напр., при наличви микропор в твердом теле) приводит к диффузному рассеянию рентгеновских лучей вблизи первичного луча. Анализ этого т. наз. малоуглового рассеяния позволяет определить размеры н форму пор, размеры дисперсных частиц, исследовать процессы старения твердых р-ров и т. п. Ренттенографич. методами исследуют образцы при их нагревании и охлюкденнн, в условиях вакуума и высокого давления и т.д. Леи.: Крееоигтотрефие, рекиеиирефеи и еееетроккее еикроекиеи, М., еезз. а.д.
кр е . РЕНТГЕНОКОНТРАСТНЫЕ СРЕДСТВА (РКС), в-ва, используемые в медицине при ренгтенологич. исследованиях. Различают рентгеиоотрицат. (рензтенонегативные) и рентгеноположит. (рентгенопознтявные) ср-ва, поглощаннцие рентгеновское излучение соотв. слабее илн сильнее, чем ткани оргавюма. Введение РКС в полые органы позволжт получить представление о конфигурации последних, их объеме, характере влутр.
пов~ти и наличии патологнч. изменений. В качестве реитгеноотрицат. ср-в применяют газообразные в-ва-воздух, Ок, Х,О, СОз; в качестве рентгеноположнтельвых-в осн. орг. нодсодержащие соед. в виде водных н масляных ииъекционных р-ров, реже-в виде таблеток и капсул. Наиб. часто используют рензтеноположит.
ср-ва. Онн должны удовлетворять след. требованиям: поглощать рентгеновское излучение значительно сильнее, чем ткани организма, т.е. быть высококонтрастными; обладать низкой токсичностью, поскольку вводятся в органы в больших дозах; быстро выводиться из организма; иметь высохую р-рнмость в воде (для нек-рых видов исследований приме- няются 75 — 80%-ные р-ры); по осмотич. эффекту быть близ- ки к крови. Этим требованиям лучше всего 'отвечают РКС на основе производных трииодбензойной к-ты.
Так, для исследования сердечно-сосудистой и мочевыде- лит. систем широко применяют ионогенные препараты групп: 1) диатризоата (3,5-диацетамндо-2,4,6-трииодбензой- ная к-та, ф-ла 1) — триомбраст, верографин, уротраст и дрл 2) йоталамата [5-ацетамидо-З-(Х-метнлкарбамонл)-2,4,6- 477 РЕНТГЕН ОКОНТРАСТНЫЕ 243 трииодбензойиая к-та, П)-конрей, ангвоконрей; 3) метризоата [5-ацетамндо-З-(Х-метнлацетамидо)-2„4,6-тринодбензойная к-та, 1Щ-ронпакон, триозил, изопак; 4) йодаещла (З-ацетамидометил-5-ацетамидо-2,4,6-трииодбензойная к-та, 1У) — нео-уромнро; 5) йокситаламата [5-ацетамидо-3- Х-(2-гидроксиэтил)карбамоил-2,4,6-трннодбензойная к-та, У)-телебрикс, вазобрнкс и др.
Здесь и далее называемые в качестве примеров препараты представляют собой водные р-ры солей указанных к-т разл. концентрации; катионами в них служат, как правило, Х-метилглюкамин НОСН, [СН(ОНЦ СН, ХН,СНэ, Ха и, иногда, Са'", Мя 1еК К ХНСОСНз 1! К ХНСОСНЗФ К СОХНСНз 1Х К ХНСОСНзе К. 14(СН3)СОСНз ННК ХНСОСНезК СНтННСОСНз хей-ХНСОСНН К-СОХНСН,СНкОН Особый интерес представляют неионогенные РКС, обладающие, как правило, незначит, побочным действием, Они включают препараты на основе: 2-[3-ацетамидо-5-(Х-метилацетамидо)-2,4,6-трииодбепзамидо)-2-дезокси-О-глюкозы (У() — метризамид (амипак); бис-(2-гидрокси-1-гидрокснметилэтяламнда) 5-(а-педроксипропиоамндо)-2,4,6-трииодизофталевой к-ты (УП)-йопамидол; бис-(2,3-дигндроксипропиламида) 5-Х.(2,3-днгидроксллро пил)ацетамндо- 2,4,6-трниоднзофталевой к-ты (УП1)-йогексол (омвипак) и др.
О ХНК 1 1 К" К'Х ХНК „3(~н ССН, СН СХН Х СН Не К-СН(СН,ОН), К' Не К'=СОСН(ОН)СНз Мхей К'=ОН СН(ОН)СН ОН К' СОСН Дла исследовании желчного пузыря и желчевыводящих путей применяют РКС след. групп: 1) йопаноата [2-(3-амино-2,4,6-трииодфевнлметял)масляная к-та, 1Х]-йопагност, холевид и дрл 2) йоподата (натриевая соль 2-[3-(диметиламннометилеиамнио)-2,4,6-трииодфенил)пропионовой к-ты, Х)-билимии, билоптнн и дрц 3) йопроната [2-(Згацетамидо- 2,4,6-трииодфенокси)этоксиметил)масляная к-та, Щ, в частности билимиро; 4) йодвпамзща (адвпйодон, метилглюкаминовах соль бис-(З-карбокси-2,4,6-трииодавилида) аднпиновой к-ты, ХП)-бнлигност, бнлиграфин и дрц 5) йоглихамината [бис-(3-карбоксн-2,4,6-трииодаиилид) 2,2'- оксцциуксусной к-ты, ХИТ)-биливистан; 6) йодокеомата [бис-(З-карб окон-2,4,6-трииоданилид) 4,7,10,13-тетраоксагексадекаидикарбоновой к-ты, Х!У)-эндобил и дрл 7) йотроксата [бис-(З-карбокси-2,4,6-трииоданилид) 3,6,9-триоксаундекандикарбоновой к-ты, ХУЗ.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
