Главная » Просмотр файлов » Диссертация

Диссертация (1105295), страница 23

Файл №1105295 Диссертация (Электронная спектроскопия материалов и микроструктур в сканирующем электронном микроскопе) 23 страницаДиссертация (1105295) страница 232019-03-14СтудИзба
Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла (страница 23)

Charging kinetics features of different modifications of the Al2O3-dielectrics (sapphire, polycrystalline and ceramics) under electron-beam irradiation // в сборникеEuropean Microscopy Congress 2016 Volume 1: Instrumentation andMethods, издательство Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA(Weinheim, Germany), том 1, тезисы, с. 865-86613.Kupreenko S., Rau E., Tatarintsev A., Zaytsev S. 3-D reconstruction ofsurface topography in SEM by means of energy filtered SE and BSE // всборнике European Microscopy Congress 2016 Volume 1: Instrumentation and Methods, издательство Wiley-VCH Verlag GmbH & Co.

KGaA(Weinheim, Germany), том 1, тезисы, с. 881-882130Список цитируемой литературы1. Niedrig H., Physical background of electron backscattering. // Scanning,1978. Volume 1, Issue 1, p. 17-342. Seiler H., Secondary electron emission in the scanning electron microscope. // J. Appl. Phys., 1983. 54, R1-R183. Arnal F., Verdier P., Vincensini P., Coefficient de rétrodiffusion dans decas d’électrons monocinetiques arrivant sur la cible sous une incidence oblique.

//Compt. Rend. Acad. Sci. (Paris). 1969. V. 268, p. 15264. Бронштейн И.М., Фрайман Б.С., Вторичная электронная эмиссия. //Москва, Издательство «Наука», 19695. Goldstein J. I., Newbury D. E., Echlin P., Joy D. C., Lyman C. E.,Lifshin E., Sawyer L., Michael J.R., Scanning Electron Microscopy and X-RayMicroanalysis // Kluwer Academic/Plenum Publishers, New York 2003 p. 77-786. Darlington E.H., Cosslett V.E., Backscattering of 0.5-10 keV electronsfrom solid targets. // J. Phys.

D, 1972. 5, pp. 1969-19817. Reimer L., Tollkamp C., Measuring the backscattering coefficient andsecondary electron yield inside a SEM. // Scanning, 1980. 3, pp. 35-398. Hunger H.-J., and Kuchler L., Measurements of the electron backscattering coefficient for quantitative EPMA in the energy range of 4 to 40 keV. // Phys.Stat. Sol.

(a), 1979. 56, K45-K489. Darlington E. H., Backscattering of 10-100 keV electrons from thick targets. // J. Phys. D: Appl. Phys., 1975. V. 8, pp. 85-9310. Fitting H.-J. and Technow R., Electron backscattering at various anglesof incidence. // Phys. Status Solidi (а), 1983. 76, K151-K15411. Böngeler R., Golla U., Kässens M., Reimer L., Scindler B., Senkel R.,Spranck M., Electron-specimen interactions in Low-Voltage Scanning ElectronMicroscopy.

// Scanning, 1993. 15, pp. 1-1812. Staub P-F, Bulk target backscattering coefficient and energy distributionof 0.5-100 keV electrons: an empirical and synthetic study. // J. Phys. D: Appl.Phys., 1994. 27, pp. 1533-153713. Kanter H., Zur rückstreuung von elektronen im energiebereich von 10bis 100 keV. // Ann. Phys., 1957. 6, 20, S.

144-16614. Niedrig H., Simple theoretical models for electron backscattering fromsolid films. // Scanning Electron Microscopy / Ed. O’Hare, Chicago, 1981. V. 1, P.2915. Reimer L., Scanning Electron Microscopy (Physics of Image Formationand Microanalysis) // Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 199813116. Darlinski A., Measurements of angular distribution of the backscatteredelectrons in the energy range of 5 to 30 keV. // Phys. Status Solidi (a), 1981.

63,pp. 663-66817. Sprank M., Kässens M., Reimer L., Influence of the angular distributionof backscattered electrons on signals at different take-off angles in LVSEM. //Scanning, 1995.17, pp. 97-10518. Klein P., Andrae M., Röhrbacher K., Wernisch J., New expressions forangular distributions. // Scanning, 1996. Vol. 18, pp. 417-42719. Berger D., Niedrig H., Complete angular distribution of electronsbackscattered from tilted multicomponent specimens.

// Scanning, 1999. vol. 21,pp. 187-19020. Бронштейн И.М., Фрайман Б.С., Вторично-эмиссионные свойстваметаллов и полупроводников и периодическая система элементов // ФизикаТвёрдого Тела, 1961. 3, 10, c. 3220-322321. Baroody E.M., A theory of secondary electron emission from metals //Phys.

Rev., 1950. Vol. 78, № 6, pp. 780-78722. Ono S., Kanaya K., The energy dependence of secondary emission basedon the range-energy retardation power formula // J. Phys. D: Appl. Phys.,1979.Vol. 12, pp. 619-63223. Lin Y., Joy D.C., A new examination of secondary electron yield data. //Surf. Interface Anal., 2005. 37, pp. 895-90024. Joy D.C., A database of electron-solid interactions // URL:http://web.utk.edu/~srcutk/database.doc (дата обращения: 21.03.2017)25. Lye R.G., Dekker A.J., Theory of secondary emission // Physical Review, 1957.

Vol. 107, No. 4, pp. 977-98126. Lane R.O., Zaffarano D.J., Transmission of 0-40 keV electrons by thinfilms with application to beta-ray spectroscopy // Physical Review, 1954. Vol. 94,No. 4, pp. 960-96427. Kanaya K., Kawakatsu H., Secondary electron emission due to primaryand backscattered electrons. // J. Phys. D, 1972.

5, pp. 1727-174228. Dionne G.F., Origin of secondary‐electron‐emission yield‐curve parameters // J. Appl. Phys., 1975. Vol. 46, No. 8, pp. 3347-335129. Salehi M., Flinn E.A., Dependence of secondary-electron emission fromamorphous materials on primary angle of incidence // J. Appl. Phys., 1981. 52 (2),pp. 994-99630. Bundaleski N., Belhaj M., Gineste T., Teodoro O.M.N.D., Calculation ofthe angular dependence of the total electron yield // Vacuum, 2015. 122, pp.

25525913231. Bronshtein I. M, Dolinin V. A., The secondary electron emission of solids at large angles of incidence of primary beam. // Sov. Phys.-Solid State, 1968. 9,pp. 2133-214032. Reimer L., Pfefferkorn G. // “Rasterelektronenmikroskopie”, (Springer,Berlin), 1977. pp. 34-5933.

Reimer L., Böngeler R., Desai V., Shape from shading using multipledetector signals in scanning electron microscopy. // Scanning Microscopy, 1987.Vol. 1, No. 3, pp. 963 – 97334. Mulak A., Kaczmarek D. // Proc. Intern. Conf. on Electron Beam Technologies, Varna 1991. p. 63135. Drescher H., Reimer L., Seidel H., Rückstreukoeffizient und Sekundärelektronen-Ausbeute von 10-100 keV Elektronen und Beziehungen zur RasterElektronenmikroskopie. // Z. Angew. Phys., 1970. 29, S.

331-33636. Joy D.C., A model for calculating secondary and backscattered electronyields // Journal of Microscopy, 1987. Vol. 147, Pt 1, pp. 51-6437. Jonker J. L. H., Secondary electron emission from solids. // Phillips Res.Rep., 1957. 12, pp. 249-30038. Ali E.S.M., Rogers D.W.O., Energy spectra and angular distributions ofcharged particles backscattered from solid targets // J. Phys. D: Appl.

Phys., 2008.41, 5, pp. 1-939. Kullenkampff H., Spyra W., Energieverteilung rückdiffundierrterElektronen // Zeitschrift für Physik, 1954. Bd. 137, S. 416-42540. Kullenkampff H., Rüttiger K., Energie- und Winkelverteilungrückdiffundierter Elektronen // Zeitschrift für Physik, 1954. Bd. 137, S. 426-43441. Sternglass E. J., Backscattering of kilovolt electrons from solids // Physical Review, 1954.

Vol. 95, 2, pp. 345-35842. Bishop H. E., Electron scattering in thick targets // Brit. J. Appl. Phys.,1967. Vol. 18, pp. 703-71543. Matsukawa T., Shimizu R., Hashimoto R., Measurements of the energydistribution of backscattered kilovolt electrons with a spherical retarding-field energy analyser // J. Phys. D: Appl. Phys., 1974.

vol. 7, pp. 695-70244. Bauer H.D., Messungen zur energievereilung von rückstreuelektronen anpolykristallinen festkörpern // Exper. Technik der Physik, 1979. 27, S. 331-33845. Reimer L., Böngeler R., Kässens M., Liebscher F. F., Senkel R., Calculation of energy spectra from layered structures for backscattered electron spectrometry and relations to Rutherford backscattering spectrometry by ions // Scanning, 1991. Vol.

13, pp. 381-39113346. Gérard P., Balladore J. L., Martinez J. P., Ouabbou A., Experimental determination of angular-energy distributions of electrons backscattered by bulk goldand silicon samples // Scanning, 1995. Vol. 117, pp. 377-38647. Berger D., Hochaufgelöste elektronenstreuexperimente für anwendungenin der elektronenmikroskopie und der Monte-Carlo-Simulation derelektronenstreuung // Berlin : Mensch-und-Buch-Verl., 2000, Zugl.: Berlin, Techn.Univ., Diss., 200048. Афанасьев В.П., Лубенченко А.В., Федорович С.Д., ПаволоцкийА.Б., Отражение электронов килоэлектронвольтных энергий от многослойных поверхностей // ЖТФ, 2002. том 72, вып. 11, с.

100-10849. Hoffmeister H., Energiegefilterte rückstreuelektronen abbildung und –spektroskopie im rasterelektronenmikroskop // Inaugural-Dissertation zurErlangung des Doktorgrades der Naturwissenschaften im Fachbereich Physik derMathematisch-Naturwissenschaftlichen Fakultät der Westfälischen WilhelmsUniversität Münster vorgelegt, 200350. Cubric D., Kholine N., Konishi I., Electron optics of spheroid chargeparticle analysers // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A,2011.

645, pp. 234-24051. Hoffmann K.E., Schmoranzer H., Inelastic and elastic multiple scatteringof fast electrons described by transport equation // in: Electron beam interactionswith solids, Ed. Kyser D.F. et. al., SEM Inc., AMF O’Hare, II (1984) 20952. Wagner J., Stummer W., Völkerer M., Hanke A., Wernisch J., Measuring the angular dependent energy distribution of backscattered electrons at variablegeometry // Scanning, 2005. Vol. 27, pp. 298-30453. Chung M.S., Everhart T.E., Simple calculation of energy distribution oflow-energy secondary electrons emitted from metals under electron bombardment// Journal of Applied Physics, 1974.Vol. 45, No. 2, pp. 707-70954.

Bouchard C., Carette J.D., The surface potential barrier in secondaryemission from semiconductors // Surface Science, 1980. 100, pp. 251-26855. Schäfer J., Hölzl J., A contribution to the dependence of secondary electron emission from the work function and Fermi energy // Thin Solid Films, 1972.18, pp. 81-8656. Dietrich W., Seiler H., Energieverteilung von Elektronen, die durchIonen und Elektronen in Durchstrahlung an dünnen Folien ausgelöst warden //Zeitschrift für Physik, 1960.

Характеристики

Список файлов диссертации

Свежие статьи
Популярно сейчас
А знаете ли Вы, что из года в год задания практически не меняются? Математика, преподаваемая в учебных заведениях, никак не менялась минимум 30 лет. Найдите нужный учебный материал на СтудИзбе!
Ответы на популярные вопросы
Да! Наши авторы собирают и выкладывают те работы, которые сдаются в Вашем учебном заведении ежегодно и уже проверены преподавателями.
Да! У нас любой человек может выложить любую учебную работу и зарабатывать на её продажах! Но каждый учебный материал публикуется только после тщательной проверки администрацией.
Вернём деньги! А если быть более точными, то автору даётся немного времени на исправление, а если не исправит или выйдет время, то вернём деньги в полном объёме!
Да! На равне с готовыми студенческими работами у нас продаются услуги. Цены на услуги видны сразу, то есть Вам нужно только указать параметры и сразу можно оплачивать.
Отзывы студентов
Ставлю 10/10
Все нравится, очень удобный сайт, помогает в учебе. Кроме этого, можно заработать самому, выставляя готовые учебные материалы на продажу здесь. Рейтинги и отзывы на преподавателей очень помогают сориентироваться в начале нового семестра. Спасибо за такую функцию. Ставлю максимальную оценку.
Лучшая платформа для успешной сдачи сессии
Познакомился со СтудИзбой благодаря своему другу, очень нравится интерфейс, количество доступных файлов, цена, в общем, все прекрасно. Даже сам продаю какие-то свои работы.
Студизба ван лав ❤
Очень офигенный сайт для студентов. Много полезных учебных материалов. Пользуюсь студизбой с октября 2021 года. Серьёзных нареканий нет. Хотелось бы, что бы ввели подписочную модель и сделали материалы дешевле 300 рублей в рамках подписки бесплатными.
Отличный сайт
Лично меня всё устраивает - и покупка, и продажа; и цены, и возможность предпросмотра куска файла, и обилие бесплатных файлов (в подборках по авторам, читай, ВУЗам и факультетам). Есть определённые баги, но всё решаемо, да и администраторы реагируют в течение суток.
Маленький отзыв о большом помощнике!
Студизба спасает в те моменты, когда сроки горят, а работ накопилось достаточно. Довольно удобный сайт с простой навигацией и огромным количеством материалов.
Студ. Изба как крупнейший сборник работ для студентов
Тут дофига бывает всего полезного. Печально, что бывают предметы по которым даже одного бесплатного решения нет, но это скорее вопрос к студентам. В остальном всё здорово.
Спасательный островок
Если уже не успеваешь разобраться или застрял на каком-то задание поможет тебе быстро и недорого решить твою проблему.
Всё и так отлично
Всё очень удобно. Особенно круто, что есть система бонусов и можно выводить остатки денег. Очень много качественных бесплатных файлов.
Отзыв о системе "Студизба"
Отличная платформа для распространения работ, востребованных студентами. Хорошо налаженная и качественная работа сайта, огромная база заданий и аудитория.
Отличный помощник
Отличный сайт с кучей полезных файлов, позволяющий найти много методичек / учебников / отзывов о вузах и преподователях.
Отлично помогает студентам в любой момент для решения трудных и незамедлительных задач
Хотелось бы больше конкретной информации о преподавателях. А так в принципе хороший сайт, всегда им пользуюсь и ни разу не было желания прекратить. Хороший сайт для помощи студентам, удобный и приятный интерфейс. Из недостатков можно выделить только отсутствия небольшого количества файлов.
Спасибо за шикарный сайт
Великолепный сайт на котором студент за не большие деньги может найти помощь с дз, проектами курсовыми, лабораторными, а также узнать отзывы на преподавателей и бесплатно скачать пособия.
Популярные преподаватели
Добавляйте материалы
и зарабатывайте!
Продажи идут автоматически
6447
Авторов
на СтудИзбе
306
Средний доход
с одного платного файла
Обучение Подробнее