Cведения об оппоненте Филиппов (1105280)
Текст из файла
Фамилия Имя ОтчествоФилиппов Михаил Николаевичученая степень: доктор физико-математических наук (специальность02.00.02 – аналитическая химия);ученое звание: профессордолжность: заведующий лабораторией химического анализа Федеральногогосударственного бюджетного учреждения науки Институт общей инеорганической химии им. Н.С.
Курнакова Российской академии наук.Список основных публикаций по теме диссертации за последние 5 лет:1. Киртаев Р.В., Кузин А.Ю., Маслов В.Г., Митюхляев В.Б., Тодуа П.А.,Филиппов М.Н. Калибровка растровых электронных микроскопов вшироком диапазоне увеличений. Измерительная техника. 2016. № 12. С.
7-10.2. Васильев А.Л., Митюхляев В.Б., Михуткин А.А., Тодуа П.А., ФилипповМ.Н.Оценкасоставляющейсистематическойпогрешностирентгеноспектрального микроанализа, обусловленной поверхностнымрельефом образца. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2016. Т.82. № 12. С. 15-18.3. Амрастанов А. Н., Гинзгеймер С. А., Степович М. А, Филиппов М.
Н. Ободной возможности математического моделирования теплового воздействияостро сфокусированного электронного пучка на однородный полупроводник.Известия РАН. Серия физическая. 2016. Т. 80. № 10. С. 1448-14524. Дарзнек С. А., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Степович М. А., Тодуа П.А., Филиппов М. Н. Измерение неоднородности толщины наноплёнокэлектронно-зондовым методом. Измерительная техника. 2016. №8. С. 24-27.5. Кузин А. Ю., Васильев А.
Л., Карабанов Д. А., Митюхляев В. Б., МихуткинА. А., Пресняков М. Ю., Тодуа П. А., Филиппов М. Н. Экспериментальныеисследования трёхмерной реконструкции рельефных структур постереоизображениям, полученным в растровом электронном микроскопе.Измерительная техника.
2016. №8. С. 21-24.6. Гавриленко В.П., Заблоцкий А.В., Корнейчук С.А., Кузин А.Ю.,Куприянова Т.А., Лямина О.И., Тодуа П.А., Филиппов М.Н., Шкловер В.Я.Измерение структурных параметров по эмиссионным рентгеновскимспектрам при энергодисперсионной регистрации. Измерительная техника.2016. №2. С. 65-67.7. Серегина Е.В., Степович М.А., Макаренков А.М., Филиппов М.Н. Онекоторых проблемах моделирования распределения неосновных носителейзаряда, генерированных электронным пучком в полупроводниковомматериале.
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронныеисследования. 2016. № 4. с. 88-93.8. Кузин А.Ю., Степович М.А., Митюхляев В.Б., Тодуа П.А., ФилипповМ.Н. Тепловые эффекты при низковольтном электронно-зондовомрентгеноспектральном микроанализе с нанометровой локальностью.Измерительная техника. 2016. №10. С. 27-29.9.Серегина Е.В., Степович М.А., Макаренков А.М., Филиппов М.Н.
Овозможности использования рекурсивных тригонометрических функций длярасчета распределения неравновесных неосновных носителей заряда вдвуслойном полупроводниковом материале // Поверхность. Рентгеновские,синхротронные и нейтронные исследования. 2015. № 9. С.
70.10. Гавриленко В.П., Кузин А.Ю., Митюхляев В.Б., Степович М.А., ТодуаП.А., Филиппов М.Н. Измерение толщины окисной пленки на поверхностикремния электронно-зондовым методом // Измерительная техника. 2015. № 9.С. 13-16.11. Гавриленко В.П., Карабанов Д.А., Кузин А.Ю., Митюхляев В.Б.,Михуткин А.А., Тодуа П.А., Филиппов М.Н., Баймухаметов Т.Н., ВасильевА.Л. Трехмерная реконструкция поверхностей рельефных структур постереоизображениям, полученным в растровом электронном микроскопе //Измерительная техника. 2015.№3. С.
15-18.12. Filippov M.N., Gavrilenko V.P., Mityukhlyaev V.B.,Rakov A.V.,Todua P.A./Novel method for dimensional measurements of nanorelief elements based onelectron probe defocusing in a scanning electron microscope // MeasurementScience and Technology 2014, Vol. 25, No 4, P. 044088.13. Гавриленко В.П., Кузин А.А., Кузин А.Ю., Кузьмин А.А., МитюхляевВ.Б., Раков А.В., Тодуа П.А., Филиппов М.Н./ Измерение толщиныестественного окисла на тестовой рельефной шаговой структуре на подложкеиз монокристаллического кремния // Микроэлектроника. 2013.
Т. 42. № 2. С.131-133.14. Куприянова Т.А., Миникаев Л.Р., Тангишев Р.Р., Степович М.А.,Филиппов М.Н./ Моделирование пробега киловольтных электронов вдиэлектрической мишени в условиях накопления объемного заряда //Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования.2013. № 3.
С. 79.15. Гавриленко В.П., Кузин А.Ю., Митюхляев В.Б., Раков А.В., Тодуа П.А.,Филиппов М.Н., Шаронов В.А. / Искажение профиля рельефных элементовна поверхности монокристаллического кремния в результате ихконтаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе //Измерительная техника, 2013, № 3, С. 12-15..
Характеристики
Тип файла PDF
PDF-формат наиболее широко используется для просмотра любого типа файлов на любом устройстве. В него можно сохранить документ, таблицы, презентацию, текст, чертежи, вычисления, графики и всё остальное, что можно показать на экране любого устройства. Именно его лучше всего использовать для печати.
Например, если Вам нужно распечатать чертёж из автокада, Вы сохраните чертёж на флешку, но будет ли автокад в пункте печати? А если будет, то нужная версия с нужными библиотеками? Именно для этого и нужен формат PDF - в нём точно будет показано верно вне зависимости от того, в какой программе создали PDF-файл и есть ли нужная программа для его просмотра.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
