Диссертация (1145323), страница 28
Текст из файла (страница 28)
Видно также, чтопри больших концентрациях бора -зона становится размытой из-за нарушенияпериодичности решетки примесью.Рис. 4.21. Экспериментально измеренные концентрации атомов углерода, характеризующихсяразличным числом атомов бора среди соседей, как функция содержания бора в B-графене наповерхностях Ni(111) и Co(0001).166Как видно из рассмотренных данных, СТМ является эффективным методомопределения мест внедрения примеси при низкой концентрации бора. При высоком содержании бора структура оказывается плохо различимой, поэтому авторомразработан способ проверки подрешеточной асимметрии легирования на основеданных РФЭС, дающих усредненную по поверхности информацию. На рис. 4.21показана зависимость интенсивности трех пиков в спектрах РФЭС C 1s (см.
рис.4.14a) от концентрации бора. Экспериментальные значения, определенные длянескольких образцов B-графена, показаны круглыми и треугольными символами. Чтобы описать полученную зависимость, было рассмотрено две наиболеепростые модели структуры B-графена. В первой модели предполагалось, чтоатомы бора замещают углерод в двух подрешетках графена. Во второй моделидопускалось замещение лишь в одной из подрешеток. Для этого был рассмотрен модельный кластер графена, в котором атомы углерода случайным образом(в пределах одной или двух подрешеток) замещались бором до тех пор, покаконцентрация бора не достигала заданного значения. Дополнительно, в соответствии с проведенным анализом спектров РФЭС считалось, что атом бораможет быть окружен лишь тремя атомами углерода, тогда как атомы углеродамогут иметь три типа ближайшего окружения: C3 , C2 B и B2 C.
В рамках каждоймодели было статистически рассчитано число атомов углерода с различным локальным окружением как функция концентрации бора. Атомы, расположенныеближе 0.5 нм к границе кластера, не учитывались, чтобы избежать краевых эффектов. Эти атомы выделены на рис. 4.22, где показаны примеры кластеров длядвух рассмотренных моделей. Диаметр кластеров на рис. 4.22 задан равным 5 нмдля простоты визуального восприятия, тогда как кластер, использовавшийся врасчете имел диаметр 21 нм и содержал 13228 атомов.
Для каждой концентрациибора проводился анализ 200 кластеров с последующим усреднением результатов.Результаты моделирования показаны на рис. 4.21 сплошными и штриховыми линиями для первой и второй модели, соответственно. Очевидно, что приневысоких концентрациях бора (ниже 6 ат.%) различия между двумя моделя167Рис. 4.22.
Два модельных кластера B-графена, содержащие 19 ат.% бора: (a) в одной подрешетке,(b) в двух подрешетках. Красным цветом показаны атомы бора.ми малы и не поддаются экспериментальному наблюдению. При высоком содержании примеси модель с несбалансированным между двумя подрешеткамилегированием сильно отклоняется от экспериментальных результатов, тогда какмодель с полностью случайным замещением в двух подрешетках почти идеальноописывает данные РФЭС для обеих подложек, Ni(111) и Co(0001).
Это приводитк некоторым важным следствиям. Во-первых, представленный анализ в значительной мере подтверждает вывод о том, что бор замещает углерод в решетке ипики, наблюдаемые в спектрах C 1s РФЭС, действительно соответствуют окружению C3 , C2 B и B2 C. Во-вторых, несмотря на хорошую ориентацию B-графенана Co(0001) и преимущественную структуру (1 × 1) в картине ДМЭ, никакойасимметрии легирования не выявлено с помощью РФЭС в случае 15 ат.% бора. Другими словами, при высоком содержании бора примеси располагаются вдвух подрешетках с близкой вероятностью.
В этом случае для несбалансированного легирования недостаточно хорошей ориентированности и соответствияпараметров решеток графена и подложки.Для того, чтобы понять причину отсутствия асимметрии легирования привысоких концентрация бора были измерены STM-изображения B-графена на168(a)(b)Рис. 4.23. STM-изображения B-графена на поверхности Ni(111) при концентрации бора 17 ат.%.Параметры в режиме постоянного тока: = 3 мэВ, = 1.5 нАNi(111) при концентрации бора 17 ат.%. Результаты приведены на рис.
4.23.Изображения демонстрируют значительные искажения решетки графена из-запримесей, однако общая сотообразная структура в значительной мере сохраняется. В некоторых областях различным подрешеткам соответствует разная высота,что характерно для конфигурации top-hollow. В других местах видна сотообразная решетка без подрешеточной асимметрии.
Из этого наблюдения можносделать вывод, что при высоком содержании бора решетка B-графена не совпадает с решеткой подложки, образуя несоразмерную структуру. Это объясняетотсутствие асимметрии легирования, обнаруженное с помощью РФЭС.Необходимо также отметить, что для практического использования B-графена крайне важна его стабильность при контакте с воздухом. Поэтому былоисследовано влияние окружающей среды на систему B-графен/Ni(111), отражающееся в спектрах РФЭС. Образец с концентрацией бора ∼ 16 ат.% был подвергнут контакту с воздухом в течение ∼ 30 мин при относительной влажности∼ 40%.
После этого спектры РФЭС выявили присутствие адсорбированного награфен кислорода (не иллюстрировано) и постороннего углерода (рис. 4.24a). Этотипично для любого образца после контакта с воздухом. Последующий прогрев169B 1sIntensity (arb. units)Intensity (arb. units)C 1sannealed at 550°Cin UHVannealed at 550°Cin UHVafter air exposureafter air exposureB-graphene/Ni(111)B-graphene/Ni(111)(a)290288286284Binding energy (eV)282280(b)191190189 188 187Binding energy (eV)186185Рис. 4.24.
Спектры РФЭС B-графена до и после контакта воздухом.B-графена в СВВ при температуре 550∘ C привел к полному восстановлению формы спектров C 1s и B 1s (рис. 4.24a,b). При этом концентрация кислорода упаланиже 1 ат.%. Эти результаты свидетельствуют о стабильности образцов B-графена при воздействии воздуха, что благоприятствует будущему использованиюэтого материала во многих областях потенциального применения графена.4.3. Выводы к главеС помощью фотоэлектронной спектроскопии определена электроннаяструктура легированного азотом графена, синтезированного из молекул триазина на монокристаллической поверхности Ni(111).
В полученном N-графене,как правило, содержится 1–2 ат.% примесей азота, имеющих различную конфигурацию химических связей. Среди присутствующих примесей преобладает азотв пиридиновой конфигурации, не являющийся донором электронов. Показано,что интеркаляция атомов золота под N-графен с последующим отжигом системыприводит к превращению большинства пиридиновых примесей в азот замещения, являющийся эффективным донором электронов. Такая конверсия сопровождается заполнением электронных состояний в зоне проводимости N-графена, наблюдаемым с помощью ФЭСУР. При интеркаляции других металлов, таких как170Ag, Cu, Pd, превращение азота наблюдается в значительно меньшей степени, чтоуказывает на особую роль золота в процессе конверсии. Полученные данныедемонстрируют, что каталитическая активность золота не играет значительнойроли в этом явлении.
Наиболее значимым фактором, обеспечивающим эффективную конверсию, является слабая связь N-графена с подложкой. Изучение кинетики превращения выявило, по меньшей мере, два типа пиридиновых примесей созначительно различающимися энергиями активации по отношению к процессуконверсии. Данные ФЭСУР и DFT позволили получить всецелое представление об изменениях в электронной структуре N-графена вблизи уровня Ферми вовремя этого процесса. Показано, что допирующий эффект замещающего азота взначительной мере подавляется пиридиновой примесью. С увеличением степениконверсии пиридинового азота в графитоподобный, эффективность допированиявозрастает до уровня 0.5 электронов на атом азота.
Полученные результаты демонстрируют возможность прецизионного контроля соотношения концентрацийразличных типов примеси, что имеет большое значение для разработки новыхэлектронных устройств на основе N-графена с управляемой электронной структурой.В результате исследования легированного бором графена продемонстрирована эффективность синтеза B-графена на поверхностях Ni(111) и Co(0001) измолекул карборана. Показана стабильность полученного в вакууме B-графенапри последующем контакте с воздухом. С использованием широкого спектраповерхностно-чувствительных методов (XPS, LEED, ARPES, NEXAFS, STM иCITS) определена структура примесных центров, сформированных в графене впроцессе CVD-синтеза.
Обнаружено, что примеси преимущественно замещаютатомы углерода в решетке графена и влияют на ориентацию графеновых доменов. В случае подложки Ni(111) B-графен хорошо ориентирован при низких концентрациях бора (<5 ат.%). В таких образцах обнаружена сильная асимметриялегирования, т.е. атомы бора преимущественно внедрены в одну из двух подрешеток графена. Данные STM и CITS демонстрируют, что примесные атомы с171большой вероятностью занимают в решетке места, расположенные над пустотами поверхности Ni(111).
При высоком уровне легирования (>12 ат.%) B-графеноказывается плохо ориентированным и недостаточно хорошо упорядоченным наатомарном уровне, поэтому асимметрия легирования не наблюдается. По данным ДМЭ, B-графен на поверхности Co(0001) может быть выращен лучше ориентированным по сравнению с системой графен/Ni(111) при концентрации боравплоть до 15 ат.%, однако, данные STM показывают, что сотообразная решеткаграфена значительно искажена на атомарном уровне, как и в случае B-графена наNi(111). Для того, чтобы проанализировать подрешеточную асимметрию в случае сильного легирования, был разработан метод тестирования асимметрии поспектрам РФЭС. Обнаружено, что в системе B-графен/Co(0001) не наблюдаетсяасимметрии легирования при высокой концентрации бора. Полученные результаты демонстрируют, что значительную асимметрию внедрения бора в подрешеткиB-графена на Ni(111) и Co(0001) можно ожидать лишь при достаточно низкихконцентрациях примеси.