Ю.А. Золотов - Основы аналитической химии (практическое руководство) (1110140), страница 72
Текст из файла (страница 72)
Расшифровку спектрограммы можно начинать с любой области спектра, но лучше с коротковолновой — в ией спе 'ы',''::;':~-," наименее б богаты линиями. Рассматриваемый участок спектра„-::,":.".1 выводят иа середииу экрана и совмещают с соответствующей ":,':.;:;!,, фотографией области спектра железа на планшете атласа, по...::::,!,." которому и находят линии элементов в анализируемом образце.,г Обычно иа каждом плашпете нанесена шкала длин волн и поме- '' ':.!.!:., щена фотография небольшой области дугового спектра железа.
Над спектром железа нанесены линии с символами элементов; -'::::.',::: соответствующие длины волн и интенсивности линий в условной 10-балльиой иой шкале. На планшетах нанесены только иаиболее интенсивные линии элементов. На «п а «последиие линию> определяемых элементов могут иапагаться линии других элементов. В этом случае пользоваться ими .",-':;'.,:~ нельзя и выбирают другие, наиболее интенсивные, свободные от наложений линии.
Мсиее чувствительные линии служат для конт-' роля правильиости обнаружении и даже для ориеитировочиой -::.,'.";:::;~е оценки количественного содержания элемента в исследуемом об-: ' '::.;:"~;» ' разце. После расшифровки спектрограммы рекомендуется оч- ' =;,::,1,;;-~", нить отождествленные линии при помощи таблиц спектральных линий элементов. По числу обнаруженных линий и их интеисив; постам устанавливают элемент, принадлежащий основе образца и злемеиты примеси.
Достаточио обнаружить последние линии элемента (свободные от наложений), чтобы уверенно судить о его присутствии в образце. Результаты расшифровки спектрограммы записывают в лабораторный журнал по форме, приведенной в табл. 7.6. 57а Таблица 7.6. Форма запоев результатов расшифровав епектрограмьз В лабораториом журнале записывают: 1) название работы; 2) порядок и условия фотографирования спектров; 3) результаты анализа неизвестного образца (папример, в металлическом стержне обнаружены: основа — свинец, примеси — сурьма, железо и т. д.) Прямечаиие.
При выполнении анализа особое внимание должно быть обращено иа устранение возможности загрязнения исследуемых проб и электродов. Поверхностные загрязнения угольных электродов можно устранить предварительным обжигом до внесения, пробы в кратер нижнего электрода. Проверить чистоту реагентов можно, проводя так называемые контрольные опыты. Используемые для подготовки электродов напильники и наждачные круги должны содержаться в чистоте. Беречь эмульсианный слой фотопластинки ат повреждений.
Работа б Построение характеристической кривой эмульсии фотопластинки Для видимой УФ и ИК областей спектра в качестве приемников излучения используют фотографические эмульсии, в которых излучение вызывает химические изменения, и фотоэлектрические, преобразующие световой сигнал в электрический. Мерой фотографического воздействия излучения иа фото- эмульсию служит почернение (Б).
Оио зависит от освещеииости фотопластинки (Е) и от времени воздействия света (7), Суммарная световая энергия, приходящаяся на единицу поверхиости (экспозиция) равна Н=Еь График зависимости оптической плотности (величины почернеиия) линии от экспозиции фотопластинки представляет собой Б-образную кривую. Она получила иазвание характеристической кривой фотопластинки. Если время экспозиции ~ постоянно, характеристическую кривую можно строить в координатах Б-\я7 (рис. 7,11). 375 Рис " 37. 7Гараатеристиееслаа „ эмульсии фотолластаиии Я 7=70«=— 1яг-1яе (7.17) откуда ~=71я7-71й) ейного уча 7' — инерция аклона и том конт прямолин растности; где у — тангенс угла н называемь7й коэффициен пластинки (фотопленки). По характеристическо ных почернений фотоэм у количественного спектрал де от почернений спектр Почернение эмульсии метра.
фотоормаль- . - '.:!!г:-"'т ведении: -'-",-'~~7~:, офото- й кривой льсви, ис ьного ан альных лн измер опре клю ализа ний к яют и область н он при про зуют при тенсивностям ощи микр делают чают ф , исполь их ин ри пом б' симо Экспериментально эту 3 с сть устанавливают для к~ -:: '=:,:::у„" ждого материала стинки, фотопленки. х арактеристическую кри-" '-'",-:, ';„~ ь вую можно раздешпь на три а области: аЬ вЂ” область недод~-.:!":"-':;!!:,; а ний сс(— ржек (область слабых почер не-..
";.- '.,:,', ), со( — область передержек "' .':, 1 в/ (область больших почернений) почернений (область нормальных экспозиций), соответствующая линейной зависимости:,":.'- .'::, Я вЂ” 1й)'. Связь между экспозицией Н (или и прямолинейного участк 6 ~~~Р~~~~~~~ Ривои выражаа Фотопластинки спектральные. Проявитель и фиксаж. Выполнение работы. 1. Фотографируют спектр железа с диафрагмой Гартмана (источник возбуждения спектра — дуга переменного тока). 2. Перемещают кассету и устанавливают на место диафрагмы Гартмана ступенчатый ослабитель. Проверяют правильность установки электродов. 3. Фотографируют спектр железа со ступенчатым ослабителем с двумя различными временами экспозиции. Перед вторым фотографированием спектра железа со ступенчатым ослабителем кассету перемещают, чтобы спектры не перекрывались, 4. После второго фотографирования спектра железа со ступенчатым ослабителем кассету перемещают, устанавливают диафрагму Гартмана на место ступенчатого ослабнтеля и последовательно фотографируют два спектра железа, перемещая при этом кассету.
5. Фотопластинку проявляют„фиксируют и высушивают. 6. Проявленную и высушенную фотопластинку помещают на столик спектропроектора и в одном из двух спектров железа со ступенчатым ослабителем выбирают 2 — 3 близко расположенные, наблюдаемые на всех ступенях спектра, линии разной интенсивности и отмечают их. 7. Фотопластинку помещают на столик микрофотометра эмульсией вверх, укрепляют и трижды фотометрируют каждую отмеченную линию во всех девяти спектрах. Для линии каждой ступени ослабителя находят средние из трех величин почернений, 8.
Для каждого времени экспозиции результаты фотометрирования записывают в табл. 7.7. Таолица 7.7. Реаультатм фотоиетииооааиии фотоиластаиаи «Армко», верх- ' „',;,.",','.,,:,.~,"': аточенный на усе- '",::,,:,';:;;,',:;.:',;, зо м жень ос арки . ч., з 376 Аппаратура и материалы Спектрограф среди Девятиступенчатый Генератор дуги пере Спектропроектор. Мнкрофотометр. Секундомер.
Электроды: нижний — желе ннй — графитовый стер ченный конус. ей дисперсии. кварцевый ослабитель. менного тока или универсальный По полученным величинам почерненнй линий строят характеристические кривые (отдельную кривую для каждого времени экспозиции). По оси абсцисс откладывают логарифмы пропускання ступеней ослабителя (паспортные данные), по оси ординат — измеренные величины почерненнй линий. Из трех полученных кривых (они должны быть параллельны друг другу) выбнра- 377 % ют одну, охватывающую боль.'ь:,':.;.:-'." ший диапазон почернений. Опре".
делают величину смещения дру»'-:.:.:;',. гих кривых по отношению к вмбранной и переносят точки другик .„,,:;.,!". кривых на основную в направлении, показанном на рис. 7.12. Определяют область нормаль-",::.-.'!;:::;.,' ных почернений (прямолннейньуй участок). Продлевая прямолиней. ъ ";; ный участок до пересечения с осью абсцисс, находят угол нйа клона и. Тангенс угла наклона а — коэффициент контрастности' ' !::,-',,у у данного типа фотопластинок.
Работа 7 вольфрама, молибдена, афический метод анализа основан между интенсивностью спектраль- .','!.'. еляемого элемента и концентраци-:-:.':,'-;: . Теоретически ее рассчитать невозот большого числа факторов, не К нвм относятся процессы возбужоступление пробы в 'зону разряда у зависимость устанавливают эмадуировочных графиков, испольртные образцы).
ой кривой применяют следуюп1ее 8 г,00 1,50 Ьоо оде ьоо ьео а003ау Определение ванадия, никеля и друпих злемеито и алвмяии Количественный спектрогр на установлении зависимости ной линии атома (иона) опред ей его в анализируемой пробе можно, тах как она зависит поддающихся точной оценке. денни атомов в источнике, п и многие другие процессы. Эт лирически путем построения гр зуя образцы сравнения (станда Для описания аналитическ математическое выражение 6Б= уЫа с+ у 1~ а, Я вЂ” разность почерне — коэффициент контр — концентрация апре висящая от источника ств анализируемой и реабсорбцию спектраль где Ь у=гйй ки); с на, за и свой ющий рации Сп тограф З7В ний аналитической астности фотопластин деляемого элемента и условий возбужд робы; Ь вЂ” коэффици ной линии и зависящ бразцов и образцо ку или фотопленк ектры анализируемых о ируют на фотопластин Рис, 7.12.
Построение характери стической кривой фотопластинки: 1 и 3 — всвоыогатевввые кривые г — освоввав кувыаа (7.19) нй от концент в сравнения. фо-: у в строго оди- паковых условиях и измеряют почернение Я или разность почернений аналитической пары линий ЛЯ.
Аналитическая пара линий представляет собой линии опредсляемого элемента и элемента сравнения, внутреннего стандарта, Они должны быть гомологическими: иметь близкие величины потенциалов возбуждения и ионизации, иметь близкие величины длин волн, т. е.
они должны располагаться на спектрограмме близко друг к другу, п обы исключить влияние неоднородности эмульсии в пределах фотопластинки, Для близко расположенных линий аналитической пары у, =уь и точность определений выше, В качестве линии сравнения обычно берут лишпо основного компонента в образце. Иногда в качестве линии сравнения берут линию вводимого в анализируемый образец какого-либо элемента постоянной концентрации.
Для каждого определяемого элемента в пробе выбирауот свою аналитическую пару спектральных линий. Образцы сравнения (стандартные образцы) по общему химическому, фазовому составу доляшы соответствовать составу анализируемых проб. Интервал концентраций определяемых элементов должен быть шире, чем в анализируемых образцах, так как экстраполяция в область больших и малых концентраций может оказаться некорректной. Образцов сравнения должно быть не менее трех. Аппаратура и материалы Спектрограф средней дисперсии.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
