И.И. Назаренко, А.Н. Ермаков - Аналитическая химия Селена и Теллура (1108633), страница 33
Текст из файла (страница 33)
Давлетшин и Айдаров [131[ предложили вдувать порошки проб в разряд между горизонтально расположенными угольными электродами. Определение теллура в сере проводилось с использованием дуги переменного тока при ! = 20 а. Спектры регистрировали на фотопластинках типа П1 иа спектрографе ИСП-30. По линии Те 2385 А авторам удалось определить таким методом 5 1О '% Те. Метод вдувания образца применяли также при определении селена [982), По искровой линии Зе 3637,5 А чувствительность определения селена в анодных осадках составляла 0,1%. При использовании дуги переменного тока с подачей пробы просыпкой с воздушным дутьем удалось добиться гораздо более высокой чувствительности определения селена — 0,001 % [233, 427[. Регистрация интенсивных линий селеиа — Зе 1961 А и Зе 2150 А— проводилась на спектрографах ИСП-22 и ИСП-28.
Использовали пластинки типа П1, сенсибилизированные салицилатом натрия. Значительное повышение чувствительности спектрального определения теллура происходит при добавлении к пробе угольного порошка. При этом увеличивается скорость поступления пробы в разряд и повышается его эффективная температура. По данным 136 Юделевич и др. [266, 468)„чувствительность определения теллура в присутствии угольного порошка составляет 0,003%. Усиление интенсивности линии селена Зе 2039,85 А при добавлении СцО было отмечено в работах [592[ и [466).
При определении селена в продуктах переработки шламов [4661 применяли дугу переменного тока-(! =-- 10а), чунствительность определения составляла 0,02%. Определяя селен в пирите, халькопирите и марказите, спектр возбуждалн в дуговом разряде постоянного тока (! =- 12 а). Чувствительность определения селена по линии Зе 2039,85 А составляла 0,0015% [592). В качестве внутреннего стандарта использовали висмут. Этот элемент близок к селену по характеру поступления в дуговой разряд, потенциалу ионизации; кроме того, висмут имеет линии достаточной интенсивности вблизи линий селена: Ве 2039,85 А, В1 2041,96 А, В[ 2021,21 А.
Спектры регистрировались на спектрографе ИСП-22 с двухлинзовой системой освещения щели на специальных пластинках, сенсибилизированных салицилатом натрия для коротковолновой области. Для повышения чувствительности спектрального метода определения пронодятся химические реакции на электроде, приводящие к получению более летучих соединений этих элементов. Захария и сотр. [151, 1521 предложили метод «сульфидизации», применяя элементную серу в качестве «носителя». Чувствительность определения селеиа и теллура в рудах и минералах при этом повысилась до 5 10 "» Те и 2 !О '% Зе.
Пробы смешивали с элементной серой и помещали в глубокий кратер угольного электрода. Спектры возбуждали в дуге переменного тока (220 в, !2 а) и фотографировали на спектрографе ИСП-28. Определение селена и теллура проводилось по аналитическим линиям Те 2385,76 А, Зе 2039,85 А и Зе 2062,79 А. Фришберг и др. [265, 410[ предложили проводить предварительное «иодирование» пробы. Образующийся при этом иодистый теллур — легколетучее соединение. Температура угольного электрода (600 — 700' С) обеспечивает максимальную скорость испарен я иодистого теллура.
При такой низкой температуре электрода и инений. другие элементы пробы не образуют летучих иодистых соединени". Это способствует избирательному испарению теллура из про, п об поэтому результаты определения теллура в пробах руд мало зависят от их состава. В сульфидных рудах определяют до 3 10 "«Те. Применяя предварительную отгонку при 1900' С и сжигание кон енсата на угольном электроде в дуговом разряде переменного тока (! =- 6 а), можно определять теллур в пятиокиси ва д надия с чувствительностью 10 ' — !О '%. Спектры регистрируют на среднем кварцевом спектрографе [243). Предварительная отгонка примесей (в том числе и теллура) в вакууме при 1300' С с последующей конденсацией их на охлаждаемом электроде использовалась при анализе высокочистого кремния !165[.
Концентрирование селена сублимацией повысило чувстви- !37 тельность определении селена по дуговым линиям 2413 Л до 0,013(е [667[. Явление фракционированной отгонки соединений теллура вместе с летучими соединениями Хп, РЬ, В[ и Сс[ было использовано при определении теллура в продуктах цветной металлургии [54, 378). Пробы и эталоны смешивали в отношении 1: 5 с буферной смесью, состоящей из 75 г 2НО, 20 г РЬО, 10 г Ср[О и 5 г В1,0,.
Авторы рабе ты отмечают, что сульфат свинца повышает чувствительность определения теллура. Спектры возбуждали в дуговом разряде переменного тока (1О а) и фотографировали на кварцевом спектрографе ИСП-28. Чувствительность определения составляла 0,002'.а Те, Замечено, что присутствие в пробе хлоридов железа и свинца значительно повышает интенсивность линии теллура Те 2385 А 1265[. Наиболее эффективным методом повышения чувствительности спектральных методов определения селена и теллура является предварительное химическое обогащение. После осаждения теллура с Ре (ОН)3 и при последующем спектральном определении его в концентрате удалось определить 0,1 мкг Те по линии Те 2385 А на спектрографе ИСП-28. Спектры возбуждали в дуге переменного тока при 7 ==- 10 а [54).
Высокая чувствительность определения теллура в сере (5 10 "а) была достигнута за счет предварительной химической обработки: пробу серы растворяли в азотной кислоте, образовавшуюся серную кислоту удаляли выпариванием на электрической плитке, а остаток прокаливали прн 420' С, растворяли в 0,15 мл г!КОз (1: 1) и пропитывали этим раствором угольный электрод [311). Анализ проводили на спектрографе ИСП-28 по линии Те 2385 А. Спектр возбуждали в дуге переменного тока (1 = 8 а). При анализе меди и ее соединений химическое обогащение было достигнуто предварительнымэлектролитическимвыделениемосновного компонента — меди на платиновом электроде [27!.
После упарнвания электролита остаток прокалнвали при 550' С и помещали в кратер угольного электрода. Спектры возбуждали в дуге постоянного тока и фотографировали на спектрографе ИСП-28. Чувствительность определения теллура 1О-' — 10 наба. Прн спектральном определении примесей селена и ряда друтих элементов в металлическом титане, тантале, ниобии и ванадии применяли предварительное концентрирование примесей экстракцпей диэтилдитиокарбаматов хлороформом [247[. Полученные концентраты анализировали спектральным методом с использованием дуги постоянного тока (10 а, 220 в). Чувствительность метода составляла 5 1О ьню Рокенбауэр и др.
[1027) повысили чувствительность определения селена до 0,001аУа, используя для спектрального анализа остаток после химической обработки (пробы растворяли в НАВОЗ и соли высушивали). Спектры возбуждали в дуге постоянного тока при 220 в и 18 а. 138 При спектральном определении микроэлементов (в том числе и селена) в минеральных лечебных водах использовали предварительное концентрирование микроэлементов на ионообменной смоле [565[. Спектральный метод применяли при определенпи теллура в селене [1167[, сталях и сплавах Н40, 415), чистых металлах [184), свинцовых концентрациях и пылах 189, 441, 464, 465, 467), теллурнстом свинце [89[ и в других обьектах [810, 929, 1142[.
НЛАМЕННО-ФОТОМЕТРИЧЕСКИЕ, АТОМНО-АБСОРБЦИОННЫЕ И РЕНТГЕНОЗеЛУОРЕСЦЕНТНЫЕ МЕТОДЫ Пламенная фотометрия В литературе имеется несколько работ по пламенно-спектрофотометрическим методалз определения селена и теллура. Для серы, селена, теллура и полония основными состояниями являются Зрз— часть трнплета Зр,Зр,Зр,. Упрощенная картина электронных переходов для серы, селена н теллура [570), которые соответствуют спектральным резонансным линиям, представлена в табл.
17. Таблица 17 Спектральные резонансные лнннн (нм) Элентраннме перелеты Элемент зр, знг ~ зр„» знг Зр Зн а не ! 180,7 182,0 182,6 196 1 20е, 0 206 3 214,3 238,6 1 238,3 245,0 ( 417,0 ~ 300,3 8 Зе Те Ро 139 Линии переходов Зре — Зз .„, и Зр„— е Зз, не дают заметного поглоа о щения и флуоресценцн и для всех этих элементов. Для селена линии 196,1 и 204,0 нм абсорбируют сильно, а линия 206,3 нм — слабо. Линия 196,1 нм основного состояния абсорбирует в 5 раз сильнее, чем для Зр-состояния, которое лежит ниже на 0,25 эв основного состояния. Линия Те 214,3 нм абсорбирует примерно в 10 раз сильнее, чем линии 238,6 и 238,3 нм. Уровни Зр, и Зр, лежат на 0,6 эв ниже ЗРз Основного состОЯниЯ. В пламенно-эмиссионном методе определения теллура [620) использовали кислородно-ацетиленовое пламя.
В отличие от многих металлов, которые имеют слабые и плохие эмиссионные линии в пла- глг[О Рис. 29. Интенсивность эмиссионных спектральных линий теллура (1), используемых для количестиенного анализа мени, теллур дает эмиссионный спектр, пригодный для аналитического использования. Наиболее интенсивной является двойная линия 238,3 и 238,6 нм, хотя более удобны для практики линии 2!4,3 и 225,9 нм (рис. 29).
Чувствительность определения по линии 238,6 нлл равна 2 мкг/мл Те. Калибровочная кривая лннейна до 4 000 мкг/мл. Для отделения от других элементов применяли экстракцию комплекса теллура с днэтилдитиокарбаматом хлороформом из водного раствора при рН 4 в присутствии комплексона 1П. Чтобы улучшить чувствительность эмиссии, СС!, удаляли выпариванием досуха н остаток растворяли в метнлизобутилкетоне. Этот раствор вводили в пламя. Для определения теллура использовали пламенный спектрофотометр Векмана. В случае применения экстракции определению теллура не мешали В1, Сг (П1), Со, Сп, РЬ, Мп, Н!.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
