Диссертация (1024920), страница 14
Текст из файла (страница 14)
2015. Т.70, № 9. С. 957–967.71.Love G., Cox M.G., Scott V.D. A versatile atomic number correction forelectron-probe microanalysis // J. Phys. D: Appl. Phys. 1978. V.11. P.7–21.72.Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В. Рентгеноспектральный микроанализ в области M-краев поглощения // Журнал аналитической химии. 2009.Т.
64, N 10. С. 1063–1069.73.Pelssker E. Verglleich verschiedener Korrekturverfahren fur die quantitativeElectronen Trahilmikroanalyse // Microhim Acta. 1967. Suppl. 2. S.156–172.74.Castaing R., Descamps P., Philibert J. Optique des rayons-X et microanalyse// 4th International Conference on X-Ray Optics and Microanalysis. Paris:Hermann Publ, 1966.
P. 193.75.Карманов Н.С., Канакин С.В. , Карманова Н.Г. Учет фона в электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе с волновой дисперсией на основе моделирования тормозного рентгеновского излучения// Журнал аналитической химии. 2009. Т. 64. С. 387–395.76. Castaing R. Application of electron probe to local chemical and crystallographic analysis // Phis.
D: Thesis. Univ. of Paris. Paris, 1951. P.200.77. Reed S.J.B. Characteristic fluorescence correction in electron probe microanalysis // Brit. J. Appl. Phys. 1965. V.16, №7. P.913–926.78.Staub P.-F. IntriX: a Numerical model for electron probe analysis at lightdepth resolution. Pt I theoretical description // X-Ray Spectrom. 1998. V. 27,№1. P.43–57.79.Bote D., Llovet X., Salvat F. Monte Carlo simulation of characteristic x-rayemission from thick samples bombarded by kiloelectronvolt electrons// J.
Phys. D: Appl. Phys. 2008. V.41, №10. P. 1–9.10580.Llovet, X., Salvat F. PENEPMA, a Monte Carlo code for the simulation ofx-ray emission spectra using PENELOPE// ftp://ftp.geology.wisc.edu/johnf/probe/forEugene08/penepma%201.pdf (дата обращения: 01.02.2016).81. Llovet X., Salvat F., Fernandez-Varea J. M. Monte Carlo Simulation of Electron Transport and X-Ray Generation. II. Radiative Processes and Examplesin Electron Probe Microanalysis // Microchim.
Acta. 2004. P. 111–120.82. Tylko G. Geometry correction procedure for quantitative X-ray microanalysisof low-Z number matrices // IOP Conference Series: Materials Science andEngineering, 2011. V. 32. P. 1–7.83. Van Grieken R., Markowicz A.A. Handbook of X-Ray Spectrometry, SecondEdition, (Practical Spectroscopy).
New York: Marcel Dekker, 2002. 1004 p.84. Kato T. New Accurate Bence-Albee α-Factors for Oxides and Silicates Calculated from the PAP Correction Procedure // Geostandards and GeoanalyticalResearch. 2005. V. 29, №1. P. 83–94.85. Рентгеноспектральный микроанализ самородного золота/ Ю.Г. Лаврентьев [и др.] // Геология и геофизика. 1982. №2. С. 83–87.86. Geller D., Paul D.
Sample Preparation for Electron Probe Microanalysis—Pushing the Limits // Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology.2002. V.107. P. 627–638.87. Лаврентьев Ю.Г. Новые тенденции в рентгеноспектральном микроанализе минералов (обзор) // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2009. Т.75, №8.
С.4–10.88. Суворова Л.Ф. Изучение новых и редких минералов прибайкалья намикроанализаторах JXA-733 и JXA-8200 // Тез. докл.VII Всероссийскойконференция по рентгеноспектральному анализу. Новосибирск. 2011.С. 75.89. Хиллер В.В., Вотяков С.Л. Микроанализ ряда u-th-содержащих минералов на CAMECA SX 100 // Тез. докл.VII Всероссийской конференция порентгеноспектральному анализу. Новосибирск. 2011. С. 79.10690.
Quantitative WDS analysis using electron probe microanalyzer/ A. UL-Hamid [et al.] // Materials characterization. 2006. V. 56, №3.P. 192–199.91. Суворова Л.Ф., Конев А.А., Конева А.А. Методические особенности исследования редкометальноредкоземельных минералов методом рентгеноспектрального микроанализа // Методы и объекты химического анализа. 2006. Т.
1, № 1. С. 35–40.92. Сопоставление методов учета фона при электронно-зондовом микроанализе монацита для целей датирования / Н.С. Карманов [и др.] // Тез.докл.VII Всероссийской конференция по рентгеноспектральному анализу. Новосибирск. 2011. С. 59.93. Trace element analysis of olivine: High precision analytical method for JEOLJXA-8230 electron probe microanalyser/V.G. Batanova [et al.] / ChemicalGeology. 2015.
V. 419. P.149–157.94. Определение малых содержаний Ti в кварце методом электроннозондового рентгеноспектрального анализа / И.Г. Грибоедова [и др.] // VIIВсеросс. конф. по рентгеноспектральному анализу: Тез. докл. Новосибирск: СО РАН, 2011. С. 54.95. Павлова Л.А. О качестве результатов электронно-зондового рентгеноспектрального микроанализа // VII Всеросс.
конф. по рентгеноспектральному анализу: Тез. докл. Новосибирск: СО РАН, 2011. С. 67.96. Павлова Л.А., Парадина Л.Ф. Изучение байкальских губок методомэлектронно- зондового рентгеноспектрального микроанализа // VII Всеросс. конф. по рентгеноспектральному анализу: Тез. докл. Новосибирск:СО РАН, 2011. С. 69.97. Количественный рентгеноспектральный микроанализжаропрочныйсплавов на основе вольфрама /Д.С.
Киселев [и др.] // «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов» XXVI Российской конференции по электронноймикроскопии: Тез. докл. 2016. С. 340.10798. Galakhov V.R. Applcation of soft x-ray emission spectroscopy for the studyof solid-phase reactions in Si-based interfaces // X-Ray Spectrom. 2002.V.
31. P.203–208.99. Joy David C. Improving matrix corrections // Microchim. Аcta. 2002. V.138,№ 3-4. P. 105–113.100. Eggert F. EDX-Spectra Simulation in Electron Probe Microanalysis. Optimization of Excitation Conditions and Detection Limits // Microchim. Acta.2006. V. 155, Is.1. P. 129–136.101. Revenko A. G. Estimation and account for matrix effects in studying glassmaterials of cultural heritage by X-ray spectral analysis // X-Ray Spectrometry. 2010. V. 39.
P. 63–69.102. Kim K.J. Inter-laboratory comparison: Quantitative surface analysis of thinFe-Ni alloy films // Surface and Interface Analysis . 2012. V. 44, №2. P. 192–199.103. Ильин Н.П. Новые возможности рентгеноспектрального микроанализа// VII Всеросс. конф. по рентгеноспектральному анализу: Тез. докл. Новосибирск: СО РАН, 2011. С. 10.104.
Белозерова О.Ю., Голобокова Л.П. Применение рентгеноспектральногоэлектронно-зондового микроанализа при исследовании твердых частицатмосферных аэрозолей над акваторией озера байкал // VII Всеросс.конф. по рентгеноспектральному анализу: Тез. докл. Новосибирск: СОРАН, 2011. С .48.105. Электронно-микроскопические исследования повреждений поверхностиалюминиевого сплава амг6,вызванных выделенными на космическихстанциях микроорганизмами / Т.А.
Алехова [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2010. № 9.С. 49–55.106. Капля П. С. Cоздание высокоточных методов анализа твердых тел наоснове расшифровки данных электронной спектроскопии методами ин-108вариантного погружения: Дис. … канд. физ. мат. наук. Москва. 2016.136 с.107. Повышение точности анализа состава микрочастиц в РЭМ–РМА за счетснижения энергии электронов зонда и сглаживания их рельефа ионнымпучком/ В.Г.
Дюков [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2015. № 9. С. 58.108. Оценка предела обнаружения элементов в рентгеноспектральном микроанализе (РСМА) / И.М. Романенко [и др.] // Поверхность. Рентгеновские,синхротронные и нейтронные исследования.
2012. № 7. С. 72–79.109. Merlet C., Llovet X. New measurement of the surface ionization for quantitative electron probe microanalysis // X-Ray Spectrometry. 2011. V.40, №1.P.47–54.110. Боровский И.Б. Микроанализ и растровая электронная микроскопия// Аналитика и контроль. 2009. Т. 13, № 4. C.209–212.111. Оточноcтиэлектpонно-зондовогоанализапоpодообpазующиxминеpалов на микpоанализатоpе JXA-8100/ В.Н. Коpолюк [и др.] // Геология и геофизика. 2008. T.
49, № 3. C. 221–225.112. Степович М.А. Количественная катодолюминесцентная микроскопияпрямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники: Дис. …д-ра физ. мат. наук. Москва. 2003. 345 с.113. Михеев Н. Н., Степович М. А., Широкова Е. В. Функция распределенияпо глубине рентгеновского характеристического излучения при локальном электронно-зондовом анализе // Известия РАН. Серия физическая.2010. Т. 74, № 7. С. 1043–1047.114. Широкова Е.
В. Расчет сечения неупругого рассеяния киловольтныхэлектронов в конденсированном веществе // Наноматериалы-2009:Сборник трудов II Всероссийской школы-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых по направлению «Наноматериалы». Рязань:РГРТУ, 2009. Т. I. С. 84–89.109115. Широкова Е.В. Новый метод расчета функции распределения по глубине рентгеновского характеристического излучения при локальном электронно-зондовом анализе // Наноинженерия – 2009: Сборник трудовВторой Всероссийской Школы-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых по направлению «Наноинженерия».
Москва: МГТУ им.Н.Э. Баумана, 2009. С. 379–384.116. Широкова Е.В. Расчет сечения неупругого рассеяния киловольтныхэлектронов в конденсированном веществе // Микроэлектроника и информатика 2009: Труды 16-ой Всероссийской межвузовской научнотехнической конференции студентов и аспирантов. Москва. 2009. С. 71.117. Михеев Н.Н., Степович М.А, Широкова Е.В. Транспортная длина электронов средних энергий в веществе с низким средним атомным номером// XXIII Российская конференция по электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел: Тез. докл.
Черноголовка.2010. С.236.118. Широкова Е.В. Влияние неупругого рассеяния пучка электронов и пространственной симметрии протекания процесса многократного рассеяния на распределение рентгеновского характеристического излучения// Микроэлектроника и информатика 2010: Труды 17-ой Всероссийскоймежвузовской научно-технической конференции студентов и аспирантов. Москва.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
