Главная » Просмотр файлов » Диссертация

Диссертация (1024920), страница 13

Файл №1024920 Диссертация (Моделирование процессов возбуждения рентгеновского излучения при взаимодействии киловольтных электронов с конденсированным веществом) 13 страницаДиссертация (1024920) страница 132017-12-21СтудИзба
Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла (страница 13)

Washington: Natl. Acad. Sci., Natl. Res. Council. Publ. 1144, 1964.205 p.20.Михеев Н.Н. Наиболее вероятные и средние потери энергии пучка моноэнергетических заряженных частиц средней и низкой энергии в веществе при многократном рассеянии // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2010. №1. С.1–6.21.Reed S.J.B. Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology. New York: Cambridge University Press, 2005.

232 p.22. Poole D.M. Progress in the correction for the atomic number effect// Quantitative Electron Probe microanalysis. NBS, Spec. Publ. № 298. 1968.P. 93 – 131.23.Михеев Н.Н., Степович М.А., Широкова Е.В. Влияние выбора значениясреднего ионизационного потенциала при расчете матричной поправкинапоглощение// НаучныетрудырентгеновскогоКалужскогохарактеристическогогосударственногоизлученияуниверситета99им.К.Э. Циолковского. Естественные науки.

Калуга: КГУ им. К.Э. Циолковского, 2012. С.118–122.24. http://epmalab.uoregon.edu: сервер лаборатории микроанализа университета штата Оригона, США. URL.http://epmalab.uoregon.edu/calczaf.htm(дата обращения 21.04.2015).25. Kurt F. J. Heinrich Uncertainty in Quantitative Electron Probe Microanalysis// Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology.2002.

V.107. P. 483–485.26.Brown J.D., Parobek L. X-Ray production as a function of depth for lowelectron energies // X-Ray Spectrom. 1976. Vol. 5, №1. P. 36–40.27.Castaing R., Descamps J. Sur les bases physique de l`analyse ponctuelle parspectrographie // J.

Phys. Radium. 1955. Vol.16, №3. P.304–317.28.Karduck P., Rehbach W. Experimental determination of the depth distribution of Xray production φ(ρz) for X-ray energies below 1 keV // Microchim.Acta. 1985. Suppl. II. P. 289–297.29.Shimizu R., Murata K., Shinoda G. Depth distribution of characteristic X-rayin microanalyser target // Optique des rayons X et microanalyse. 1966. P.127–138.30.Лаврентьев Ю.Г., Королюк В.Н., Усова Л.В. Второе поколение методовкоррекции в рентгеноспектральном микроанализе: аппроксимационныемодели функции распределения излучения по глубине // Журнал аналитической химии. 2004. Т.59.

С. 678–696.31.Scott V.D., Love G. Formulation of a Universal Electron Probe Microanalysis Correction Method // X-ray Spectrometry. 1992. V. 21. P.27–35.32.Афонин В.П., Гуничева Т.Н., Пискунова Л.Ф. Рентгенофлуоресцентныйсиликатный анализ. Новосибирск: Наука. Сиб. Отд-ние, 1984. 227 с.33.Афонин В.П., Перфильева Л.А., Лаврентьев Ю.Г. Программа длярасчета на ЭВМ концентраций элементов при рентгеноспектральноммикроанализе проб разного химического состава // Ежегодник - 1970СибГНОХИ. Иркутск, 1971. С.

398–401.10034.Белозерова О.Ю., Афонин В.П., Финкельштейн А.Л. МодифицированнаябиэкпоненциальнаямодельиееприменениедляРСМАзолотосодержащих сплавов // Журнал аналитической химии. 1998. Т.53,№10. С. 1–6.35.Беневолевская Е.Б., Сорокин Н.Д. Оценка влияния входных параметровпри расчете поправки на атомный номер на точность и правильностьанализа //Восьмая Всесоюз. конф. по локальным рентгеноспектральнымисследованиям и их применению: Тез. докл. Черноголовка.

1982. С. 8 –10.36.Duncumb P. Correction procedures in electron probe microanalysis of bulksamples // Mikrochimica Acta. 1994. V.114/115. P. 3–20.37.Wittry D.B. Methods of quantitative electron probe analysis // Adv. In X-RayAnalysis. 1964. V.7. P. 73–115.38.Packwood R.H. A Gaussian expression to describe φ(ρz) curves for quantitative electron probe microanalysis // X-Ray Spectrom. 1981.

V. 10, № 3.P. 138–146.39.Brown J. D., Packwood R. H. Quantitative Electron Probe MicroanalysisUsing Gaussian φ(ρz) Curves // X-Ray Spectrom. 1982. V. 11, №. 4. P.187–193.40.Riveros J., Castellano G. Review of φ(ρz) Curves in Electron Probe Microanalysis // X-Ray Spectrom. 1993. V. 22. P. 3–10.41.Bastin G.F., Heijligers H.J.M., F.J.J. van Loo A further improvement in theGaussian φ(ρz) approach for matrix correction in quantitative electron probemivroanalysis // Scanning.

1986. V.8, №2. P. 45–67.42.Merlet C. Accurate description of surface ionization in electron probe microanalysis: an improved formulation // X-Ray Spectrom. 1992. V.21, №5.P. 229–238.43.Merlet C. An accurate computer correction program for quantitative electronprobe microanalysis // Microchim. Acta. 1994. V.114. P. 363–376.10144.Bastin G.F., Dijkstra J.M., Heijligers H.J.M. PROZA96: an Improved MatrixCorrection Program for Electron Probe Microanalysis, Based on a DoubleGaussian φ(ρz) Approach // X-Ray Spectrom. 1998.

V.27. P. 3–10.45.Boon G., Bastin G. Quantitative Analysis of Thin Specimens in the TEMUsing a φ(ρz)-Model // Microchim. Acta. 2004. V. 147. P. 125–133.46.PouchouJ. L., Pichoir F. A simplified version of the «PAP» model for matrixcorrections in EPMA // Microbeam Analysis. 1988. P. 315–318.47.Оточноcтиэлектpонно-зондовогоанализапоpодообpазующиxминеpалов на микpоанализатоpе JXA-8100 / В.Н. Коpолюк [и др.] // Геология и геофизика.

2008. Т. 49, № 3. C. 221–225.48. Лаврентьев Ю.Г. Научные совещания по рентгеновской спектроскопии ирентгеноспектральному анализу как отражение процесса становления иразвития отечественного рентгеноспектрального микроанализа // Аналитика и контроль. 2013. Т. 17, № 3. С. 252–274.49. Михеев Н.Н., Степович М.А. Распределение энергетических потерь привзаимодействии электронного зонда с веществом // Заводская лаборатория. 1996.

№ 4. С. 20–25.50. Михеев Н.Н., Степович М.А., Юдина С.Н. Спектры энергетических потерь пучка быстрых заряженных частиц, прошедших пленку веществазаданной толщины // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные инейтронные исследования. 2009. № 3. С. 53–57.51. Михеев Н.Н., Потылицын В.Н. , Захаров Б.Г. Пространственное распределение энергетических потерь киловольтных электронов в массивныхмишенях // Тез. докл.

VI Всесоюзн. симпоз. по растровой электронноймикроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Москва. 1989. С. 56.52. Измерение диффузионной длины и времени жизни свободных экситоновв нитриде галлия катодолюминесцентным методом при различных условияхвозбуждениялюминесценции/ Н.А. Никифорова[идр.]102// Поверхность.

Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2015. № 8. С. 84–88.53. Об одной возможности математического моделирования зависимостиинтенсивности катодолюминесценции от энергии электронов пучка приидентификации параметров полупроводниковых материалов с использованием аппроксимации степенными рядами / Т. И. Ковтунова [и др.]// Поверхность.

Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2010. № 9. С. 95–100.54. Михеев Н.Н., Поляков А.Н., Степович М.А. О возможности использования конфлюэнтного анализа в катодолюминесценции микроскопии интервального оценивания диффузионной длины неосновных носителейзаряда и глубины поверхности области, обедненной основными носителями заряда. Результаты математического моделирования // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2009.№ 10.

С. 87–92.55. Some features of estimation of the diffusion length of minority carriers incathodoluminescence microscopy / Yu.E. Gagarin [et al.] // Рroceedings ofthe international conference on advanced optoelectronics and lasers, Caol.2013.P. 344–345.56. О выборе начального приближения в методе конфлюэнтного анализадля катодолюминесцентной идентификации параметров прямозонныхполупроводниковых материалов при квадратичной рекомбинации неосновных носителей заряда/Н.А. Никифорова [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2013. № 11. С.60–64.57.

Поляков А. Н. Разработка катодолюминесцентных методов изученияфизических свойств прямозонных полупроводниковых материалов: Дис.… канд. физ. мат. наук. Москва. 2011. 120 с.58. Mikheev N.N., Nikiforova N.A., Ganchev A.S. Lateral distribution of the energy losses of an electron beam in a substance at normal incidence of charged103particles on the sample surface // Journal of Surface Investigation: X-Ray,Synchrotron and Neutron Techniques. 2015. Т.

9, № 5. С. 923–928.59. Arnould O., Hild F. Specific effects and deconvolution in submicrometreEPMA: application to binary diffusion // X-Ray Spectrometry. 2003. V.32.P. 345–362.60.Chan F., Brown J.D. Simulation and modeling of thin film φ(ρz) curves forelectron probe microanalysis // X-Ray Spectrom.1997. Vol.26, № 5. C. 279–290.61.Павлова Л.А. Развитие методов учета матричных эффектов при рентгеноспектральном микроанализе минерального вещества: Дис. ... канд.хим. наук. Иркутск. 1985. 178с.62.Pouchou J.-L., Pichoir F.

Quantitative analysis of homogeneous or stratifiedmicrovolumes applying the model 'PAP'. Electron Probe Quantitation// PlenumPress. New York. 1991. P.31–77.63.Trincavelli J., Castellano G. MULTI: an Interactive Program for Quantitation in EPMA X-Ray spectrometry // X-Ray Spectrom. 1999. V.28. P. 194–197.64.Philibert J. The Microsonde in metallurgical and Mineralogical research// Inst metals.

1961. V. 90. P. 241–252.65.Andersen C.A. , Wittry D.B. An evolution of absorption correction for electron probe microanalysis // J. Phis. D: Phis. 1968. Vol 1. P.159–540.66.Tong M. Methode de correction et microanalyse // J. Microscopie. 1969.V.8, №3. P. 276–306.67.Ruste J., Zeller C. R. Correction d`absorbtion en microanalyse // Acad. Sci.Paris. 1977. V.

284B. P.507–510.68.Tanuma S., Nagashima K. An improved absorption correction based on aGaussian ionization distribution model for electron microprobe microanalysis// Spectrochim. Acta. 1981. V.36B. P.757–761.10469.Duncumb P., Reed S.J.B. The calculation of stopping power and backscattereffects in electron probe microanalysis // Quantitative Electron Probe Microanalysis NBS: Spec. Publ. Washington, 1968. N 298. P. 133–154.70.Ильин Н. П. Поправка на атомный номер в рентгеноспектральном микроанализе по спектру отраженных электронов // Журнал аналитическойхимии.

Характеристики

Список файлов диссертации

Свежие статьи
Популярно сейчас
А знаете ли Вы, что из года в год задания практически не меняются? Математика, преподаваемая в учебных заведениях, никак не менялась минимум 30 лет. Найдите нужный учебный материал на СтудИзбе!
Ответы на популярные вопросы
Да! Наши авторы собирают и выкладывают те работы, которые сдаются в Вашем учебном заведении ежегодно и уже проверены преподавателями.
Да! У нас любой человек может выложить любую учебную работу и зарабатывать на её продажах! Но каждый учебный материал публикуется только после тщательной проверки администрацией.
Вернём деньги! А если быть более точными, то автору даётся немного времени на исправление, а если не исправит или выйдет время, то вернём деньги в полном объёме!
Да! На равне с готовыми студенческими работами у нас продаются услуги. Цены на услуги видны сразу, то есть Вам нужно только указать параметры и сразу можно оплачивать.
Отзывы студентов
Ставлю 10/10
Все нравится, очень удобный сайт, помогает в учебе. Кроме этого, можно заработать самому, выставляя готовые учебные материалы на продажу здесь. Рейтинги и отзывы на преподавателей очень помогают сориентироваться в начале нового семестра. Спасибо за такую функцию. Ставлю максимальную оценку.
Лучшая платформа для успешной сдачи сессии
Познакомился со СтудИзбой благодаря своему другу, очень нравится интерфейс, количество доступных файлов, цена, в общем, все прекрасно. Даже сам продаю какие-то свои работы.
Студизба ван лав ❤
Очень офигенный сайт для студентов. Много полезных учебных материалов. Пользуюсь студизбой с октября 2021 года. Серьёзных нареканий нет. Хотелось бы, что бы ввели подписочную модель и сделали материалы дешевле 300 рублей в рамках подписки бесплатными.
Отличный сайт
Лично меня всё устраивает - и покупка, и продажа; и цены, и возможность предпросмотра куска файла, и обилие бесплатных файлов (в подборках по авторам, читай, ВУЗам и факультетам). Есть определённые баги, но всё решаемо, да и администраторы реагируют в течение суток.
Маленький отзыв о большом помощнике!
Студизба спасает в те моменты, когда сроки горят, а работ накопилось достаточно. Довольно удобный сайт с простой навигацией и огромным количеством материалов.
Студ. Изба как крупнейший сборник работ для студентов
Тут дофига бывает всего полезного. Печально, что бывают предметы по которым даже одного бесплатного решения нет, но это скорее вопрос к студентам. В остальном всё здорово.
Спасательный островок
Если уже не успеваешь разобраться или застрял на каком-то задание поможет тебе быстро и недорого решить твою проблему.
Всё и так отлично
Всё очень удобно. Особенно круто, что есть система бонусов и можно выводить остатки денег. Очень много качественных бесплатных файлов.
Отзыв о системе "Студизба"
Отличная платформа для распространения работ, востребованных студентами. Хорошо налаженная и качественная работа сайта, огромная база заданий и аудитория.
Отличный помощник
Отличный сайт с кучей полезных файлов, позволяющий найти много методичек / учебников / отзывов о вузах и преподователях.
Отлично помогает студентам в любой момент для решения трудных и незамедлительных задач
Хотелось бы больше конкретной информации о преподавателях. А так в принципе хороший сайт, всегда им пользуюсь и ни разу не было желания прекратить. Хороший сайт для помощи студентам, удобный и приятный интерфейс. Из недостатков можно выделить только отсутствия небольшого количества файлов.
Спасибо за шикарный сайт
Великолепный сайт на котором студент за не большие деньги может найти помощь с дз, проектами курсовыми, лабораторными, а также узнать отзывы на преподавателей и бесплатно скачать пособия.
Популярные преподаватели
Добавляйте материалы
и зарабатывайте!
Продажи идут автоматически
6367
Авторов
на СтудИзбе
309
Средний доход
с одного платного файла
Обучение Подробнее