Диссертация (1024920), страница 13
Текст из файла (страница 13)
Washington: Natl. Acad. Sci., Natl. Res. Council. Publ. 1144, 1964.205 p.20.Михеев Н.Н. Наиболее вероятные и средние потери энергии пучка моноэнергетических заряженных частиц средней и низкой энергии в веществе при многократном рассеянии // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2010. №1. С.1–6.21.Reed S.J.B. Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology. New York: Cambridge University Press, 2005.
232 p.22. Poole D.M. Progress in the correction for the atomic number effect// Quantitative Electron Probe microanalysis. NBS, Spec. Publ. № 298. 1968.P. 93 – 131.23.Михеев Н.Н., Степович М.А., Широкова Е.В. Влияние выбора значениясреднего ионизационного потенциала при расчете матричной поправкинапоглощение// НаучныетрудырентгеновскогоКалужскогохарактеристическогогосударственногоизлученияуниверситета99им.К.Э. Циолковского. Естественные науки.
Калуга: КГУ им. К.Э. Циолковского, 2012. С.118–122.24. http://epmalab.uoregon.edu: сервер лаборатории микроанализа университета штата Оригона, США. URL.http://epmalab.uoregon.edu/calczaf.htm(дата обращения 21.04.2015).25. Kurt F. J. Heinrich Uncertainty in Quantitative Electron Probe Microanalysis// Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology.2002.
V.107. P. 483–485.26.Brown J.D., Parobek L. X-Ray production as a function of depth for lowelectron energies // X-Ray Spectrom. 1976. Vol. 5, №1. P. 36–40.27.Castaing R., Descamps J. Sur les bases physique de l`analyse ponctuelle parspectrographie // J.
Phys. Radium. 1955. Vol.16, №3. P.304–317.28.Karduck P., Rehbach W. Experimental determination of the depth distribution of Xray production φ(ρz) for X-ray energies below 1 keV // Microchim.Acta. 1985. Suppl. II. P. 289–297.29.Shimizu R., Murata K., Shinoda G. Depth distribution of characteristic X-rayin microanalyser target // Optique des rayons X et microanalyse. 1966. P.127–138.30.Лаврентьев Ю.Г., Королюк В.Н., Усова Л.В. Второе поколение методовкоррекции в рентгеноспектральном микроанализе: аппроксимационныемодели функции распределения излучения по глубине // Журнал аналитической химии. 2004. Т.59.
С. 678–696.31.Scott V.D., Love G. Formulation of a Universal Electron Probe Microanalysis Correction Method // X-ray Spectrometry. 1992. V. 21. P.27–35.32.Афонин В.П., Гуничева Т.Н., Пискунова Л.Ф. Рентгенофлуоресцентныйсиликатный анализ. Новосибирск: Наука. Сиб. Отд-ние, 1984. 227 с.33.Афонин В.П., Перфильева Л.А., Лаврентьев Ю.Г. Программа длярасчета на ЭВМ концентраций элементов при рентгеноспектральноммикроанализе проб разного химического состава // Ежегодник - 1970СибГНОХИ. Иркутск, 1971. С.
398–401.10034.Белозерова О.Ю., Афонин В.П., Финкельштейн А.Л. МодифицированнаябиэкпоненциальнаямодельиееприменениедляРСМАзолотосодержащих сплавов // Журнал аналитической химии. 1998. Т.53,№10. С. 1–6.35.Беневолевская Е.Б., Сорокин Н.Д. Оценка влияния входных параметровпри расчете поправки на атомный номер на точность и правильностьанализа //Восьмая Всесоюз. конф. по локальным рентгеноспектральнымисследованиям и их применению: Тез. докл. Черноголовка.
1982. С. 8 –10.36.Duncumb P. Correction procedures in electron probe microanalysis of bulksamples // Mikrochimica Acta. 1994. V.114/115. P. 3–20.37.Wittry D.B. Methods of quantitative electron probe analysis // Adv. In X-RayAnalysis. 1964. V.7. P. 73–115.38.Packwood R.H. A Gaussian expression to describe φ(ρz) curves for quantitative electron probe microanalysis // X-Ray Spectrom. 1981.
V. 10, № 3.P. 138–146.39.Brown J. D., Packwood R. H. Quantitative Electron Probe MicroanalysisUsing Gaussian φ(ρz) Curves // X-Ray Spectrom. 1982. V. 11, №. 4. P.187–193.40.Riveros J., Castellano G. Review of φ(ρz) Curves in Electron Probe Microanalysis // X-Ray Spectrom. 1993. V. 22. P. 3–10.41.Bastin G.F., Heijligers H.J.M., F.J.J. van Loo A further improvement in theGaussian φ(ρz) approach for matrix correction in quantitative electron probemivroanalysis // Scanning.
1986. V.8, №2. P. 45–67.42.Merlet C. Accurate description of surface ionization in electron probe microanalysis: an improved formulation // X-Ray Spectrom. 1992. V.21, №5.P. 229–238.43.Merlet C. An accurate computer correction program for quantitative electronprobe microanalysis // Microchim. Acta. 1994. V.114. P. 363–376.10144.Bastin G.F., Dijkstra J.M., Heijligers H.J.M. PROZA96: an Improved MatrixCorrection Program for Electron Probe Microanalysis, Based on a DoubleGaussian φ(ρz) Approach // X-Ray Spectrom. 1998.
V.27. P. 3–10.45.Boon G., Bastin G. Quantitative Analysis of Thin Specimens in the TEMUsing a φ(ρz)-Model // Microchim. Acta. 2004. V. 147. P. 125–133.46.PouchouJ. L., Pichoir F. A simplified version of the «PAP» model for matrixcorrections in EPMA // Microbeam Analysis. 1988. P. 315–318.47.Оточноcтиэлектpонно-зондовогоанализапоpодообpазующиxминеpалов на микpоанализатоpе JXA-8100 / В.Н. Коpолюк [и др.] // Геология и геофизика.
2008. Т. 49, № 3. C. 221–225.48. Лаврентьев Ю.Г. Научные совещания по рентгеновской спектроскопии ирентгеноспектральному анализу как отражение процесса становления иразвития отечественного рентгеноспектрального микроанализа // Аналитика и контроль. 2013. Т. 17, № 3. С. 252–274.49. Михеев Н.Н., Степович М.А. Распределение энергетических потерь привзаимодействии электронного зонда с веществом // Заводская лаборатория. 1996.
№ 4. С. 20–25.50. Михеев Н.Н., Степович М.А., Юдина С.Н. Спектры энергетических потерь пучка быстрых заряженных частиц, прошедших пленку веществазаданной толщины // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные инейтронные исследования. 2009. № 3. С. 53–57.51. Михеев Н.Н., Потылицын В.Н. , Захаров Б.Г. Пространственное распределение энергетических потерь киловольтных электронов в массивныхмишенях // Тез. докл.
VI Всесоюзн. симпоз. по растровой электронноймикроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Москва. 1989. С. 56.52. Измерение диффузионной длины и времени жизни свободных экситоновв нитриде галлия катодолюминесцентным методом при различных условияхвозбуждениялюминесценции/ Н.А. Никифорова[идр.]102// Поверхность.
Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2015. № 8. С. 84–88.53. Об одной возможности математического моделирования зависимостиинтенсивности катодолюминесценции от энергии электронов пучка приидентификации параметров полупроводниковых материалов с использованием аппроксимации степенными рядами / Т. И. Ковтунова [и др.]// Поверхность.
Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2010. № 9. С. 95–100.54. Михеев Н.Н., Поляков А.Н., Степович М.А. О возможности использования конфлюэнтного анализа в катодолюминесценции микроскопии интервального оценивания диффузионной длины неосновных носителейзаряда и глубины поверхности области, обедненной основными носителями заряда. Результаты математического моделирования // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2009.№ 10.
С. 87–92.55. Some features of estimation of the diffusion length of minority carriers incathodoluminescence microscopy / Yu.E. Gagarin [et al.] // Рroceedings ofthe international conference on advanced optoelectronics and lasers, Caol.2013.P. 344–345.56. О выборе начального приближения в методе конфлюэнтного анализадля катодолюминесцентной идентификации параметров прямозонныхполупроводниковых материалов при квадратичной рекомбинации неосновных носителей заряда/Н.А. Никифорова [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2013. № 11. С.60–64.57.
Поляков А. Н. Разработка катодолюминесцентных методов изученияфизических свойств прямозонных полупроводниковых материалов: Дис.… канд. физ. мат. наук. Москва. 2011. 120 с.58. Mikheev N.N., Nikiforova N.A., Ganchev A.S. Lateral distribution of the energy losses of an electron beam in a substance at normal incidence of charged103particles on the sample surface // Journal of Surface Investigation: X-Ray,Synchrotron and Neutron Techniques. 2015. Т.
9, № 5. С. 923–928.59. Arnould O., Hild F. Specific effects and deconvolution in submicrometreEPMA: application to binary diffusion // X-Ray Spectrometry. 2003. V.32.P. 345–362.60.Chan F., Brown J.D. Simulation and modeling of thin film φ(ρz) curves forelectron probe microanalysis // X-Ray Spectrom.1997. Vol.26, № 5. C. 279–290.61.Павлова Л.А. Развитие методов учета матричных эффектов при рентгеноспектральном микроанализе минерального вещества: Дис. ... канд.хим. наук. Иркутск. 1985. 178с.62.Pouchou J.-L., Pichoir F.
Quantitative analysis of homogeneous or stratifiedmicrovolumes applying the model 'PAP'. Electron Probe Quantitation// PlenumPress. New York. 1991. P.31–77.63.Trincavelli J., Castellano G. MULTI: an Interactive Program for Quantitation in EPMA X-Ray spectrometry // X-Ray Spectrom. 1999. V.28. P. 194–197.64.Philibert J. The Microsonde in metallurgical and Mineralogical research// Inst metals.
1961. V. 90. P. 241–252.65.Andersen C.A. , Wittry D.B. An evolution of absorption correction for electron probe microanalysis // J. Phis. D: Phis. 1968. Vol 1. P.159–540.66.Tong M. Methode de correction et microanalyse // J. Microscopie. 1969.V.8, №3. P. 276–306.67.Ruste J., Zeller C. R. Correction d`absorbtion en microanalyse // Acad. Sci.Paris. 1977. V.
284B. P.507–510.68.Tanuma S., Nagashima K. An improved absorption correction based on aGaussian ionization distribution model for electron microprobe microanalysis// Spectrochim. Acta. 1981. V.36B. P.757–761.10469.Duncumb P., Reed S.J.B. The calculation of stopping power and backscattereffects in electron probe microanalysis // Quantitative Electron Probe Microanalysis NBS: Spec. Publ. Washington, 1968. N 298. P. 133–154.70.Ильин Н. П. Поправка на атомный номер в рентгеноспектральном микроанализе по спектру отраженных электронов // Журнал аналитическойхимии.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
