Диссертация (1024920), страница 15
Текст из файла (страница 15)
2010. С. 57.119. Михеев Н.Н., Степович М.А., Широкова Е.В. Влияние пространственной симметрии процесса многократного рассеяния электронов на функцию распределения по глубине рентгеновского характеристического излучения при локальном электронно-зондовом анализе // Радиационнаяфизика твердого тела: Труды XX Международного совещания. Москва:НИИ ПТМ, 2010. Т. 2. C.
440–446.120. Михеев Н.Н.,Степович М.А, Широкова Е.В. Пространственное распределение потерь энергии пучка электронов в веществе при многократномрассеянии // XXIII Российская конференция по электронной микроско-110пии И аналитическим методам исследования твердых тел: Тез. докл.Черноголовка. 2010.
С. 235.121. Gaber M., Fitting H.-J. Maximum depth of characteristic X-Ray generation// Phys. Stat. Sol (a). 1985. V.90. P. 669–674.122. X-ray production range in solids by 2-15 keV electrons / W. Reuter [et al.]// J. Phys. D: Appl. Phys. 1978. P. 2633–2642.123. Castaing R. Electron probe microanalysis // Adv. Electron. Electron Phys.1960. V.13. P. 317–385.124. Vignes A., Dez G.
Distribution in depth of primary-X-ray emission in anticathodes of titanium and lead // J. Phys. D. 1968. V. 1. P. 1309–1322.125. Михеев Н.Н., Никифорова Н.А., Ганчев А.С. Латеральное распределение потерь энергии пучка электронов в веществе при нормальном падении заряженных частиц на поверхность образца // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2015. № 9. С. 64.126. Широкова Е. В. Применение функции распределения рентгеновскогохарактеристического излучения для исследования структуры материалов// Сборник научных работ лауреатов конкурсов на соискание областныхименных премий и стипендий. Выпуск 11. Калуга: КГИРО, 2015. С.37–42.127. Расчет поправки на поглощение в рентгеноспектральном микроанализе/ Е.В.
Широкова [и др.] // Труды МФТИ. 2013. Т. 5, № 1. С. 68–71.128. Михеев Н.Н., Степович М.А, Широкова Е.В. Новый способ расчета матричных поправок в рентгеноспектральном микроанализе // Проблемыэлектронной и ионной оптики: Труды десятого Всероссийского семинара. Москва. 2011. С.29.129. Phillibert J. A method for calculating the absorption correction in electronprove microanalysis // 3rd Internat Sympos.
X-Ray Optics, X-Ray Microanalysis. New York, Academic Press, 1963. P. 379.130. Михеев Н.Н., Степович М.А., Широкова Е.В. Учет матричных эффектовпри локальном электронно-зондовом анализе с использованием новой111модели функции распределения по глубине рентгеновского характеристического излучения // Известия РАН. Серия физическая. 2012. Т. 76,№ 9. С. 1112–1115.131. Михеев Н. Н., Степович М. А., Широкова Е. В. Новый способ расчетаматричных поправок в рентгеноспектральном микроанализе // Прикладная физика.
2012. № 2. С. 31–35.132. Учет матричных эффектов при измерениях методом рентгеноспектрального микроанализа / Е.В. Широкова [и др.] // Измерительная техника.2013. № 7. С. 58–61.133. Методика количественного рентгеноспектрального микроанализа с учетом матричных эффектов / Е.В. Широкова [и др.] // Перспективные материалы. 2014. № 2. С. 77–82.134. Макаров В.В. Пространственное распределение плотности возбужденияв твердых телах, бомбардируемых электронами с энергией 0,5-500 кэВ// ЖТФ. 1978. Т.
48, №. 3. С. 551–555.135. Matsukava T., Murata K., Shimizu R. Investigation of electron penetrationand X-ray production in solid targets // Phys. Status. Solid (b) 1973. V. 55P.371–383.136. Сеннов Р.А. Развитие методов микротомографии и определение среднейэнергии электронов, отраженных от многослойных микроструктур: Дис.… канд. физ-мат. наук. Черноголовка. 2005. 133с.137. Дарьян Ж., Кастен Р. Экспериментальное определение поправки на обратное рассеяние // Основы рентгеноспектрального локального анализа/ Пер. под ред.
И.Б. Боровского. М.: Наука, 1973. 311 с.138. Широкова Е.В., Степович М.А., Филиппов М.Н. Использование новыхматричных поправок в КРСМА для исследования состава Ti-B // XLVIмеждународная Тулиновская конференция по физике взаимодействиязаряженных частиц с кристаллами: Тез. докл. 2016.
С. 71.139. Широкова Е.В., Степович М.А. Оценка использования новых матричныхпоправок в КРСМА // «Современные методы электронной и зондовой112микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов» XXVIРоссийской конференции по электронной микроскопии: Тез. докл. 2016.С.146.140. Mikheev N.N., Stepovich M.A., Shirokova E.V. Allowing for matrix effectsin local electron-probe analysis using a new model of the distribution functionfor the depth of characteristic x-ray radiation // Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 2012. Т.
76. № 9. С. 974–977.141. Merlet C., Llovet X. Uncertainty and capability of quantitative EPMA at lowvoltage - A review // Materials Science and Engineering 32. 2012. P. 1-15.142. Low-Voltage Electron-Probe Microanalysis of Fe–Si Compounds Using SoftX-Rays /P. Gopon [et al.] // Microscopy and Microanalysis. 2013. V. 19.P. 1698–1708.143. Robin G. Modern Analytical Geochemistry: An Introduction to QuantitativeChemical Analysis Techniques for Earth, Environmental and Materials Scientists. New York: Routledge, 2014.
342 p.144. Романенко И.М., Петров Д.Б. Влияние Mζ-линий элементов от Nd до Uна результаты электронно-зондового микроанализа // Поверхность.Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2005. № 10. С. 24.145. Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В. Теоретические коэффициенты поглощенияв рентгеноспектральном микроанализе //Аналитика и контроль. 2016.Т. 20. № 1. С. 15–22.146. Михеев Н.Н.
Определение значений массовых коэффициентов ослабления рентгеновских линий, расположенных вблизи краев поглощения, порезультатам рентгеноспектрального анализа бинарных соединений, известного состава // «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов» XXVI Российской конференции по электронной микроскопии: Тез. докл. 2016.С.512.147. Новый подход к определению массового коэффициента поглощения приРФА тонких Ti/Fe пленок /Машин Н.И. [и др.] //«Актуальные проблемы113химической науки, практики и образования» Международная научнопрактическая конференция: Труды конф. 2011.
С.128–132.148. Горшков В.А Массовый коэффициент поглощения и эффективныйатомный номер многокомпонентного объекта для непрерывного спектраизлучения // Контроль. Диагностика . 2015. №6. C. 34–40.149. Пул Д. в книге: «Основы рентгеноспектрального локального анализа»,перевод с англ., под ред. И.Б. Боровского. М.: Наука, 1973. С. 28–68.150. Zeibold T.O.
Тernary diffusion in copper-silver-gold alloys // Ph. D. Thesis.Massachusetts Institute of Technology, 1965. 157 p.151. Методика количественного рентгеноспектрального микроанализа с учетом матричных эффектов/ Е.В. Широкова [и др.] // Перспективные материалы. 2014. № 2. С. 77–82.152. Михеев Н.Н., Степович М.А., Широкова Е.В. Распределение среднихпотерь энергии пучка электронов по глубине образца: применение в задачах количественного рентгеноспектрального микроанализа // Поверхность.
Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования.2013. № 12. С. 84–89.114ПРИЛОЖЕНИЯ115116.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
