Часть 5 (1125043), страница 11
Текст из файла (страница 11)
Информация, получаемая из анализа диффузногорассеяния. Метод интегральных характеристик.13. Двухкристальный спектрометр. Схемы спектрометров n-n и n+n.В чем состоит их принципиальное различие.14. Рентгеновская дифракционная микроскопия. Основные методырентгеновской топографии. Метод Ланга. Основные характеристикиметодов. Разрешение.15. Классификация типовтопографических методов.контраста.Примерыприменения16. Рентгеновская дифракционная микроскопия. Чувствительность кискажениям, разрешение.
«Комбинированное искажение» и егофизический смысл. Простейшие методы анализа изображения (методпогасания контраста gb=0). Примеры применения топографическихметодов.17. Основные характеристики оптических систем (разрешение,увеличение, глубина резкости, аберрации). Типы контраста(амплитудный и фазовый контраст).18. Формирование изображения в оптической системе- подход Аббе.Микроскоп как дифракционный прибор.
Передаточная функция.Учет искажений при передаче изображения.19. Физические основы метода фазового микроскопа. Что такоечетвертьволновая пластинка и для чего она используется.Фазовотемнопольный микроскоп.20. “Тонкий” фазовый объект в электронной микроскопии. Анализаберраций в электронном микроскопе. Анализ передаточнойфункции электронного микроскопа.20921. Оптимизация передаточной функции электронного микроскопадля получения наилучшего разрешения. Дефокусировка. МетодШерцера.22.
Основные закономерности взаимодействия электронов зонда свеществом. Упругие и неупругие взаимодействия. Потери энергииэлектронов. Область взаимодействия электронов зонда с веществоммишени.23. Устройство и принцип работы РЭМ. Формированиеэлектронного зонда, кроссовер, конденсор. Детекторы сигналов вРЭМ. Детектор Эверхарта-Торнли.24. Рентгеновский спектр, непрерывная и характеристическаякомпоненты спектра. Физический смысл коротковолновой границыспектра (Граница Дуана-Ханта). Закон Мозли.25. Рентгеновский спектр. Методы регистрации рентгеновскогоспектра.
Рентгеновские кристалл-дифракционные спектрометры длямикроанализа. Методы фокусировки рентгеновского пучка.26.Рентгеновскиймикроанализ.рентгеновского спектра. Основныеколичественном анализе.Методыпоправки,регистрациивводимые в27. Формирование контраста в РЭМ. Основные механизмыобразования изображения в РЭМ. Методы обработки видеосигнала вРЭМ.28. Принципы электронно-зондового микроанализа.
Закон Мозли.Методы анализа рентгеновского спектра (спектрометры). Два типарентгеновских микроанализаторов.29. Факторы влияющие на точность рентгеновского микроанализаатомного состава материалов. Поправки вводимые при анализе.Метод эталонов.30. Метод оптического дифрактометра для экспериментальногоисследования передаточной функции.
Примеры использованияметодов электронной микроскопии высокого разрешения..
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
