А.П. Виноградов - Аналитическая химия Фосфора (1113392), страница 39
Текст из файла (страница 39)
Стаканчик с пробой медленяо нагревают в течение 30 сек. до 1000' С и по прекращении выделения желтоватых паров МоОз устанавливают приемник ва расстоянии 3 мм от стаканчика. Далее за 1 мин. температуру стаканчика повышают до 2000' С и в течение 2 мип. собирают' испаряющиеся примеси на приемнике. В это время температура стаканчика (по показаниям пирометра ОППИР-09) должна достигать 2200 — 2300' С.
Спектры возбуждают в искровом разряде от генератора ИГ-2 (сложная схема) при силе тока 1,4 а, индуктивности 0,15 .злгл, емкости 1 аф и величине аналитического промежутка 2 мм. Для регистрации спектра испольвуют спектрограф средцей дисперсии (ширина щели 0,015 ля) с экспозицией 20 сек. Эталоны готовят иэ спектрально чистой МоОз и (ХНт),НРОо Аналитическая пара ливий Р 255,3 — Ап 267,6. Градуировочные графики строят в координатах Я вЂ” 18С или Ьб — 18 С. Среднеквадратичная ошибка определении 10 — 20 отн.
%. Определение фосфора в уране и его соединениях обычно проводят с предварительным отделением основного компонента дистилляционными или зкстракционными способами [619, 855, 1017, 1087!. При дистилляции с носителем [1017) образцы металлического урана переводят нагреванием прн 800' С в течение 2 час. в 1),О„, 240лг полученногоокисла смешивают с 10 мг А8С) и 50 мг смеси помещают в угольные тиглн диаметром 6 мм с глубиной отверстия 8 мм и диаметром 3,6 мм. Тигли с пробами равогревают 150 сек. при 2000' С и собирают примеси в течение 90 сек. на подставной электрод, расположенный на расстоянии 1,5 мм от тигля. Спектры воабуждают в дуге постоянного тока силой 6 а н фотографируют спектрографом повышенной дисперсии при ширине щели 0,01 мм.
Применение в качестве носителЯ пРи аваливе НзОз смеси АдС) с Аду (4: 1) [855[ повышает чУвствительность и точяость измерений. Определение фосфора в платине производят в дуге постоянного или переменного тока силой 7 а на спектрографе повышенной дисперсии. Пробу помещают в отверстие нижнего угольного электрода. Противо- электрод, заточенный нз усеченныйконус, располагают на расстоянии 2 мч от нижнего. 1Пирина щели спектрографа 0,025 мм, продолжительность вкспонирования 2 мин. Эталоны готовят тщательным переметниванпем порошка платины с примесями (общая сумма' примесей - 0,5%) с последующим брикетн- рованием смеси под давлением 2,5 ш/см'.
Чувствительность определения фос- фора 1 10-зе4. Спектральное определение весьма малых количеств фосфора в окиси бериллия производят без предварительного концентриро- вания [36[. П б, ро у окиси бериллия, разбавленную угольным порошком в отношении 3:1, а : 1, н носят с помощью раствора коллодиа в зтаноле на боковую поверхность графитового цилиндра диаметром 40 мм и длиной 80 мм. Высушенные в тече- ние 15 — 20 мнн. при температуре 100 — 150' С цилиндры с пробой служат нижними электродами обрывной дуги переменного тока (генератор ДГ-1 с прерыватслем). Цилиндрический электрод приводится во вращательно-посту- пательное движение со скоростью перемещення поверхности 0,2 см/сел. Верх- ний угольный электрод имеет диаметр 6 жл и аналитический промежуток 2 мм. П л родолжительность горения дуги и пауза равны 0,5 сек.
Спектры регистри- руют на спектрографе средней дисперсии при ширине щели 0,02 мм и токе 14 а. Продолжительность зкспонированин3 мин. Фотопластинки аспектрогра- фическиев, тип 1Н, предварительно сенсвбнлизнрованные в 20%-ном раста~ ре этанола. Эталоны готовят растиранием Снз(РОз)з с чистой окисью берил- лия. В эталоны и пробы в качестве внутреннего стандарта вводят 3% В(О.Г а 'радуировочные графики строят в координатах ЛЯ вЂ” 18С. Аналити- ческая пара линий Р 213,62 — В( 213,36 ям. Чувствительность определения фосфора 0,001 %.
Средняя ошибка при определении концентраций фосфора по- рядка 0,1,,„ равна 5 — 6%, а для концентрации порядка 0,005 % колеблется в я ка01", пределах 10 — 15 отн. Спектральное определение мккропримеси фосфора в окисях иттрия и гадолиния высокой чистоты производят на приборах большой дисперсии (типа ДФС-13 с решеткой 600 штрихов(мм), Для анализа пробу помещают в каналы верхнего и нижнего угольных олектродов.
(Диаметр канала 2 чм, глубина 8 мм, толщина стенок 0,5 мм.) Источник возбуждения спектров — генератор ДГ-2. Для повышения чувст- вительности анализа до 5 10 '% используют низковольтный импульсный рав- ряд, полученный при подключении в схему генератора ДГ-2 дополнительной емкости 36,5 млф (вместо реостата дуги). При таком разряде вещества выхо- дят из электродов в виде струй или факелов с эффективной температурой 7500 — 8000' С. Интенсивность линий фосфора при этом возрастает в 10 — 15 раа по сравнению с обычной дугой, получаемой от генератора Д Г-2.
С редняя квад- ратичная ошибка определения 0,001 — 0,1 ",', фосфора составляет 15 — 20 отн.% . Определение фосфора в окиси тория осуществляют методом фракционной дистилляции с носителем. Наибольшую интенсив- ность аналитических линий дает применение в качестве носи теля яС1 при отношении окись тория: носитель, равном 24: 1.
Смесь образца с АяС) испаряют из канала графитового электрода, зато- ченного в форме рюмин и включенного анодом (дуга постоянного тока о" э, аналитический промежуток 4 мм). Предел обнаружения фосфора 2' 10 з% Среднеквадратичная ошибка определений 3 — 8 отн. %. 153 Спектральное определение фосфора в трехокиси вольфрама высокой чистоты производят методом испарения (испаритель ФИАН) [97]. Температура испарения— — 2300' С. Приемники с конденсатом возбужме н го тока. Спектры регистрируют на спектрографе сред- дают в дуге переменного то ней'дисперсии. р . Среднеквадратичная ошибка определения 6 — 4. озмо также проведоние спе е спектрального определения слсдовых количеств 4юсфора в вольфраматах прямым методом ]1048].
Определение фосфора в меди рентгенофлуоресцентным методом [480] осуществляют на рентгеновском спектрографе с трубкой с тонкостенным окошком и хромовым анодом. Режим аботы: напряжение 5 ка, ток 35 мо, кристалл-анализатор из кварит и оточный кропорца, атыосфер ф а гелия, для регистрации излучения служит про р тби ают циональиый счетчик. Для . Для анализа медв, легированной теллуром, о р ! '.Б кт 10 г пробы в виде стружки и брикетируют ее под д авлением 1 т!оог . Рикет помещают в держатель образцов, катар " р щ ый в а ается со скоростью 25 об!мин. Благо аря вращению образца уменьшается вл панне позе хностяых неодно- Р л год м мето ом составродностей.
Увст . Ч вительность определения фосфора данны д ляет 0,005а4. Квантометрическое определение фосфора в сталях и чугунах Определение фосфора в низколегированных сталях в вакуум- ной обла"и спектра чаще всего 'р' д - 232 362 и ово ят в низковольтном искро- вом разряде [16, 29, 47, 48, 116, 136, 165 †1, 170, 06, 630, 632, 633, 656, 727, 756, 772, 774, 867, 953, 1025] со среднеквадратичной ошибкой 3 — 5 отн. % . Для анализа используют вакуумный кванта р р мет с об атной линейной дисперсией О, —, нм мм; ,3 — 0,8 7; продувка штатива аргоном, скорость продувки 2 к!мин.
Аналитическая линия Р 1783 нм. Для анализа сталей с содержанием фосфора меиее 0,02 ах в качестве яс о, точника света примеияют низковольтную кру р р иск п и пап яжении 500 — 1000 в, 20 мкф ин уктивиости 500 мкгн, сопротивлении 8 ом. Д Для аналиаа ьз ют нап ягненке 500— сталей с более высоким содержанием фосфора используют н р 1000 в, емкость мкф, д 20 гй., ин уктнвность 60 мкгн и сопротивление 3 ом. Пред- 10 — 15 сек.
Продолжительность вкспонирования варительное обыскриваиие — сек. 15 — 20 сек. (по'накоплению). Проба — катод. В качестве подставного электро- да используют серебряные или медные стержи д ро и намет м 5 — 6 мм, заточен- ные на конус с углом при в при вершине 90 — 120', аналитический промежуток 5 мм. Противоэлектрод меняют 1 раа в смену. Иногда [385) для анализа сталей испольауют рааряд высоковольтной иск- ры с емкостью 0,007 мквб и индуктивностью 820 мкгн, при величине аиалитис го промегкутка 3 мм с серебряным противоэлектродом.
ческо р Анализ высоколегированных сталой ведут в иизковол тно р р ь й иск ел и на- пряжении 500 †10 в, емкости 20 мкф, индуктивности 60 мкгн и сопротив- лелин 3 ом. Продолжктольность обы- к 80 скриванил 20 сек„предварительное 7 Яьб 2 обыскрнвание 30 сок. Остальные условия, как прв анализе ниаколегирозанных ствлей. Отбор проб стали для вакуумно- ь ! го квантометра производят в,'меднме, стальные или чугунные иэлож- яг внцы (рис. 9). Пробу охлаждают обдувом сжатым воздухом до потемнения или окусканнем прибыльной части в воду. Вес пробы -. 500 г. Металл раскисляют алюмиивем из расчета его'содержаЯ70 4 ния в пробе 0,1 — 0,2%.
При появле- Рис. 9. Комбинироваавая изложнии Раковин, кРУпных шлаковых ница для отбора проб сталей включений, микротрещин и других дефектов проба бракуется. для аналиаа от прооы с помощью отреаного станка отделяют'/, часть со стороны нижнего основания. Затем место рева в течение 3 — 5сек. дополнительно подшлифовывают на шлифовальиом станке (вращающийся диск с наждачной бумагой). При обработке пробы не допускают ее перегрев иа-эа опасности появления дефектов: трегции, окисления, иаменения структуры и др. Обработанная проба должна иметь плоскую без аавалов поверхность. Чистота обработанной поверхности должна составлять о5 — 96.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
