Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
5,0052
2020-12-152020-12-15СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
Зачтённая лабораторная работа О-7.
СОДЕРЖАНИЕ: цель работы, теоретическая часть, описание установки, экспериментальная часть с графиками, вывод, контрольные вопросы, вопросы для защиты.
ЦЕЛЬ РАБОТЫ: изучение явления интерференции при отражении света от тонкого прозрачного слоя однородного и изотропного вещества.
![]()
![]()
![]()
СОДЕРЖАНИЕ: цель работы, теоретическая часть, описание установки, экспериментальная часть с графиками, вывод, контрольные вопросы, вопросы для защиты.
ЦЕЛЬ РАБОТЫ: изучение явления интерференции при отражении света от тонкого прозрачного слоя однородного и изотропного вещества.
Файлы условия, демо
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
МГТУ им. Н.Э.БауманаСеместр
Номер задания
Вариант
Теги
Просмотров
46
Качество
Фото рукописных листов
Размер
6,72 Mb
Список файлов
justhomosapiens
15 декабря 2020 в 21:55
Комментарии
Нет комментариев
Стань первым, кто что-нибудь напишет!
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
