М.А. Порай-Кошиц - Основы структурного анализа химических соединений (1157636), страница 36
Текст из файла (страница 36)
ОГЛАВЛВНИВ Предисловие Глава !. Основные попятив н элементы структурной крнссталлографнн А. Описание решетки кристалла 5 1. Группа трансляций — решетка кристалла 5 2. Индексы узлов, узловых рядов и узловых сеток ре. шетки кристалла 9 3. Обратная решетка Пространственные группы симметрии 9 4. Обозиачеиня элементов симметрии конечных фигур, принятые в структурной кристаллографии 6 5. Закрытые и открытые операции симметрии $6. Точечные и пространственные группы симметрии б 7. Взаимодействие трансляций и других операции симметрии б 8. Классификационная схема пространственных групп симметрии $9.
Классы симметрии, сингонии и категории 9 10. Координатные системы и метрика решеток $11. Типы решеток Брава б !2, Графическое изображение пространственных групп симметрии $13. Обозначения пространственных групп симметрии й 14. Правильные системы точек Глава П. Дифракцня рентгеновских лучей в кристалле $1. Физическая осиона рентгеноструктурного анализа 8 2. Параметры рентгеновских волн; рассеяние рентгеновских лучей 6 3. Задачи, решаемые в ходе рентгеноструктурного анализа кристаллов $4. Условия Лауэ й 5. Методы получения дифракционного эффекта 5 6. Другие способы представления днфракционного эффекта.
Индицированне рентгенограмм $7. Области применения трех методов получения дифракциониого эффекта б 8. Фотографическая и дифрактометрическая аппаратура реитгеиоструктурного анализа монокрнсталлов $9. Автоматизация рентгеиоструктурного эксперимента 5 10. Методы ускорения дифрактометрического эксперимента $ 11. Истории развития методики и техники структурных исследований кристаллов 7 1О 15 !6 20 23 25 26 29 32 36 4! 45 47 47 49 50 54 56 58 64 69 77 79 80 Г л а в а 111. Первый этап анализа структуры. Определение параметров решетки н симметрии кристалла........
82 $1. Параметры решетки н чвсло формульных единиц в ячейке 82 6 2. Симметрия кристалла.............. 84 Г л а в а !У. Второй этап анализа структуры. Определение координат атомов в элементарной ячейке кристалла . ... 90 $1. факторы, влияющие на интенсивность днфракцнонных лучей 90 й 2. Структурная амплитуда и координаты атомов ... 93 $ 3. Структурные амплитуды и распределение электронной плотности по ячейке .
. ... ... . .. . . 98 4. Учет симметрии в формулах структурной амплитуды и электронной плотности . . ... .. .. .. . . 100 й 5. Проблема начальных фаз . . ......... 102 $ 6. Общая схема второго этапа анализа структуры .. 104 $7. Метод мезкатомиой функции........... 108 6 8. Статистический (прямой) метод определения начальных фаз 119 й 9. Метод минимизации структурного функционала .. 150 1О.
Уточнение координатных и других параметров структуры 154 й 11. Обработка результатов исследования . . .. .. . 159 6 12. Автоматизация рентгеноструктурных расчетов ... 164 Г л а в а У. Сравнительные возможности и перспективы дифракционных методов исследования. Задачи реитгеноструктурного анализа в химии й 1. Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа, нейтронографии н электронографии кристаллов 169 6 2. Сравнительные возможности дифракционных методов изучения структуры кристаллов и веществ в других агрегатных состояниях,....,..... 173 6 3.
Основные зада'ш рентгеноструктурного анализа в химии 175 9 4. Новые задачи рентгеноструктурного анализа в физи. ческой химии 180 190 Заключение .
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
