Заключение организации, где выполнялась диссертация (1105281), страница 2

Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла (страница 2)

2015. № 6, с. 51-594. Купреенко С.Ю., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Тагаченков А.М., Татаринцев А.А.Определение толщин ультратонких поверхностных плёнок в наноструктурах поэнергетическим спектрам отражённых электронов // ЖТФ. 2015. Т. 85, № 10, с.101-1045. Зайцев С.В., Купреенко С.Ю., Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Татаринцев А.А.,Хайдаров А.А. Новые возможности и некоторые артефакты режимакатодолюминесценции в сканирующей электронной микроскопии // ИзвестияРАН. Серия физическая. 2016. Т. 8, № 12, с. 1623-16286. Дицман С.А., Зайцев С.В., Купреенко С.Ю., Лукьянов А.Е., Рау Э.И.

Анализэффективности кольцевых полупроводниковых детекторов отражённыхэлектронов в РЭМ // в сборнике Тез. докл. XXV Российской конф. по электронноймикроскопии и 2-й Школы молодых ученых «Современные методы электроннойи зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов(РКЭМ-2014), место издания Черноголовка, том 1, тезисы, с. 196-1977. Rau E.I., Kupreenko S.U., Tatarintsev A.A., Zaitsev S.V. New possibilities of SEM fortwo-channel detection of energetically filtered secondary and backscattered electrons //в сборнике Proceedings of 18-th International Microscopy Congress, место изданияPrague, тезисы, с. 378 (IT-4-P-1852)-3798. Kupreenko S., Orlikovsky N., Rau E., Tagachenkov A., Tatarintsev A. Experimentaland computational thickness determination of ultra-thin surface films usingbackscattered electrons spectra in SEM // в сборнике International Conference"Micro- and Nanoelectronics - 2014".

Book of abstracts, место издания MoscowZvenigorod, Russia, тезисы, с. P1-30-P1-309. Рау Э.И., Гостев А.В., Дицман С.А., Зайцев С.В., Купреенко С.Ю., ТатаринцевА.А., Толстов И.О. Новые возможности и перспективы методов электроннойспектроскопии в сканирующем электронном микроскопе // в сборнике XIXРоссийский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическимметодам исследования твердых тел . Тезисы докладов, тезисы, с. 94-9510.

Рау Э.И., Татаринцев А.А., Купреенко С.Ю., Зайцев С.В., Балакин Д.А.Профилометрия рельефа поверхности с помощью отфильтрованных по энергиивторичных и отражённых электронов в сканирующем электронном микроскопе //в сборнике XXVI Российская конференция по электронной микроскопии. 30 мая –3 июня 2016г. г. Москва Зеленоград. Тезисы докладов, место издания ИПТМ РАНг. Москва Зеленоград, том 1, тезисы, с. 226-22711. Rau E., Tatarintsev A., Kupreenko S., Karaulov V., Kolybin S.

Two methods ofimproving dopant contrast for semiconductor structures under thin surface layers inscanning electron microscope // в сборнике Proceedings of the InternationalConference "Micro- and Nanoelectronics - 2016" ICMNE - 2016 Book of abstracts,место издания ООО "МАКС Пресс" Москва, тезисы, с.

P1-54-P1-5412. Rau E., Tatarintsev A., Khaidarov A., Kupreenko S. Charging kinetics features ofdifferent modifications of the Al2O3-dielectrics (sapphire, polycrystalline and ceramics)under electron-beam irradiation // в сборнике European Microscopy Congress 2016Volume 1: Instrumentation and Methods, издательство Wiley-VCH Verlag GmbH &Co. KGaA (Weinheim, Germany), том 1, тезисы, с. 865-86613. Kupreenko S., Rau E., Tatarintsev A., Zaytsev S. 3-D reconstruction of surfacetopography in SEM by means of energy filtered SE and BSE // в сборнике EuropeanMicroscopy Congress 2016 Volume 1: Instrumentation and Methods, издательствоWiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA (Weinheim, Germany), том 1, тезисы, с.

881882Диссертация «Электронная спектроскопия материалов и микроструктур в сканирующемэлектронном микроскопе» Купреенко Степана Юрьевича рекомендуется к защите насоискание ученой степени кандидата физико-математических наук по специальности01.04.04 – физическая электроника.Заключение принято на заседании кафедры физической электроники.Присутствовало на заседании 26 чел. Результаты голосования: «за» – 26 чел., «против» – 0чел., «воздержалось» – 0 чел., протокол № 6 от 9 февраля 2017 г.Зав. кафедрой физической электроники,д.ф.-м.н., проф.В.С.Черныш.

Характеристики

Список файлов диссертации