Статьи оппонента Тагаченкова (1091047)

Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла

1."Определение толщин ультратонких поверхностных пленок внаноструктурах по энергетическим спектрам отраженных электронов",С.Ю. Купреенко, Н.А. Орликовский, Э.И. Рау, А.М. Тагаченков, А.А.Татаринцев,Журнал технической физики, 2015, том 85, вып. 10, стр. 101-104.2."Сравнительное изучение подзатворных систем nи pканальных МДП транзисторов КМДП СБИС электрофизическимиметодами",ПоповскихГ.Е., Зенова Е.В., Тагаченков А.М., Солдатов В.С.,Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковыхприборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс):Материалы докладов научно-методического семинара (Москва 27-28 11.

2014г.) М: МНТОРЭС им. А.С. Попова, НИУ «МЭИ», 2015.- 171с., стр. 123-129.УДК 621.382.3.019.33.Исследования логического состояния интегральных микросхемметодами атомной силовой микроскопии.А.М. Тагаченков ВМУ. Серия 3.ФИЗИКА. Астрономия. 2010. № 3, стр.59-61.4.Характеристики зарядки диэлектрических пленок в зависимостиот толщины при электронном облучении.Гостев А.В., Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Тагаченков А.М.,Известия РАН.

Серия физическая , 2014, том 78, №9 с. 1-71-1076.5.Контраст изображений примесных областей вполупроводниковых кристаллах в растровом электронном микроскопе.Рау Э.И., Тагаченков А.М.,Известия РАН. Серия физическая, 2013, том 77, №8 с. 1041-104741.6.Применение атомно-силовой микроскопии для исследованияповерхности фоторезисторов на основе PbS.Мирошникова И.Н., Мохамед Х.С., Зенова Е.В., Тагаченков А.М., и др.Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковыхприборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс):Материалы докладов научно-методического семинара (Москва 28-30 11. 2011г.) М: МНТОРЭС им. А.С. Попова, НИУ «МЭИ», 2012.- 229с., стр.

140-146.УДК 621.382.3.019.37.Спектральные характеристики и структура фоточувствительныхслоев на основе PbS.Мирошникова И.Н., Мохамед Х.С., Зенова Е.В., Тагаченков А.М., и др.Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковыхприборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс):Материалы докладов научно-методического семинара (Москва 27-28 11. 2011г.) М: МНТОРЭС им. А.С. Попова, НИУ «МЭИ», 2012.- 266с., стр. 186-192.УДК 621.382.3.019.38.Функциональная диагностика и анализ отказов современныхинтегральных устройств на основе микрозондовых технологий.Ануфриев Ю.В., Зенова Е.В., Тагаченков А.М., Еганова Е.М., АгафоновМ.И., Дудин А.А.«Нанотехнологии – производству 2012» Тезисы докладов VIIIМеждународной научно-практической конференции. Фрязино: 4-6 апреля2012. (с.

58-60)9.Структурная диагностика и вещественный анализ современныхнаносистем с применением аналитического оборудования на основепрецизионной электронно-ионной сканирующей микроскопии.Ануфриев Ю.В., Зенова Е.В., Тагаченков А.М., Дубровинский В.Ю.«Нанотехнологии – производству 2012» Тезисы докладов VIIIМеждународной научно-практической конференции. Фрязино: 4-6 апреля2012. (с. 55-57)10. Structural diagnostics, elemental and characteristic analysis of modernmicro- and nanosystems using analytical SEM/FIB toolsA.Tagachenkov, E. Zenova,Y. Anufriev1, V.DubrovinskiyThe International Conference “Micro- and Nanoelectronics – 2012”(ICMNE-2012) including the extended Session “Quantum Informatics” (QI-2012)and the Workshop "Silicon-on-Insulator" (SOI-2012) will be held on October 1-5,2012 at the “Lipki” resort, Zvenigorod, Moscow Region, Russia.

P. S1-02.

Характеристики

Тип файла PDF

PDF-формат наиболее широко используется для просмотра любого типа файлов на любом устройстве. В него можно сохранить документ, таблицы, презентацию, текст, чертежи, вычисления, графики и всё остальное, что можно показать на экране любого устройства. Именно его лучше всего использовать для печати.

Например, если Вам нужно распечатать чертёж из автокада, Вы сохраните чертёж на флешку, но будет ли автокад в пункте печати? А если будет, то нужная версия с нужными библиотеками? Именно для этого и нужен формат PDF - в нём точно будет показано верно вне зависимости от того, в какой программе создали PDF-файл и есть ли нужная программа для его просмотра.

Список файлов диссертации