отзыв 46 ЦНИИ (1090721)

Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла

МИНИСТЕРСТВО ОБОРОНЫРОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ(МИНОБОРОНЫ РОССИИ)ФИЛИАЛФЕДЕРАЛЬНОГО ГОСУДАРСТВЕННОГОБЮДЖЕТНОГО УЧРЕЖДЕНИЯ46 ЦЕНТРАЛЬНЫЙНАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙИНСТИТУТ141006, Московская обл., г. Мытищи_2015 г. № 12Ученому секретарю диссертационного совета,доктору технических наук, доцентуМосковского государственного университетарадиотехники и электроникиС.С. ЗАМУРУЕВУ119454, г. Москва, пр.

Вернадского, д.78///^Направляю Вам отзыв на автореферат диссертации Дорошевича П.В.на тему: «Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральныхмикросхем на надежность», представленной на соискание ученой степеникандидата технических наук по специальности 05.02.23 - «Стандартизацияи управление качеством продукции».Приложение: 1. Отзыв экз. №№ 1-3 на 3 л. каждый, н/с,2. Экз.

№№ 1, 2 - в адрес, экз. № 3 - в дело.Заместитель начальника филиалапо научной работеД.В.МатюхинЭкз. № JОТЗЫВна автореферат диссертации Дорошевича Павла Викторовича«Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральныхмикросхем на надежность», представленный на соискание ученойстепени кандидата технических наук по специальности05.02.23 - «Стандартизация и управление качеством продукции»Актуальность.

К микросхемам предъявляются высокие требованияпо надежности (наработки до отказа).В настоящее время имеется потребность увеличения наработки до отказав 1 , 5 - 2 раза. Подтверждение таких требований натурными испытаниямитребует больших временных и материальных затрат.За последние годы ведущими отечественными предприятиямиразрабатываются микросхемы с размерами элементов 0,6-0,13 мкм и менее.Проводятсяработыпоразработкетехнологическихпроцессовдля производства сверхбольших интегральных схем (СБИС).Рецензируемаяработа,посвященапроведениюисследованийпо определению энергии активации, механизмов отказов для микросхеми разработке метода ускоренных испытаний на безотказность и наработкудо отказа СБИС с размерами элементов 0,6-0,13 мкм и менее,что подтверждает актуальность данного исследования.Диссертация состоит из четырех глав.В первой главе проведено обобщение и анализ результатов испытанийСБИС на безотказность, наработку до отказа и электротермотренировку.Установлено, что имеет место деградация основных параметров.Во второй главе рассмотрены возможные виды и причины отказовСБИС по основным технологическим операциям.

Рассмотрены методыускоренных и экспериментальных испытаний. Установлено, что ускоряющимфактором для большинства механизмов отказов СБИС является повышеннаятемпература.Значение энергии активации целесообразно определить путемпроведения параллельных испытаний выборок в различных режимахс последующей обработкой результатов испытанийВ третьей главе приведены результаты экспериментальныхисследований СБИС при трех значениях температуры.

По результатамиспытаний рассчитана энергия активации для СБИС с проектными нормами0,6-0,13 мкм.В четвертой главе разработан метод ускоренных испытаний набезотказность и наработку до отказа СБИС для проектных норм 0,6-0,13 мкми менее.К недостаткам автореферата следует отнести следующее:Отсутствиеобоснованиявыбранныхзначенийтемпературыпри испытаниях и температуры кристалла (очевидно автор имел ввидутемпературу р-n перехода), что особенно актуально при проведениииспытаний микросхем с большими значениями рассеиваемой мощности(до десятков ватт).К основным научным результатам работы следует отнести:1. Уточнение методов ускоренных и экспериментальных испытанийприменительно к СБИС по режимам и планам контроля.2. Определение энергии активации для СБИС с проектными нормами0,6-0,13 мкм, значение которой на 0,1-1,5 эВ больше для микросхемс проектными нормами 2,3 мкм и более.3.

Разработанный метод ускоренных испытаний СБИС с проектныминормами 0,6-0,13 мкм на безотказность и наработку до отказа.Обоснованностьи достоверностьполученных результатовдиссертационной работы подтверждается результатами экспериментальныхиспытаний.Практическая значимость работы заключается в том, чторазработанныйметодпозволяетпроводитьускореннуюоценкуработоспособности СБИС сократить длительность и затраты на испытания на30%. Рекомендации по устранению возможных причин отказов позволяютпроводить уточнение технологического процесса для повышения надежностиСБИС.Достоверность и обоснованность результатов подтверждаются тем,что основные результаты работы предложены и приняты для включения внормативно-техническуюдокументацию,регламентирующуюоценкунадежности микросхем («Методы ускоренных испытаний микросхем набезотказность и наработку»).Заключение.

Рассматриваемая диссертационная работа ДорошевичаП.В. является законченным научным исследованием, проведенным авторомна достаточном теоретическом и практическом уровне, что дает основаниесчитать её актуальной и своевременной разработкой, имеющей большоезначение для проведения ускоренных испытаний.В соответствии с требованиями п.9 Положения о присуждении ученыхстепеней диссертация представляет научно-квалификационную работу,в которой на основании выполненных автором исследований решенапроблема, позволяющая оценить в приемлемое время показателибезотказности микросхем с проектными нормами 0,6-0,13 мкм и менее.Считаю, что автор диссертации (исследования «Методы ускоренныхиспытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность»),Дорошевич Павел Викторович, заслуживает присуждения ученой степеникандидата технических наук по специальности 05.02.23 - «Стандартизацияи управление качеством продукции».Отзыв рассмотрен и одобрен на заседании научно-технического советаФилиала ФГБУ «46 ЦНИИ» Минобороны России протокол № 7 от 29 мая2015 г.Кандидат технических наук,Начальник отдела Филиала ФГБУ «46 ЦНИИ» Минобороны России, 141006,г.Мьггшци>44Д5^586-99-85 (272), 89037892355, andrei.7763ok@mail.ruАндрей Александрович ОрловУченый секретарь НТС Филиала ФГБУ «46 ЦНИИ» Минобороны России,кандидат технических наукАлексей Сергеевич Афанасьев.

Характеристики

Тип файла PDF

PDF-формат наиболее широко используется для просмотра любого типа файлов на любом устройстве. В него можно сохранить документ, таблицы, презентацию, текст, чертежи, вычисления, графики и всё остальное, что можно показать на экране любого устройства. Именно его лучше всего использовать для печати.

Например, если Вам нужно распечатать чертёж из автокада, Вы сохраните чертёж на флешку, но будет ли автокад в пункте печати? А если будет, то нужная версия с нужными библиотеками? Именно для этого и нужен формат PDF - в нём точно будет показано верно вне зависимости от того, в какой программе создали PDF-файл и есть ли нужная программа для его просмотра.

Список файлов диссертации