доклад 25.06.2015 Дорошевич П.В. (1090717), страница 2
Текст из файла (страница 2)
На основе исследований получены следующие результаты.- разработана программа испытаний, методология испытаний СБИС, проведенообобщение, анализ результатов испытаний на безотказность и наработку до отказа СБИС;- для разработки метода был проведен анализ и уточнение существующих методовускоренных и экспериментальных испытаний на безотказность и наработку до отказа,разработанных применительно к микросхемам с проектными нормами 2, 3 мкм и более;- на основе проведенного анализа определена энергия активации; разработан типовойсостав видов и причин отказов СБИС.(Слайд 16 Практические результаты)3.
В результате экспериментальных исследований установлены, что:- определяющим фактором ускоренных испытаний на безотказность и наработку доотказа определена повышенная температура;- значение энергии активации определено путем проведения параллельных испытанийвыборок в различных режимах.Разработан метод ускоренных испытаний на наработку до отказа сверхбольшихинтегральных микросхем (СБИС) для проектных норм 0,6-0,13 мкм и менее.4. Результаты работы реализованы.Предложения по обеспечению качества и метод ускоренных испытаний на наработку доотказа предложены и приняты для внесения в стандарт «Микросхемы интегральные.
Методыускоренных испытаний на безотказность и наработку до отказа».5.Внедрение разработанных предложений по обеспечению качества, в том числе методаускоренных испытаний на наработку до отказа позволит сократить время и затраты наиспытания по подтверждению наработки до отказа на 30 %.Таковы вкратце основные положения и выводы данной работы.Благодарю за внимание!СоискательП.В.
Дорошевич.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
