Диссертация (Система менеджмента качества организации на основе интегрированной информационной среды), страница 13

Также в базеданных хранится информация о поставщиках и заказчиках организации.Отметим,чтопоставщикамможетбытьпредоставлендоступкопределенным разделам ОБД через Интернет, например, к разделу,79отражающему потребности в сырье, материалах, комплектующих.ВнедрениепредлагаетсятехнологийначинатьсинформационноготехнологийобеспеченияинформационногоСМКобеспеченияпроцессов ЖЦП на стадиях проектирования и производства, используя PDMтехнологию.2.2.4 Статистические методы контроля качества для анализа СМКМногие методы математической статистики довольно сложны длявосприятия. Поэтому японские ученые отобрали из всего множества семьметодов, которые наиболее применимы в процессах контроля качества.

К.Исикава (1915 – 1989) первым объединил их в «семь простых инструментовконтроля качества». Итак, к семи основным методам или инструментамконтроля качества относятся следующие [6]:1.данных,контрольный листок – форма для регистрации и подсчетасобираемыхврезультатенаблюденийилиизмеренийконтролируемых показателей в течение установленного периода времени;2.гистограмма – представление данных в графическом виде(столбчатая диаграмма);3.диаграммаразброса(диаграммарассеянияилиточечнаядиаграмма) предназначена для выявления зависимости между двумя типамиданных. Также с помощью этой диаграммы можно определить корреляциюмежду каким-либо параметром качества и влияющим на него фактором;4.диаграмма Парето (кривая Парето) – графическое отражениезакона Парето («20% усилий дают 80% результата, а остальные 80% усилий –лишь 20% результата»);5.стратификация (расслоение) – разделение полученных данных наотдельные группы (слои, страты) в зависимости от выбранного фактора;6.диаграмма Исикавы (причинно-следственная диаграмма илидиаграмма «рыбья кость»);80контрольная карта (карта Шухарта) – линейчатый график,7.построенный на основании данных измерений показателей процесса вразличные периоды времени.Основное назначение семи простых методов – контроль протекающегопроцессаипредоставлениеучастникупроцессафактовдляегокорректировки и улучшения.Перечисленные инструменты контроля качества можно рассматриватьи как отдельные методы, и как систему методов, обеспечивающуюкомплексный контроль показателей качества.Приведем пример оценки системы анализа СМК организации иопределим, наблюдается ли корреляция процессов СМК.Система анализа СМК – подсистема СМК, основное назначениекоторой состоит в распознавании состояния СМК, выявление несоответствийв ее функционировании и областей возможного совершенствования.Анализ СМК в организации – изучение и установление признаков,которые влияют на состояние системы менеджмента.

Делается это для того,чтобы предсказать возможные отклонения и предотвратить нарушениенормального функционирования предприятия.В качестве примера рассмотрим интегральные показатели процессовСМК организации, включающие процессы управленческой деятельности ипроцессы мониторинга и улучшения. СМК сертифицирована на соответствиеГОСТ Р ИСО 9001–2011. Интегральные показатели представляют собойоценку адекватности процесса и экспертных оценок уровня совершенства вконкретной области. Значения показателей приведены в табл. 12.Таблица 12.Интегральные показатели процессов анализа СМКПроцессУправление СМКАнализ со стороныОбозначениеП1П2Интегральный показатель процессаЗначение интегрального показателя, %ИюльНоябрь Февраль Июнь Октябрь201420142015201520156976828485475258616381руководстваМониторингудовлетворенностипотребителейВнутренние аудитыМониторинг процессовСМКАнализ данныхСреднее значение, х̅Размах RiП36573717881П4П554435662655871647063П65555,5265963246366,2246270236971,822Определим, управляем ли мегапроцесс «Анализ СМК» с помощьюконтрольных карт [78].Параметры контрольных карт средних значений и размахов:1)центральная линия контрольной карты средних значений:11̿ = ∑ ̅ = (55,5 + 63 + 66,2 + 70 + 71,8) = 65,35=12) нижняя контрольная граница контрольной карты средних значений:НКГ̅ = ̿ – A2̅ ,где коэффициент A2 = 0,483 [78], ̅=(2.2.4.1)1∑=1 - средний размах(центральная линия на карте размахов);̅= (26+24+24+23+22)/5 = 23,8НКГ̅ = 65,3 – 0,483×23,8 = 53,83) верхняя контрольная граница контрольной карты средних значений:ВКГ̅ = ̿ + A2̅ ,(2.2.4.2)ВКГ̅ = 65,3 + 0,483×23,8 = 76,84) нижняя граница контрольной карты размахов равна нулю, т.к.

размахдолжен стремиться к нулю;5) верхняя граница контрольной карты размахов:ВКГR = D4̅ ,где коэффициент D4 = 2,004 [78].ВКГR=2,004×23,8 = 47,7(2.2.4.3)82На рис. 21, 22 приведены контрольные карты средних значений иразмахов, соответствующие мегапроцессу «Анализ СМК».10080СредниезначенияНКГ6040ВКГ200ноя.13июн.14дек.14июл.15янв.16Рис. 21. Контрольная карта средних значенийКак видно из рис. 21, с февраля 2015 г. система СМК находится вуправляемомобеспечилосостоянии.стабильноеУправлениеуменьшениемегапроцессомразмаха«АнализзначенийСМК»интегральныхпоказателей процессов (рис. 22).10080Значение размаха60ВКГ40ноя.1420июл.140ноя.13июн.14июн.15фев.15дек.14окт.15июл.15янв.16Рис.

22. Контрольная карта размаховДляповышенияпотенциаламегапроцессанеобходимосовершенствование его составляющих. Обеспечение принятия решенийпостроим на принципе Парето применительно к совершенствованиюмегапроцесса «Анализ СМК»: 80% возможных методов совершенствованияСМК нужно применить к 20% ее процессов. В предложенной модели83рассматривается шесть процессов, 20% от шести - 1,2. Следовательно,необходимо определить два процесса, у которых наблюдается максимальновысокая корреляционная связь с другими процессами.Степень взаимосвязи между процессами анализа СМК позволитопределить корреляционный анализ.В табл. 13 приведена матрица парных коэффициентов корреляции(корреляционная матрица) для системы интегральных показателей процессованализа СМК (табл.

12). Коэффициенты корреляции подсчитаны в MicrosoftExсel.Таблица 13.Корреляционная матрицаП1П2П3П4П5П6П110,980,870,950,850,9П20,9810,90,970,80,92П30,870,910,830,880,86П40,950,970,8310,70,83П50,850,80,880,710,71П60,90,920,860,830,711Анализ корреляционной матрицы показывает:1) между процессами СМК наблюдается положительная (прямая) связь,т.к. все коэффициенты положительные;2) очень высокая корреляция наблюдается для процессов П1 и П2(коэффициент парной корреляции равен 0,98);3) высокая корреляция - П2 и П4; П1 и П4; П2 и П6;4) средняя корреляция - П3 и П4; П4 и П6; П4 и П5; П5 и П6;5) слабой корреляции не наблюдается.Можно сделать вывод, что совершенствовать целесообразно процессыП4 и П6.Совершенствование процессов П4 и П6 способствует улучшению нетолько этих процессов, но и процессов П3 и П5.В эпоху информационного общества статистические методы контролякачества применяются не только в производстве и проектировании, но и в84маркетинговыхисследованиях,разработкеиподготовкепроцессов,технической поддержке и т.д.

Последовательность применения семи методовможет быть различной в зависимости от цели, которая поставлена передсистемой. Отметим, что применяемая система анализа СМК не обязательнодолжна включать все семь методов. Их может быть меньше, а может быть ибольше, т.к. существуют и другие методы («семь новых инструментовконтроля качества»).Таким образом, структурирование функции качества в процессаханализа СМК организации позволило разработать процессную модельсистемы.Приэтомиспользованаконцепциямегапроцесса.Междупроцессами анализа СМК наблюдается корреляционная связь. Использованиепринципа Парето позволило выявить процессы, совершенствование которыхможет способствовать улучшению функционирования СМК в целом.2.3 PDM-технология – как основа интегрированной информационнойсредыИнформационнаяподдержкаЖЦПосновананапереходеот«бумажной» к интегрированной информационной среде, охватывающей всестадии ЖЦП.

Средством перехода является технология хранения иуправления данными об изделии (PDM-система), являющаяся составнойчастью CALS/ИПИ-технологий.ВажноупомянутьPLM-концепцию (отангл. Product LifecycleManagement – управление ЖЦ изделий) и какую роль играет в ней PDMсистема. PLM - это концепция, которую использует руководство организациидля достижения каких-то целей. Можно выделить две основные целиуправления: уменьшение себестоимости продукции и сокращение временивыхода на рынок новых изделий.

Основным инструментом достижения этихцелей и является PDM-система [79,80].Система управления данными об изделии (PDM-система)являетсяфундаментальным блоком любой стратегии инженерного программного85обеспечения и помогает организациям получить максимальную отдачу отсвоих ресурсов [81].PDM-технология - ядро ИИС, обеспечивающее сбор и хранениеструктурированных данных о конструкции изделия, технологии егоизготовления и эксплуатации, а также о ресурсах, требуемых дляосуществления производственных процессов.

Три основных свойства PDMсистемы: управление данными о продукте; возможность быстро находить иповторно использовать информацию; обмен информацией и сотрудничествос другими подразделениями компании. Схематично место PDM в ИИСпоказано на рис. 23.Рис. 23. PDM-система в общей структуре ИИСPDM-система строится на основе стандартизованной модели данных(ГОСТ Р ИСО 10303). В базах данных PDM содержатся справочникиматериалов, стандартных и покупных изделий, сведения об используемойоснастке, инструменте, технические характеристики оборудования, данныеоб организационной структуре, кадровом составе и т.д.PDM-системы позволяют решать разнообразные задачи информационной поддержки ЖЦП, в том числе:автоматизировать работу с документами;поддерживать информационную поддержку конструкторско-технологической подготовки изделия;осуществлять информационную поддержку изделия на этапахпроизводства и эксплуатации;86реализовывать информационную поддержку решения задачменеджмента качества и взаимодействия с другими организациями;управлять проектами.Для решения перечисленных выше задач типовая PDM-системадолжна обладать необходимым набором функций, примерный переченькоторых приведен в табл.