отзыв Интеграл (Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность)

и/ / '/гог.ое.мжОтзывна автореферат диссертацииДорошевича Павла Викторовича "Методы ускоренных испытаний сверхбольшихинтегральных микросхем на надежность, представленной на соискание ученойстепени кандидата технических наук по специальности 05.02.23 - "Стандартизацияи управление качеством продукции".Стремительное освоение субмикронной технологии в производствепозволяет существенно увеличить количество элементов на кристалле, поэтомусовременная субмикронная схема уже рассматривается как система, выполняющаясложную комплексную функцию. Однако Переход к субмикронным технологиямтребует решения и целого ряда сложных задач. Ключевая задача - обеспечениеболее высоких показателей надежности микросхем, что особенно важно присоздании современных систем вооружения, космической и военной техники.В связи с этим диссертационная работа Дорошевича П.В., направленная насоздание метода ускоренных испытаний на наработку до отказа сверхбольшихинтегральных схем для проектных норм 0.6-0.13 мкм на основе теоретических иэкспериментальных исследований является актуальной.Автор комплексно подошел к решению поставленной задачи, начиная отустановления причинно-следственных связей дефектов и отказов микросхем сконструктивно-технологическимихарактеристиками,технологическимиоперациями, качеством материалов до разработки современного методаускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность.Особую ценность представляют разработанные методические подходы копределению численных значений энергии активации, коэффициента ускорения,констант физико-математическх моделей ускорения, границ допустимогоприменения разработанной методики.

Это позволило автору разработать ивнедрить ряд конкретных технических решений по обеспечению высокого уровнякачества, сократить время и затраты на испытания по подтверждению наработки доотказа 100-200 тысяч часов до 30 %.Диссертационная работа выполнена на достаточном научно-техническомуровне, решает актуальную проблему по обеспечению должного качествасверхбольших интегральных микросхем на основе создания современного методаускоренных испытаний на надежность, отвечает требованиям ВАК, а ее авторДорошевич Павел Викторович заслуживает присуждения ему ученой степеникандидата технических наук по специальности 05.02.23 - "Стандартизация иуправление качеством продукции".Зам.

директора филиала научнотехнический центр «Белмикросистемы»холдинга «ИНТЕГРАЛ», член-кор. НАНлауреат Государственной премии р(заслуженный изобретатель республдтн, профессорА.И.Белоус220108, Минск, ул. Казинца И.П., 121А,Телефон: (+375 17) 398 05 52, E-mail: office@integral.byOlPfa. 20.