Биогенный магнетит и магниторецепция. Новое о биомагнетизме. Под ред. Дж. Киршвинка. Том 1 (1989) (1095847), страница 51
Текст из файла (страница 51)
чксготу диафрагмы объектива и области вокруг псе устанавливают пРсз»СРкой ж",$игматкзма и разреши!ошей способности. Э$О можно сделать рагиь1мк способами, по один из самых простых состоит в кСсг!С.гое1К$$$И Обраэца Прн ЛОСтатОчКО ВЫСОКОМ уВЕЛИЧЕПИИ, ПОЗВОЛВЮ- 1цсм уеидсз ь о 1с1п тонкую структуру фона. которую обычно наблюдают 1$а лк1бо$1 покрытой углеродом подложке, При небольших изменениях Ф~1кус1$! 11зх$! О$ень мелкие зернышки напылеиного у$'лерода должны Е"! ЛЯДСТЬ ЧегККМИ Н ОДИНаКОВО СИММЕтРНЧКЫМК, а ПО МСРС ЛОСтнжСПИЯ $1стк11$ю1о фокуса оии долхгны уменьшаться в размерах и утрачивать К!1!1 ГР'1СТ- Ест!к зерна начинают выглядеть удлиненными„з'го означает, "т" 11ТО11р11жа$ис имеет астигматическис карушскня и его следует исправ особенности если трсбу$о.гся микрофотографии при большом ун":1и'!С!!к!!.
О.гсутствис чсгких очертаний зерец прк фокусировке, воз- ~1~1~$к1 свидетельствует о загрязнении диафрагмы к~'или держегсчя '"б1рт1кн или О псс$ттбилькости элсвгронной чаСти прибора. Это так 1$"'зь11к1смос амягкос» нзображсиис будет он!с более кмя1'кнм» ив фото- гг. м~р~люрь~ и .ь, »~,,1, графиях, и в таких услОВНЯх зкспвримант проводить иальэЯ, тйк как йр~ этом трудно или вообще невозможно достичь высокого Разрепгсинх, Предварительные испытания оборудования можно проводгггь в; Обраэца, ПОдяажащЕМ иССЛадОВЙНИЮ, Иян на СПЕцнаЛЬНО ИЗГОТОВЛснньк тест'-Объектах. ПОсладние испОльзуют В процессе тахническОГО Обслу живання микроскопа, Следует помнить также, что при продолжигсль ном наблюдении исследуемый образец может повреждаться злахгрои ным пучком или зйгрязняться, 3.2.
Работа с микроскопом ИссладОВЙНИЕ И фОТОГрафирОВаИИЕ бОЯЬШИИСтаа ОбЫЧНЫХ Обраэцоа Г электронном микроскопе относительно несложны, ссяи не требустсг особо точной работы с высоким разрешением. При исследовании хора. шо приготовленных и равномерно нанесенных на сетку образцов мини ральных частиц остается лишь Выбрать случайным Образом иасколыи участкОВ для фотографирования при ОднОМ или нескольких увеличениях Изображение тщательно фокусируют и следят, иаг ли дрейфа обраь па-медленного однонаправленного смещения из-за нестйбильносга подложки или зарядных зффектоа.
Вслн высокое разрешение иа обяза. тельно, лучше немного недофокусировать изображению, что обычис лагко Осуществить иа практике. Если дрейф «сть, то не следует иьггаться делать фотографии, так как они все без исключения будут плохими, Изображение„создаваемое просвечивающим электронным микроскопом на флуоресцирующем экране, образуетсл-как и следует из назВЙИНЯ микроскопа-электронами, произадшими через Об~жзап.
ПО этому изменения КОнтрйстй Образца могут быть Обусловлены насколь кими причинами, в частности различиями в химическом составе аа счет масс-абсорбциоиных эффектов, поскольку более тяжелыа атомы ~жгло. цгают больше электронов, чем более лагкие. Существенны тввжа Рвали. чия В толщине образца и ага кристаллической структуре. Так, напра. зрачный вид гранулы может обьясияться либо слишком крунными Размерами, либо злектроиоплотиым материалом, из которож оиа состоит, либо особенностями кристаллографической ориентации. При изменении ориентации или Фокусировки изображение кристал. лических Образцов изменяется.
Значительныс изменения контраста являются результатом дифракпии иа кристаллической структуре„обусловленной различиями В толщина гранулы при разных ориентациях большие изменения величины угла Брзгга мо ут существенно Повлиять на изображение, и исследователь должен быть готов к этому,: когда производит фокусировку, Интерпретацию таких изображений облегчает серия картин, получаемых при различных расфокусировках При удаяе нии диафрагмы объектива эти эффекты усиливаются, поскольку лрв этом увеличивается вклад в общую картину лучей, претерпевших ди" фракцию. У некристаллических материалов зти явления отсутствуют.
Поэтому наличие нли Отсутствие дифракциоиных контуров и подобие ~~',;л ~,~;»и'наг з. и'миРОННРЙ .ИИА~мк'~;~ян1и ~. й" "" ай Очень полезны для решения ВОпроса о кристаллических , зооражс~и саойет ва ' тх неизвестного твердОГО материала. ~~,',Яыиая часгь минц~лов и в особенности минералы железа сильнее „оглашают электроны, чем неокрашенные биологические ткани.
Это можно успешно использовать при поиске минеральных вклю- свойсгао мо '""'Раз ~~,П „, „,„,, чеаий в юрий мииерали г изацви делгпот новые срезы, которые можно окрашивать для лсп:кгвроа оааниа биологических структур. Необходимость в новых срезах воз~!икает н ютому. что после исследования в просвечивающем электрон- ном зикр -Роскопе срезы редко хорошо воспринимают красители. П фотографировании дисперсного зернистого материала возпиРн хает про л. облсма определения выдержки. Автоматические экспонометры чогуг ла Й ;авзть неверные показания, и тогда гранулы могуг быть иедо- ЗКСПОВВРОВанм ПО СрааианнЮ С форм. ИССяадОВЙТЕЛЬ д~~жен РЕШИТЬ, что более важно-передача общей формы или внутренней структуры.
Се ия снимков с различными экспозициями гарантирует, что, по край. рв ВЕЙ мсра на Одной иэ фОТОГрафИЙ. 6ОЯЬШЙЯ ЧЙСтЬ Граиуя будст Сията С правильной выдержкой. Когда размеры и толщина частиц в поле зрения варьируют. невозможно выбрать экспозицию, подходящую для всех за рек. При Работе с электронным микроскопом время от времени наблю- дают структуры~ кОторые заслуживают упоминания в связи с тем, чтО они могут иметь артафактное происхождение.
Двумя наиболее сущест- венными нз них при иссладОванни дисперсного материала яВляются кайма и Включения. Светлая или тамная кайма по краям объекта может возникать Различными нутямн. Когда кайма расположена вокруг гранул более илв менее симметрично, оиа может быть артеФактом фокусировки, возни- каюиьчч из-за сильной пере- или иедофокусирювки.
Кайма может быть Тааже РЕЗудьт»ТОМ Общагс Загрязнення, ЙЫЗВЙИНОГО,ЯЛИТЕЛЬНЫМ Пра быаанисм Препарата под электронным пучком. Оиа может возникать и ври загрязнении вследствие высыхания растворимых органических ма- териалов, солей, буферов или красителей. Асимметричная кайма может быть вызвана сильным астигматизмом линзы объектива.
Не исключено, "то ес появление на фотографиях связано с дрейфом образца или НЗЧЕНЕНИСМ УСКОРЯЮЩЕГО НЙПРЯжаИИЯ ВО ВРЕМЯ фОТОГРЙФИРОааНИЯ. В ВИДЕ КайМЫ может Таяжа ВЫГЛЯДать ПОКРЫТИЕ И ТажЕЛЬГй Маталд На иСОЛНЕЧИОй» СТОРОНЕ ГраиуЛЫ, ЕСЛИ Обраэац ОттЕНЕН СЛИПГКОМ СИЛЬНО. Поэтому, прежде чем рассматривать любой выступ или кайму как Реальную структуру„следует исключить Возможность артефакта.
Если ас~ гранулы ~или нх большая часть) в ноле зрения имеют одинаковую кайму или жс все каймы идут а одном н том же направлении„то Вароятаость артефакта очень велика, Ц этом случае следует проверить "~'РЙЙ1юсть оборудования путем изменения фокусировки и~или устаиовк" астнгматнзма, а также проконтролировать Возможность загряз"еиня пучка путем наблюдения нового участка сетки и выявления в нем окаймленных структур. Лругой контроль загрязнена» пучка состоит э уменьшении увеличения и проверке наличие общего потемнение исследованной Области, Химическое загрязнение из-за плохой отмывки мажет наблюдэтьсл по всей поверхности сетки иди быль локальным, В обоих случаях, в особенности при малых увеличениях, исследователю будет казаться, что он ведет наблюдение через запотевшее стекло, причем резкое изображение получить очень трудно.
При больших увеличениях растворимые соля„крнсталлизующнеся на сетке, будут возгонятьсэ под пучком и, по-видимому, полносгью исчезать. Прн этом контраст Изображения будет понижаться н сохранятся лишь его очень слабые контуры, эбключениэ~ представляют собой другой возможный источник помех, Поскольку изображение в просвечивающем электронном микроскопе подобно тени на освещенном экране, мелкис частички, которые кажутся находяцшмися Внутри крупных„могут быть: 1) иовсрхвостными углублениями, 2) лежащими на поверхности включениями или 3) истинными включениями.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
