Биогенный магнетит и магниторецепция. Новое о биомагнетизме. Под ред. Дж. Киршвинка. Том 1 (1989) (1095847), страница 50
Текст из файла (страница 50)
П??мсстите сетки с нанесенным образцом в атмосферу светящегося ионного разряда (р»зд. 2„3), Если капля приобретает уплошениый профиль, характерный длл гнлрофильной поверх»$ости, можно дать Язбьггку воды испариться иа воздуха илн в случае сусненъий с высокой КО?$цс$ГГРаШ$Сй ЧаСтнц МОЖНО ОСТОрОжНО удаЛИТЬ ВОду црИКЛадЫВаНИЕМ """Сгре$ШОГО КОНца ЧИСтОй фИЛЬтрОВаЛЬНОИ буМаГИ К КраЮ СстКИ, Прн »» оз» кап:$Я станет более плоской и равномерно исплрится с гидрофиль$п»$$ повсрх?юсти, $$ на $з:тке остапутся хорошо диспергнрованные частиЦЬ$ ~>»СЛС НОЯЦОГО ВЫСЫХЯИИЯ СатКа ГОтОВа ДЛЯ ЗЛаКтРОНИО-МИКРО«КО- п?$чсскогО и«Следоваиля, ЕСЛН ВОда НЕ ВЫСЫхает равнОмерно, но быстро н и"'$$$ость?о всасывается в фильтровальную бумагу„то зто обычно у"""'ы$?не'$' на слншкОМ бОЛЬ$ду$О гндрОфсбнОсть поверхности сетки, В Ч, П.
ПРггж~т и меп, 'и, данном случае продолжать работу не имеет смысла, поскольку иа гигвсрхности такой сетки удержи!.Ся ма1го частиц, а тс, ксторьгс сохра !!Ятся, будут в!'рсгированы и плохо раслрсдслс!!ы. Лучше подвергнуть сетки действию светящегося газового разряда к начать все сначала Иногда полезен другой способ нанесения Образца на сетку, в оообен ности когда нужно избежать слипанкя магнитных часпщ. !Следует отмстить, что если магнитные частицы реагируют с большой скорос!ъю ТО Оии либо елин!ком ско!Н1а!!Трнрояаг!ы, либО чрезмерно валики для непосредственного изучения с помощью просвечивающего электрон!!ого микроскопа; в этом случае необходима дополнительная Обработка Образца.) Эта методика предусматривает помещение суспснзин Образца в стеклянный распылитель и — сразу Вослс ультразвукового Диспаргвро ванкя-нвнесанна на сетки микрокапелек суспензин, которые быстро высыхают, Стеклянные распылители для этой цели можно приобрести через торговые органиэации, поставлякицке оборудованкс для злак.
тронной микроскопии. 2.5. Оттененне и получение реплик Недостатком просвечивающего электронного микроскопа, поэволяюще- ГО дОСтигать ОЧЕНЬ ВЫСОКОГО раэрсц1ЕНня, яВЛЯЕтея тО„Что В ОбЫЧКЫХ условиях ок цс даст лагко интерпретируемой картины образ!!а. Современный сканирующий электронный микроскоп в очень большой степени восполнил этот пробел.
Он позволяет выявлять трехмерную картину большинства объектов и особенно пригоден для малых к средних увеличений, Однако арама ог времени появля!Отея работы, в которых очень мелкие частицы коллокдных размеров нссладуюоч ка пределе возможностей сканируго!наго электронного микроскопа. В тех случаях, когда требуются более высокое разрешение к более точнаЯ идентифккацкЯ, может быть полезен просвечивающий элахт~нЯгиьгй микроскоп, если нримеиять метод, известный как оттенскис.
С помся11ью этого метода сознается вцечатленке трехмерности изображения. Методика оттенения детально описана в большинстве публикаций но общим вопросам злегггро1!Кой микроскопии. По существу она вкгпочает в себя вакуумное нацылекие тяжелых металлов ~золоти, платины, хрома) нз тОчсчнОГО НСточннха под углом к поверхности Образца, ужа ВЫСОХ шаго ка подложке. металл, осаждаясь на одной поверхности и Образуя тень за другой, создает при наблюдении в электронный микрос«он впечатление глубины.
Если известен угол оттенения, то высота оттенен" ного материала может быть вычислена прн помощи тркгокОМетрнчсс ких Функций. Когда требуется более точное знание размеров,' д1!Я опраделения истинной величины угла оттенения можно использовать внутрскн!о!о калибровку. При этом к суспензии частип добавляют небольшое количество калибровочных шариков кзвгкт11ого размер!! кз полкстиролового латекса, по которым считывают угол оттенения. 1вкка шарики имсготся в продажа.
„. „,1 г.нмя 2.1(ттрвнной мимар(их!ильч цаги (гбрвэованкя чсткнх теней к мелкозернистого металлического 'Ры ггя необходимо- эбы до начала напыл ия металл был д„оя рытг! сгв! !гу ! т высокий вакуум. Методика оттенения может быть особенно аохс гва ,-ггга для опРеделении ФОРММ и РаэмеРОв очень тонких чешУек и В1>ЛОКК, гяоп, КоторЬ4С ддя улучщаиня КХ ВИдИМОСТК ОТТЕня!О1 Под ОЧЕНЬ „а,гмь!г! угггами, Наблюдение очень мелких частиц (< !ООА) могут гжложи ~жггять артефаКТЫ, СоздаааСМЫЕ ЭарНИСТОСТЬЮ МЕтаЛЛВ, НЕЧЕткОСТЫО с!!ей и * .и и оорвзованием «шубы», Результаты таких опытов следует Оце!Игггггг, С !гсторОЖНОСТЪЮ, Г!ггявхаг!КЕ НпвЫХ СКаинруЮщих ЗЛЕКтрОННЫХ МикрОСКОПОВ С бОЛСЕ ~,соким разрешением привело к тому, что трудный и требующий боль!пик затрат времени метод одноступецчатых реплик, используемый дггя !гыЯялекик ТОПОГрафии поверхности, стал считаться едва ли нс чСтаРсв11!ггм, Хотя с пОМО1КЬю ЭТОГО Метода ПО-Пражнсму можно пОЛу,ать ког!трастные н четкие микрофотографии при Высоких увеличениях, его приме!!я!От все мекыпе из-эа трудоемкости связанных с ним операпвг!.
Кроме то!О, существует Опасность ра;!рун1снкя Образца. Совср и!свпо О~!свкдко, чтО В тех случаях, кОГда Основной целью является получение информации о топографии поверхности, более предпочтителен сканнру!ощий электронный микроскоп. Заслуживает упоминания олгю исключение. по-видимому, замораживание-скалывание н замораживаг!ггс-травление биологической ткани лучше проводить с помощью гголучсггвя реплик. 1ам, кто интересуется этим вопросом подробно, Сдедуст ОбратнтЬСЯ К СПЕциаЛЬНЫМ ПубЛНКацКЯМ. 2.6. Методы подготовки тканой Исследователю. изучающему связан!!ыс с тканью минералы бкогенного нроксх а!Кланг!я гп з1!11 с помощью просвсчкВаюшаГО электронного михроскопа, приходится иметь дело с инструкциями, в которых подроб- !Ю ОпиСаНЫ С1ЮСОбЫ ПОдГОтОВКИ ТКанай.
В ЗадаЧИ ЭТОЙ ГЛЯВЫ НЕ ВХОднт лаже беглое Обсужнские огромного числа способов обработки, Фиксапвв, эаливкк, резки, окрашивання н перенесения срезов на сетки. Чи.га- ТСЛЮ. КптарЕСу1ощсыуСЯ даННЫМИ Вонроеаыи„цаяаеообрВЗНО ИэуЧИтЬ посжд!гис руководства, описывающие эти разнообразные процедуры, и г!ОСОВСГОВатьея С рабОтаЮщКМН в даННОЙ Обдаетн Спсциаянстаын, В свили с этим полезно Высказать несколько предостережений. Об'!Чггьге «НорыаЛЬНЫЕ» СПОСОбм ПрИГОтОВЛЕНня бОЛЫНКНСтаа ОбраэцОВ бадали!ичсской ткани для просвечивающей электронной микроскопии "аст!г СПС!1наЛЬНО Прадиаэиаяацм дхя бИОЛОГИЧССКНХ ИЯИ бНОХИМНЧЕСККХ целен далеких от целей исследовании минеральных материалов.
Тот. "г "ЕРВУю ОЧСРЕДЬ НЗУЧВЕТ ЛОКалиэаЦВЭО И ИДСНТКфИКЯЦКЮ 6ИОГЕКНЫХ ма"!гкткых (И11н кемагнктных) минеральных материалов, должен, ло к а ранней меРе на начальных стадиях исследования с помощью просвечваа икающей злсктроипои микроскопии, поставить во главу угла именно у ™да'гу в нс заботиться о сохранности клеточных структур ткани, Ч П Ури1111!сь1 и 1кчг.,1~ После того как минералы обнаруже$$ы к иде$$тифнцироваиы„м$11кне видоизменить обработку с келью улучшения фикса!!як самих тк1$нея Поэтому имеет смысл испробовать все способы, рекомендуемые в метоликаХ, чтобы убедит!.Ся В ТОМ, ЧТО $$римекяЕМЫЕ ПрОцедурм $$ химические препарать$ соответствуют задачам исследования. Цслес11об, раЗНО ПОСтаеитЬ Е КакаЛЕ рабОТЫ Слсду$ОщИЕ ВОПРОСЫ.
НС ВЫзовут ЛИ ХИМИЧССКНЕ а$ЕНТЫ, ИСПОЛьэуСМЬ$Е Прн фкКС$$$П$Н ®кксаторь$, промыночкьге растворы, буфсрь$, растворитсли), сущдст ВЕННЫХ ИХиепский раЗМЕрОВ, формы ИЛИ дажс ОбШЕй мнисраЛОГНЕ неорганических материалов, присутству$оших Или 1$рслполагчемых тка$$и; Это Особс$пго важно в случае т4$ких ми$$ср$$лое, как еж$ьцкт и аратонит. В случае ма$.нитных миисраз$ов вероятность такого влня1$ня должка бьггь меньше, 2, НЕ ЛУЧШЕ ЛИ Ыаблк1датЬ МИНЕраЛЫ $элехтрОНОПЛОТНЫЕ ПО СВСЕй природе) в их исхш$пом состоянии, когда окраска гяжелымк метал!!нми или прнмспгл$не фиксаторов спсдс$$ы к минимуму к;!и вовсе ОтсутсюИу !от'! 3.
НЕ ВЫЗЫЕа$ОТ ЛИ МИНЕраЛОГИЧЕСких ИЗМЕНЕННй тЕМПСратурНЫС И времскныс факторы, связанные с закл$оче$$ием образца в эаливоч$1ую среду? Это вполне верон!но в случае кахоляшлхся в неустойчивом состолнкн гидратое оксидов и гндроксилое железа, 4. Яелястся ли оптимальным рН жидкости в сскпио$шом желобе микротомл? Нс могут лк Некоторые минералы растворяться (илк Окко ляться), ко$'д$$ срс$ы пл$!Веют на поверхности раствора перел тхере$$ссе Несм кх Па ССТКУ7 3.
Изу$еиие образца в микроскопе Еапн Обраэсц тшдГОтОВЛЕН С СОбЛ$пдскиСМ ВСЕХ НЕОбХОЛНМЫХ уСЛОВИВ, Оя $1РигоДСИ ДЛЯ ИССЛЕДОЕаННЯ Е ЭЛСКтРОКНОМ МНКРОСКОпе. В ЭТОМ РвеаЕЛЕ МЫ раССМОтрИм КСКОтОрЫЕ ОбщИЕ рабОЧИС прОцЕдурЫ, КОТОРЫЕ МОгут иметь значение при исследовании минеральных материалов скогее из этих процедур хорошо известны для одних, но могут показаться новымя для других. Их выполнение требует об!пего ознакомления с просвечивающим злектронным микроскопом. 3.1, Подготовка микроскопа к работе $З ОТЛИЧКЕ От бОЛЬШИНСтеа Нрсжикх $$ркбОрОВ, СОВрЕМЕННЫй йРОСВС чиеающий электронный микроскоп представляет собой надеяп$ы" лсткоупраелясмый прибор. трсбу$О$!$ий минимальных усилий для полу чспкя высококачественных микрофотографий, Увелнчскис стабильности как зяскгротп$ой, так к мсханкчсскОй сиетсмы позволяет хороШо р!$бО гать па нем даже неопытному оператору, ! См не менее при нсследова$$$$я большинства Образцов и особенно искОторых минеральных образно~ $$еобходимо учитывать ряд факторов, , Сс..;;.:ст.111сх Хи К ЦРИШ т ЗЛ1С РУССК с1ПЛ! с.
1! 1 ждс чем дсзщ$ыю исследовать сетки с образцом, целссообразпо .б1с.$111ься» д$1статоч$$ок чистоте и хорошей юстировкс оборудоеапия. '1~$» НССХ, - х, кромс требующих большой то и!ости и высокого разре$пс$$ия, р1$бот ЗТО лс1'ко дсле$ОТ е тсчснис $$сскольких мику г, и зто време. Е11,КН! $"' 2 ,!.1 ! Рсзч$С 1$скпое енаЧЙЛС, ОбЫЧНО Оеунаетея В Да$1ьКСЙШЕМ„ $!,1слс вкл$очснкя элск.1ронного пучка праВялы$ую юстироеку нити „!акал!1 к;.сиафр;и мы кондсисорной линзы можно про$$срить, фокусируя „„„з~ ин экре$$ при небольшом псдокале катода.
$$рк хорошо отьюсти111е !инок низ и какала $$а экране набхиОдйют снммсгричнос изображение 1„1с»111;;1 1!к!к. а сцснтр11роениная дкйфр»$'ма КО1$с$Фюсора Обеспечиеаст с1нбилмктс 1$оло1кс1$ис пучка вблизи цсптра экрана при нсболыпих д„.11»1кускровках копдсисоркой линзы Эти дес регулировки сберегают е~ „. „1я л силь! при дальнсйшсм исследовании, особенно когда возникает $1~~~б1х 1$$$$м$1сть в точной настройке освс$це$$ия для фотографирования, рр11 кнрушскнк центровки нитей или диафр$гм конденсора освещепкс стн1!не!1 гся плохим илк Неравномерным. $.$б$ц11» цснзроека Остальных линз считается удОелствОритсльиой, сс'111 !1рк изменении увсличснкх или фокусировки изображение сохраняет с1111с попожспис в центре смотрового экрана.
(У многих $триборов эти $$С1$тро$1к11 фНКСКрОВВННЫ И трсбуЮТ ЛИШЬ НЕЗИаЧИТСЛЬНОй ПОдгОККК Либ1!) Ьооб1пгс НЕ Нуждаютея В $$СЙ.) (':!сдует ПрпвсрнтЬ Пен1рОВКу длафраГМЫ ЛИНЗЫ ОбЪЕКтияа К ЕС в;1к»!1кс иа $О$чсетво изображения, Это Легко сдсла$-ь (в присутствии нрс$1 цхгг1!) И1 тем спижсиия увеличспия до нуля, т. е. Выведением микро- скоп!1 в дпфракцконнык рсжим со светящейся точкой в центре экрана. 0бп!СС ФОНОВОЕ раосеяНИЕ ЭЛЕКтрОНОВ, ВЫЗЫЕаСМОЕ ВЕШССТВОМ Обраэца, Формиру»1 изображение диафрагмы объективе вокруг цснтралыюй сф~ "ускров1$$п$ОЙ днфракциОпйой точки. Изображение диафрагмы сзе'!си!11 бЫтЬ КОЛЬцСВЫМ, СВОбОдкЫМ От к$ряЗИ» И С$$ММЕтрИЧКЫм ОТНОСИ ГСЛ1.ПГс ЛпфрахцИОШЮй ТОЧКИ.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
