Автореферат (1024919), страница 4
Текст из файла (страница 4)
Данноевыражение учитывает основные физические параметры объекта исследования,влияющие на область формирования РХИ по глубине, а именно: атомный номер, атомный вес, коэффициент обратного рассеяния электронов пучка, плот13ность вещества, пробег первичных электронов, транспортный пробег первичных электронов, наиболее вероятный пробег электронов пучка, сечения упругого и неупругого рассеяния электронов в образце, средний потенциал ионизации и первичную энергию пучка электронов.
Новая модель φ (ρz) позволяетучитывать следующие физические явления, происходящие при взаимодействии изучаемого образца с пучком электронов: наличие обратно рассеянныхпервичных электронов, влияние неупругого рассеяния электронов пучка нараспределение интенсивности рентгеновского характеристического излученияв образцах, пространственную симметрию формирования РХИ многократнорассеянными электронами.2) Разработан единый подход расчета матричных поправок для широкого диапазона элементов от B по U для КРСМА. В рамках данного подхода, на основеуниверсального выражения функции распределения рентгеновского характеристического излучения по массовой толщине φ(ρz), были получены выражения для матричной поправки на поглощение рентгеновского характеристического излучения FA и для обратного рассеяния первичных электронов FВ.3) Представлены результаты расчета интенсивностей РХИ анализируемых линийв материале известного состава и проведено их сопоставление с экспериментальными данными, имеющимися в литературе.
Установлено, что предложенная методика расчета матричных поправок позволяет проводить расчет количественного содержания определенного элемента для различных составов от Bпо U.Основные результаты работы отражены в следующих публикациях:1. Михеев Н. Н., Степович М. А., Широкова Е. В. Функция распределения по глубине рентгеновского характеристического излучения при локальном электроннозондовом анализе // Известия РАН. Серия физическая. 2010. Т.
74, № 7. С. 1043–1047. (0,55 п.л./0,15 п.л.).2. Михеев Н. Н., Степович М. А., Широкова Е. В. Учет матричных эффектов прилокальном электронно-зондовом анализе с использованием новой модели функциираспределения по глубине // Известия РАН. Серия физическая. 2012. Т. 76, № 9.С. 1086–1089. (0,49 п.л./0,12 п.л.).3. Михеев Н. Н., Степович М.
А., Широкова Е. В. Новый способ расчета матричныхпоправок в рентгеноспектральном микроанализе // Прикладная физика. 2012. № 2.С. 31–35. (0,47 п.л./0,20 п.л.).4. Михеев Н. Н., Степович М. А., Широкова Е. В. Распределение средних потерьэнергии пучка электронов по глубине образца: применение в задачах количественного рентгеноспектрального микроанализа // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2013.
№ 12. С. 84–89. (0,64 п.л./0,05 п.л.).145. Расчет поправки на поглощение в рентгеноспектральном микроанализе/ Е. В. Широкова [и др.] // Труды МФТИ. 2013. Т. 5, № 1. С. 68–71.(0,41 п.л./0,18 п.л.).6. Учет матричных эффектов при измерениях методом рентгеноспектральногомикроанализа / Е.
В. Широкова [и др.] // Измерительная техника. 2013. № 7. С. 58–61. (0,41 п.л./0,10 п.л.).7. Методика количественного рентгеноспектрального микроанализа с учетом матричных эффектов / Е. В. Широкова [и др.] // Перспективные материалы. 2014.№ 2. С. 77–82. (0,58 п.л./0,12 п.л.).8. Ковтунова Т.И., Костенко А.В., Широкова Е.В. Об одном способе решениядифференциального уравнения тепломассопереноса в двухслойной структуре//Математика в совреенном мире: материалы 3-й Российской научнопрактической конференции. Калуга: КГПУ им. К.Э. Циолковского, 2008. С. 17–23.(0,30 п.л./0, 05 п.л.).9. Широкова Е. В. Новый метод расчета функции распределения по глубинерентгеновского характеристического излучения при локальном электронно-зондовом анализе // Наноинженерия – 2009: Сборник трудов второй Всероссийскойшколы-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых по направлению «Наноинженерия».
Москва: МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009. С.379–384. (0,34 п.л.).10. Широкова Е. В. Расчет сечения неупругого рассеяния киловольтных электронов в конденсированном веществе // Наноматериалы-2009: Сборник трудов IIВсероссийской школы-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых понаправлению «Наноматериалы». Рязань: РГРТУ, 2009. Т. I. С.84–89. (0,35 п.л.).11. Широкова Е.В. Новый метод расчета функции распределения интенсивностиизлучения по глубине при локальном электронно-зондовом анализе // Концентрированные потоки энергии в космической технике, электронике, экологии и медицине: Труды Межвузовской научной школы молодых специалистов.
Москва:КДУ, 2009. С. 215–218. (0,34 п.л.).12. Михеев Н. Н., Степович М. А., Широкова Е. В. Влияние пространственнойсимметрии процесса многократного рассеяния электронов на функцию распределения по глубине рентгеновского характеристического излучения при локальномэлектронно-зондовом анализе // Радиационная физика твердого тела: Труды XXМеждународного совещания. Москва: ГНУ «НИИ ПМТ», 2010.
Т. 2. C. 440–446.(0,56 п.л./0, 25 п.л.).13. Широкова Е. В. Использование новой модели распределения по глубине рентгеновского характеристического излучения для учета матричных поправок// Сборник научных работ лауреатов конкурсов на соискание областных именныхпремий и стипендий. Выпуск 7.
Калуга: КГУ им. К.Э. Циолковского, 2011. С.157–165. (0,46 п.л.).1514. Широкова Е. В. Новый способ расчета поправки на поглощение рентгеновского характеристического излучения в рентгеноспектральном микроанализе// Наноинженерия – 2011: Сборник четвертой Всероссийской школы-семинарастудентов, аспирантов и молодых ученых по направлению «Наноинженерия».Москва: МГТУ им.
Н.Э. Баумана, 2011. С.200–204. (0,26 п.л.).15. Михеев Н. Н., Степович М. А., Широкова Е. В. Учет матричных эффектов прилокальном электронно-зондовом анализе с использованием новой модели распределения по глубине рентгеновского характеристического излучения // Научныетруды Калужского государственного университета им. К.Э.
Циолковского. Естественные науки. Калуга: КГУ им. К. Э. Циолковского, 2011. С.141–145.(0,29 п.л./0,10 п.л.).16. Михеев Н. Н., Степович М. А., Широкова Е. В. Влияние выбора значениясреднего ионизационного потенциала при расчете матричной поправки на поглощение рентгеновского характеристического излучения // Научные труды Калужского государственного университета им. К.Э.
Циолковского. Естественныенауки. Калуга: КГУ им. К. Э. Циолковского, 2012. С.118–122. (0,29 п.л./0, 20 п.л.).17. Широкова Е. В, Михеев Н. Н., Степович М. А. Расчет матричных поправоктяжелых металлов для количественного рентгеноспектрального микроанализа// Труды XXII Международной конференции «Радиационная физика твердого тела». Москва: ФГБНУ «НИИ ПМТ», 2012. Т.2 С. 64–69. (0,50 п.л./0,10 п.л.).18. Широкова Е. В. Применение функции распределения рентгеновского характеристического излучения для исследования структуры материалов // Сборникнаучных работ лауреатов конкурсов на соискание областных именных премий истипендий. Выпуск 11.
Калуга: КГИРО, 2015. С.37–42. (0,35 п.л.).19. Широкова Е. В. Расчет максимальной глубины генерации рентгеновского характеристического излучения // Научные труды Калужского государственногоуниверситета им. К.Э. Циолковского. Естественные науки. Калуга: КГУим. К.Э. Циолковского, 2016. С.
225–228. (0,23 п.л.).20. Широкова Е. В., Михеев Н. Н., Степович М. А. Программа, реализующая расчет функции рентгеновского характеристического излучения по массовой толщине при локальном электронно-зондовом анализе материала // Свидетельство орегистрации программы в Фонде алгоритмов и программ Сибирского отделенияРАН № PR13027. 2013.21. Широкова Е.
В., Михеев Н. Н., Степович М. А. Решение прямой задачи количественного рентгеноспектрального микроанализа с использованием новых аналитических выражений для матричных поправок // Свидетельство о регистрациипрограммы в Фонде алгоритмов и программ Сибирского отделения РАН№ PR14005. 2014.16Широкова Екатерина ВасильевнаМоделирование процессов возбуждениярентгеновского излучения при взаимодействии киловольтных электроновс конденсированным веществомАвтореферат диссертации на соискание ученой степеникандидата физико-математических наукПодписано в печать 31.08.2016. Формат 60×84 1/16.Бумага офсетная. Печать офсетная.Печ. л.
1. Усл. печ. л. 0,93. Тираж 100 экз. Заказ № 107Отпечатано в Редакционно-издательском отделеКалужского филиала МГТУ им. Н.Э. Баумана248000, г. Калуга, ул. Баженова, 2, тел. 57-31-871.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
