СтудИзба » ВУЗы » МГТУ им. Баумана » Файлы МГТУ им. Баумана » 6 семестр » Методы диагностики в нанотехнологиях » Книги и методические указания » Иванов Ю.А. - Исследование поверхности методом атомно-силовой микроскопии

Иванов Ю.А. - Исследование поверхности методом атомно-силовой микроскопии

ВУЗ Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана
Семестр 6 семестр
Предмет Методы диагностики в нанотехнологиях
Категория Книги и методические указания
Дата 28 декабря 2017 в 08:58 Размер 6,43 Mb
Просмотров 107 Скачиваний 4
Качество Качество не указано Комментариев 0
Рейтинг
0
Автор zzyxel +3112
Файл проверен администрацией в том числе на вирусы с помощью EsetNod32.
Похожие файлы
Публічно-правовий спір
Опасные и вредные производственные факторы и меры защиты от них
Мачок желтый (глауциум желтый)
Государственный строй в России (вторая половина XVI-XVII вв.)
Лекции Сурков

Для добавления файла нужно быть зарегистрированным пользователем. Зарегистрироваться и авторизоваться можно моментально через социальную сеть "ВКонтакте" по кнопке ниже:

Войти через
или

Вы можете зарегистрироваться стандартным методом и авторизоваться по логину и паролю с помощью формы слева.

Не забывайте, что на публикации файлов можно заработать.