Лекции: Теоретическая механика лекции из МАИ (ворд)

Небольшая вырезка из случайно выбранного файла из архива:

Анализ метрологических структурных схем, выполненный выше в п.п. 3.1 - 3.3, свидетельствует о том, что инструментальная погрешность результатов измерений целиком определяется свойствами средств измерений. Характеристики этих свойств называются метрологическими характеристиками средств измерений.
В стандарте ГОСТ 8.009-84 “Государственная система обеспечения единства измерений. Нормирование и использование метрологических характеристик средств измерений” приводится определение метрологических характеристик и их перечень, общий подход к выбору номенклатуры метрологических характеристик, а также способы установления норм на них и примеры применения.
В технической документации на средства измерений следует приводить перечень метрологических характеристик и нормы на них, исходя из того, что метрологические характеристики должны позволять
- прогнозировать характеристики погрешности результатов измерений - при приобретении средства измерений или при планировании измерений,
- оценивать характеристики погрешности результатов измерений - при выполнении измерений в реальных условиях эксплуатации,
- контролировать сохранность метрологических характеристик средств измерений при их испытаниях с приемлемыми затратами без потери достоверности контроля.
Нормы на метрологические характеристики средств измерений устанавливаются с целью обеспечения гарантий их соблюдения и сохранности на момент приобретения средства измерений, в период их эксплуатации и хранения. В соответствии со стандартом ГОСТ 8.009-84 эти нормы сообщаются пользователю в нормативных документах вида технических условий (ТУ) или технических описаний (ТО), а также в рекламной документации (выборочно) в виде пределов допускаемых значений метрологических характеристик. Гарантии сохранности метрологических характеристик обеспечиваются производителем и контролирующими государственными и ведомственными метрологическими органами путем метрологических испытаний средств измерений.