Список публикаций ведущей организации (Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для диагностики электрофизических параметров элементов хранения энергонезависимой памяти)
Описание файла
Файл "Список публикаций ведущей организации" внутри архива находится в следующих папках: Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для диагностики электрофизических параметров элементов хранения энергонезависимой памяти, Документы. PDF-файл из архива "Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для диагностики электрофизических параметров элементов хранения энергонезависимой памяти", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "технические науки" из Аспирантура и докторантура, которые можно найти в файловом архиве РТУ МИРЭА. Не смотря на прямую связь этого архива с РТУ МИРЭА, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "остальное", в предмете "диссертации и авторефераты" в общих файлах, а ещё этот архив представляет собой кандидатскую диссертацию, поэтому ещё представлен в разделе всех диссертаций на соискание учёной степени кандидата технических наук.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст из PDF
Список публикаций сотрудников НТ-МДТ по сканирующей зондовоймикроскопии1.2.3.4.5.6.REDUCING THETEMPERATUREDRIFT EFFECT INSCANNING PROBEMICROSCOPESстатьяРАЗРАБОТКА ИстатьяПРИМЕНЕНИЕМЕТОДА МЯГКОГОПОДВОДААСМ_ЗОНДАИЗМЕРЕНИЕстатьяЖЕСТКОСТИАСМ_КАНТИЛЕВЕРА ПО СПЕКТРУТЕПЛОВЫХШУМОВComparative AtomicстатьяForce MicroscopyStudy of Soft Materialsin the Hybrid andAmplitude ModulationModesInvestigation of theстатьяlight field of asemiconductor diodelaser.Scanning Near-Field статьяOptical Microscopy ofLight EmittingSemiconductorNanostructuresMeasurementTechniques.SemiconductorsDecember2011, Volume45, Issue 13, pp1719-17224ИЗВЕСТИЯ РАН.СЕРИЯФИЗИЧЕСКАЯ,2013, том 77, № 8, с.1070–1072ИЗВЕСТИЯ РАН.СЕРИЯФИЗИЧЕСКАЯ,2013, том 77, № 8, с.1073–10753И.
М. Маловичко,3И. М. МаловичкоMicroscopy appliedto nanotechnology,2013, p. 7-126I Malovichko et al.Opt Express. 2014Oct 20;22(21):2643848.11Ankudinov A.V. etal.Ferroelectrics, 477:65–76, 201512Ankudinov A.V. etal.V. A. Bykov, E. V. Kuznetsov, E. S. PyankoСПИСОК ПАТЕНТОВ1. Патент US9110092. 18.08.2015. S.Magonov, S.Belikov, D.Alexander, C.Wall,S.Leesment,V.Bykov. Scanning probe based apparatus and methods for low-1force profiling of sample surfaces and detection and mapping of localmechanical and electromagnetic properties in non-resonant oscillatory mode.2. Патент №2459251.
20.08.2012. Быков В.А., Новак В.Р., Романец А.А.Способ выделения локальных объектов на цифровых изображенияхповерхности.3. ПатентUS8312560.13.11.2012.V.Bykov,A.Bykov,V.Kotov.Multifunctional scanning probe microscope.4. Положительное решение по заявке №2008150648 от 15.08.2012. БыковА.В., Быков В.А., Котов В.В. Емкостной датчик для линейныхперемещений.5. Положительное решение по заявке №2009128001 от 22.11.2012. БыковВ.А., Котов В.В., Голубок А.О.,Сапожников И.Д.
Сканирующийзондовый микроскоп, совмещенный с оптическим микроскопом.6. Положительное решение по заявке №2010134186 от 22.11.2012. БыковВ.А., Анкудинов А.В., Няпшаев И.А., Шубин А.Б., Сафронова О.В.Способ изготовления коллоидного зондового датчика для атомносилового микроскопа.2.
