список трудов Гамкрелидзе С.А. на тему Д.П.В. (Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность)
Описание файла
Файл "список трудов Гамкрелидзе С.А. на тему Д.П.В." внутри архива находится в следующих папках: Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность, Документы. PDF-файл из архива "Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "технические науки" из Аспирантура и докторантура, которые можно найти в файловом архиве РТУ МИРЭА. Не смотря на прямую связь этого архива с РТУ МИРЭА, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "остальное", в предмете "диссертации и авторефераты" в общих файлах, а ещё этот архив представляет собой кандидатскую диссертацию, поэтому ещё представлен в разделе всех диссертаций на соискание учёной степени кандидата технических наук.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст из PDF
СПИСОКнаучных и учебно-методических трудов официального оппонента, докторатехнических наук, профессора, главного научного сотрудника Федеральногогосударственного бюджетного учреждения науки Институтасверхвысокочастотной полупроводниковой электроники Российскойакадемии наук Гамкрелидзе Сергея Анатольевича по теме диссертацииДорошевича Павла Викторовича «Методы ускоренных испытанийсверхбольших интегральных микросхем на надежность»№Наименование работы, ее видп/п112345672ОСТ В 11305.007.2-82.Микропроцессорные средствавычислительной техники.Методы испытаний.Несекретно.ОСТ В 11305.007.3-82.Микропроцессорные средствавычислительной техники.Общие технические условия(часть 2).
Секретно.Статья. Об оценке аппаратнойизбыточности средстввстроенного контроля БИС.Несекретно.Статья. Формализованнаямодель прогноза параметровБИС и СБИС. Несекретно.ФормаработыВыходные данные341. Научные работыПеч.Л.:ВНИИ"Электронстандарт",1983Печ.Л.:ВНИИОбъем,стр.Соавторы5667/14 Бедрековский М.А.,Соколов В. Г.
и др.20/4"Электронстандарт",1983Печ.Печ.Бедрековский М.А.,Соколов В. Г.Электронная техника.Сер.З. Вып.1(103). - М.:ЦНИИ "Электроника",1983Электронная техника.Сер.З. Вып.1(113).-М.:ЦНИИ "Электроника",1985Вопросы обороннойтехники. Сер.8. Вып.1(45).-М.: ЦНИИинформации, 19855/3Харько В.В.,Щебаров Ю.Г.9/4Харько В.В.,Шахнов В.
А.7/3Харько В. В.,Горовой В. В.Старостин О. В.Статья. Модели прогнозаразвития основных параметровБИС и СБИС. Секретно.Печ.Статья. Сравнительный анализметодов повышениянадежности аппаратуры наоснове микропроцессорныхБИС. Секретно.Статья. Определение характеристик надежностисуперкристаллов на этапепроизводства и эксплуатации.Несекретно.Печ.Сборник научнометодических материалов. - Тверь: в/ч03444,19894/2Печ.Труды 22 ЦНИИИ МОРФ. Вып.46. - М.: 22ЦНИИИ МО РФ, 199412/8 Дорошевич В.К.№Наименование работы, ее видп/п189101112132Статья.
Оценка качестваразличных конструкций СБИСна основе суперкристаллов.Несекретно.Статья. Аспекты внедренияимитационных методов радиационных испытаний припроектировании и производстве изделий микроэлектроники. Несекретно.Статья. Оценка уровня качества СБИС методом комплексной физико- техническойэкспертизы. Несекретно.Статья. Применение лазерныхимитаторов для проведенияфизико-технического анализаизделий и структур вмикроэлектронике и наноэлектронике.
Несекретно.Доклад. Использование лазерно-имитационного методафизико-технического анализадля установления оптимальныхэлектрических режимов работыизделий микроэлектроники имодулей на их основе. Несекретно.Отчет о НИР. Исследованияхарактеристик архитектуры,структуры и схемотехникимикро-ЭВМ с целью созданияметодологии военнотехнического сопровождениямикропроцессорных средстввычислительной техники.Шифр "Резинка". Дляслужебного пользования.Формаработы3Печ.Печ.Выходные данные4Труды 22 ЦНИИИ МОРФ. Вып.46, - М.:22ЦНИИИ МО РФ,1994Вопросы атомнойнауки и техники.Вып.2.
- М.: ВНИИ ЭФ,1996г.Объем,стр.Соавторы5617/6 Дорошевич В.К.,Корнеев В.В.3/1Герасимов В.Ф.,Телец В.А.Труды Международнойакадемииинформатизации.Отделение микроэлектроники и информатики. Вып.2. М.: МАИ, 1997.Электронная промышленность.№ 2,- М.:ЦНИИ "Электроника",19975/2Дорошевич В.К.4/1Громов Д.В.,Телец В.А.Материалы научнотехнической конференции "Проблемы иперспективы автоматизированногоуправления космическими средствами".Тезисы докладов исообщений. С.Петербург: ВИКА им.А.Ф.Можайского, 19972. Отчеты о НИРРукописи.
Инв.№ 527. 22ЦНИИИМО РФ, 19838/8Печ.Печ.Печ.55/10 Бередников Э.И.,Соколов В.Г.,Завьялов А.В.№Наименование работы, ее видп/п12ФормаработыВыходные данныеОбъем,стр.Соавторы3456Отчет о НИР. Исследование и Рукописи. Инв. № 947. 22ЦНИИИ 107/31 Рябоконь В.Н.,разработка экспериментальныхЛогинов Б.А.,МО РФ, 1992методов и критериев оценкиТаранцев А. А.,минимальных размеров,Горбачева И.А.,стабильности и качества14Торопов Ю.А. иэлементов наноэлектроникидр., всего 11для новых поколений ИЭТ ичеловеквычислительной техники.Шифр "Наука-2000-нано".Несекретно.Рукописи. Инв.№ 402. 22ЦНИИИ 46/14 Дорошевич К.К.Отчет о НИР. Разработкатребований МинобороныМО РФ, 1996России по обеспечениюкачества изделий15 микроэлектроникисверхвысокой функциональнойсложности на основегибридной технологии. Шифр"Осень-3-22".
Несекретно.3. Научно-методическая литератураПеч.Учебно-методическое пособие.М.: 22 ЦНИИИ МО РФ, 25/9 Телец В.А.,Методика сравнительных2001Дорошевич В.К.16 испытаний конструкций СБИСс суперкристаллами.Несекретно..
