отзыв Дейтон (Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность)
Описание файла
Файл "отзыв Дейтон" внутри архива находится в следующих папках: Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность, Документы. PDF-файл из архива "Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "технические науки" из Аспирантура и докторантура, которые можно найти в файловом архиве РТУ МИРЭА. Не смотря на прямую связь этого архива с РТУ МИРЭА, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "остальное", в предмете "диссертации и авторефераты" в общих файлах, а ещё этот архив представляет собой кандидатскую диссертацию, поэтому ещё представлен в разделе всех диссертаций на соискание учёной степени кандидата технических наук.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст из PDF
УТВЕРЖДАЮГлавный конструкторОАО «ЦКБ «Дейтон»ОТЗЫВна автореферат диссертации Дорошевича Павла Викторовича«МЕТОДЫ УСКОРЕННЫХ ИСПЫТАНИЙ СВЕРХБОЛЬШИХИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ НА НАДЕЖНОСТЬ»,представленный на соискание ученой степени кандидататехнических наук по специальности05.02.23 - «Стандартизация и управление качеством продукции»Существующие методы ускоренных испытаний на безотказность инаработку до отказа разработаны применительно к микросхемам спроектными нормами 2, 3 мкм и более. Необходимо проведение исследованийпо определению энергии активации, механизмов отказов и разработке методаускоренных испытаний на безотказность и наработку до отказа длясверхбольших интегральных микросхемы (СБИС) с размерами элементов 0,60,13 мкм, т.к. в настоящее время указанные СБИС разрабатываютсяпредприятиями.Диссертационная работа Дорошевича П.В. посвящена актуальнойпроблеме проведения ускоренной оценки качества СБИС, удовлетворяющимвысоким требованиям по условиям применения.В результате проведенных автором исследований установлено, что:- определяющим фактором ускоренных испытаний на наработку доотказа является повышенная температура;- значение энергии активации целесообразно определять посредствомпроведения параллельных испытаний выборок в различных режимах;- среднее значение энергии активации на 0,1-0,15 эВ больше, чемзначение энергии активации для микросхем с проектными нормами 2,3 мкм иболее.Автором разработан метод ускоренных испытаний на наработку доотказа СБИС для проектных норм 0,6-0,13 мкм и менее.
Основой данногометода является методика проведения ускоренных испытаний приповышенной температуре.Практическая значимость работы заключается в том, что проведеноуточнение методов проведения ускоренных и экспериментальных испытаний.Разработанныйметодпозволяет проводитьускореннуюоценкуработоспособности СБИС (сократить сроки выполнения НИОКР).Диссертационная работа Дорошевича П.В. является законченнойработой, в которой автором предложено решение актуальных проблемускоренной оценки и улучшения надежности микросхем.Диссертационная работа выполнена в соответствии с п.9 Положения оприсуждении ученых степеней к кандидатским диссертациям, а её автор,Дорошевич Павел Викторович, заслуживает присуждения ученой степеникандидата технических наук по специальности 05.02.23 - «Стандартизация иуправление качеством продукции».Индекс, город, адрес:124498, г.
Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1.Тел.: +7 (499) 735-63-98 E-mail: green-house@deyton.ruПодпись Смирнова ЮрияНачальник отдела кадровft. ®os, £o/s~2.