Диссертация (Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность), страница 14
Описание файла
Файл "Диссертация" внутри архива находится в папке "Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность". PDF-файл из архива "Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "технические науки" из Аспирантура и докторантура, которые можно найти в файловом архиве РТУ МИРЭА. Не смотря на прямую связь этого архива с РТУ МИРЭА, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "остальное", в предмете "диссертации и авторефераты" в общих файлах, а ещё этот архив представляет собой кандидатскую диссертацию, поэтому ещё представлен в разделе всех диссертаций на соискание учёной степени кандидата технических наук.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст 14 страницы из PDF
"Экономика и производство" № 4, 1999. – с. 15-17.71. Дорошевич К.К., Попов В.Н., Стрижков С.А Методика статистического контроля технологических процессов изготовления интегральных микросхем дляпартий малого объема при прерывистом производстве. "Микроэлектроника"№ 2, 2002 (т. 31). – с. 152-160.72. Исследование путей совершенствования системы обеспечения качества электрорадиоизделий военного назначения: отчет о НИР/ ответственный исполнитель.– Мытищи: 22 ЦНИИИ МО, 1987.
– 177 с.73. Лопухин В.А., Гурылев А.С.. Автоматизация визуального технологическогоконтроля в электронном приборостроении. Л. Машиностроение, 1987. – 287 с.74. Дорошевич П.В. Исследования по определению энергии активации сверхбольших интегральных схем. МО РФ "Военная электроника и электротехника",вып.
65 (Ф), часть 2, 2013. – с.85 –92.75. Сретенский В.Н. Метрологическое обеспечение производства приборов микроэлектроники, М., Радио и связь, 1988. – 144 с.76. Исследования по развитию методов испытаний интегральных микросхем, дополнению и корректировке действующей нормативной документации: отчетныематериалы по НИР («Осень-7») /ответственный исполнитель. – Мытищи: ФГУП«22 ЦНИИИ Минобороны России», 2003. – 201 с.10877. Обобщение и анализ результатов внедрения требований Минобороны Россиипо обеспечению качества микросхем на этапе разработки и производства.
Разработка предложений по дополнению и уточнению ОСТ В 11 0998-99 «Микросхемыинтегральные. Общие технические условия: отчетные материалы по НИР («Принцесса») /ответственный исполнитель. – Мытищи: ФГУП «22 ЦНИИИ Минобороны России», 2005.– 208 с.78. ОСТ В 11 073.013-2008 Микросхемы интегральные. Методы испытаний, Издво Минобороны, 2008.
– 37 с.79. Дорошевич В.К., Дорошевич П.В. Определение оптимального состава отбраковочных испытаний пластин и микросхем. "Наукоемкие технологии" №4,2012. – с.40 - 44.80. Голубев В.В., Нехай А.П., Родд Т.Я. Инженерный метод определения оптимальной продолжительности ЭТТ и контроля надежности партий ИЭТ на основемодели ранних отказов по результатам ЭТТ // Электронная техника. Сер. 8.Управлениекачеством,стандартизация,метрология,испытания,1989.Вып.
4. — с. 14–16.81. ОСТ 11 070.088-84 Изделия электронной техники. Испытания по оценке конструктивно-технологических запасов. Общие требования, 1984. – 25 с.82. Сотсков Б.С. Основы теории и расчета надежности элементов и устройств автоматики и вычислительной техники. - М.: Высшая школа, 1970. – 270 с.83. РД 22.3.119-89 Методическое пособие по выбору и использованию методов исредствэлектрофизическогодиагностированияэлектрорадиоизделий,М: 22 ЦНИИИ МО РФ, 1989.
– 54 с.84. Разработка требований к системе контроля и обеспечения качества технологических процессов изготовления микросхем с целью повышения их надежности.Разработка требований к системе контроля процессов изготовления микросхем109военного назначения с повышенной надежностью: отчет о НИР/ ответственныйисполнитель.– Мытищи: 22 ЦНИИИ МО, 1980. – 231 с.85. Дорошевич В.К. Требования к системе проектирования микросхем, "Нано- имикросистемная техника" №5, 2008. – с.
32-33.86. Гусев В.П., Фомин А.В., Кунявский Л.Г. и др. Расчет электрических допусковрадиоэлектронной аппаратуры: Изд-во Советское радио, 1963. – 221 с.87. Сиро С. Практическое руководство по управлению качеством. Пер. с яп.; Подред. В.И. Гостева. - М.: Машиностроение, 1980. – 214 с.88. Перроте А.И., Карташов Г.Д., Цветаев К.Н. Основы ускоренных испытанийрадиоэлементов на надежность: Изд-во Советское радио, 1968. – 224 с.89.
Босих Е.Н., Голубев В.В., Попов В.Н. Методология ускоренных испытаниймикросхем на надежность на основе использования моделей ускорения механизмов отказов // Электронная техника. Сер. 8. Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания, Вып. 2, 1986.— с. 44–48.90. Половко А.М. Основы теории надежности: Изд-во Наука, 1964. – 448 с.91. Герцбах И.В., Кордонский Х.Б. Модели отказов: Изд-во Советское радио,1966. – 172 с.92. Кейджян Г.А. Основы обеспечения качества Микроэлектронной аппаратуры:Изд-во «Радио и связь», 1991.
– 231 с..
