ЭМ (Раздаточные материалы от преподавателя), страница 26

PDF-файл ЭМ (Раздаточные материалы от преподавателя), страница 26 Метрология, стандартизация и сертификация (МСиС) (13072): Другое - 11 семестр (3 семестр магистратуры)ЭМ (Раздаточные материалы от преподавателя) - PDF, страница 26 (13072) - СтудИзба2017-12-21СтудИзба

Описание файла

Файл "ЭМ" внутри архива находится в папке "Раздаточные материалы от преподавателя". PDF-файл из архива "Раздаточные материалы от преподавателя", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "метрология, стандартизация и сертификация (мсис)" из 11 семестр (3 семестр магистратуры), которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "остальное", в предмете "метрологическое обеспечение инновационных технологий" в общих файлах.

Просмотр PDF-файла онлайн

Текст 26 страницы из PDF

– 672 с.162Электронная микроскопия30. Раков Э. Г. Химия и применение углеродных нанотрубок // Успехихимии. – 2001. – Т. 70. – № 10. – С. 934–973.31. Рембеза С. И., Рембеза Е. С. Нанокомпозиты на основе диоксидаолова // Химия твердого тела и современные микро- и нанотехнологии : Тезисы IV Международной конференции. – КисловодскСтаврополь : СевКавГТУ, 2004. – 492 с.32.

Русанов А. И. Удивительный мир наноструктур // Журнал общейхимии. – 2002. – Т. 72. – № 4. – C. 532–549.33. Рыков С. А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур. – СПб. : Наука, 2001.34. Рябенко Е. А., Кузнецов А. И. // ЖПХ. – 1977. – № 7. – С. 1625−1627.35. Сергеев Г. Б. Нанохимия. – М. : МГУ, 2003. – 288 с.36. СЗМ-методики – материалы сайта ru.ntmdt.ru – http://ru.ntmdt.ru/SPM-Techniques/.37.

Синдо Д., Оикава Т. Аналитическая просвечивающая электроннаямикроскопия. – М. : Техносфера, 2006.38. Технологии, оборудование и системы управления в электронноммашиностроении. В кн. : Машиностроение : энциклопедия. Т.III-8 /Ю. В. Панфилов [и др.] // Ред. совет : К. В. Фролов (председатель)[и др.]; под общ. ред. Ю. В. Панфилова. – М. : Машиностроение,2000. – 744 с.39.

Фельдман Ф., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. – М. : Мир, 1989.40. Физика наноразмерных систем / А. Я. Шик [и др.] // Под. ред.А. Я. Шика. – СПб. : Наука, 2001. – 160 с.41. Харрис П. Углеродные нанотрубы и родственные структуры. Новыематериалы XXI века / Пер. с англ. // Под. ред. Л.

А. Чернозатонского.– М. : Техносфера, 2003. – 336 с.42. Шмидт В. В. Введение в физику сверхпроводников. – М. : МЦНМО, 2000. – 402 с.43. Anderson P. W. // Phys. Rev. – 1958. – V. 109. – № 5. – P. 1492−1505.44. Cappella B., Dietler G. Force-distance curves by atomic force microscopy // Surface Science Reports. – 1999. – 34, 1.45. Chou S. Y.

Nano-imprint lithography and lithographically induced selfassembly // MRS Bulletin. – 2001. – 26. – P. 512–517.46. Cамойлович С. М. Автореферат канд. диссертации. – М. : МГУ, 1999.47. Electrical resistivity as characterization tool for nanocrystal metals /J. I. McGrea [et al.] // Nanophase and Nanocomposite Materials III. –Warrendale : Materials Research Society, 2000. – P.

461–466.Литература16348. Electrochemical Assembly of Ordered Macropores in Gold / E. Judith[et al.] // Adv. Materials. – 2000. – 12. № 12. – P. 888–900.49. Ellsworth M. W. Nanocomposite materials for Electronics ComponentsIndustry. – MIT-Standford-Bercley Nanotechnology Forum, Menlo-Parc,CA, 2004. – 21 p.50.

Encyclodedia of nanoscience and nanotechnology / Ed. by H. S. Nalwa //ASP. – V. 6. – 2004. – P. 321–340.51. Gleiter H. Nanostructured materials : basic concepts and microstructure// Acta Materialia. – 2000. – V. 48. – № 1. – P. 1–29.52. Hsu J. W. P. Near-field scanning optical microscopy studies of electronicand photonic materials and devices // Materials Science and EngineeringReports. – 2001. – 33, 1.53. Joannopoulos J. D. // Nature. – 2001. – V. 414.

– P. 257−258.54. John S. // Phys. Rev. Lett. – 1987. – V. 58. – № 23. – P. 2486−2489.55. Knobel R., Cleland A. New NEMS device // Nature. – 2003. – V. 424. –P. 291–294.56. Kubby J. A., Boland J. J. Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Surfaces // Surface Science Reports. – 1996. – 26, 61.57. Miguez H. [et al.] // J. Lightwave Technol. – 1999. – V.

17. – № 11. –P. 1975−1981.58. Miyazaki H., Ohtaka K. // Phys. Rev. B. – 1998. – V. 58. – № 11. –P. 6920−6937.59. Mott N. F. // Adv. Phys. – 1967. – V. 16. – № 61. – P. 49−144; andMott N. F. // Philos. Mag. – 1968. – V. 17. – № 150. – P. 1259−1268.60. Nanocrystalline materials : a way to solids with tunable electronic structure and properties / H. Gleiter [et al.] // Acta Materialia. – 2001. – V. 48.– P. 737–745.61. Nanomaterials.

Synthesis, Properties and Applications / EdsA. S. Edelstein, R. C. Cammarata. – Bristol : Institute of Phesics Publishing, 1998. – 596 p.62. Newnham R. Size effects and nonlinear phenomena in ferroic ceramics //Third Euro-Ceramics / Eds. P. Duran, J. Fernandes. – Faenza : EditriceIberica, 1993.

– V. 2. – P. 1–9.63. Paesler M. A., Moyer P. J. Near-Field Optics : Theory, Instrumentationand Applications. – Wiley, 1996.64. Palumbo G., Erb U., Aust K. Triple line disclination effect on the mechanical behavior of materials // Scripta Metallurgica et Materialia. –1990. – V. 24. – P. 1347–1350.65. Rai-Choudhury P. Handbook of Microlithography, Micromachining andMicrofabrication. Bellingham : SPIE, 1997.164Электронная микроскопия66. Romanov S. G.

[et al.] // Syntetic Metals. – 2001. – V. 116. – P. 475−479.67. Sakurai T. Advances in scanning probe microscopy. – Springer-Verlag,2000.68. «The Millipede» – Nanotechnology Entering Data Storage / P. Vitter[et al.]. – 2005. – 22 p. (http://domino.research.ibm.com/comm/pr.nsf/pages/rscd.millipede-picg.html/$FILE/pv7201-preprint.pdf).69. Whitesides G., Grzybowski B. Self-assembly at all scales // Science. –2002. – 295. – P.

2418–2421.70. Yablonovitch E. // Phys. Rev. Lett. – 1987. – V. 58. – № 20. –P. 2059−2062.71. Yoshino K. [et al.] // Appl. Phys. Lett. – 1999. – V. 74. – № 18. –P. 2590−2592.72. http://ufn.ru.73. Власов А. И., Елсуков К. А., Панфилов Ю. В. Методы микроскопии. –М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. – 280 с. (Библиотека«Наноинженерия» : в 17 кн.

Кн. 1).СОДЕР ЖАНИЕПРЕДИСЛОВИЕ ............................................................................................ 5СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ .......................................................................... 7ВВЕДЕНИЕ ..................................................................................................... 81. КОНСПЕКТ ЛЕКЦИЙ..........................................................................

101.1. НАНОРАЗМЕРНЫЕ СТРУКТУРЫ: КЛАССИФИКАЦИЯ,ФОРМИРОВАНИЕ И ИССЛЕДОВАНИЕ .................................................. 101.1.1. Общие сведения о наноразмерных структурах .................... 101.1.2. Особенности свойств наноструктур ...................................... 211.1.3. Применение наноструктур для созданияэлементов приборных устройств ........................................... 281.2. ВВЕДЕНИЕ В ЭЛЕКТРОННУЮ МИКРОСКОПИЮ ................................... 321.2.1. Введение в основы электронной микроскопии .................... 321.2.2. Существующие виды электронных микроскопов ................

361.3. ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯМИКРОСКОПИЯ .................................................................................. 371.3.1. Основы просвечивающей электронноймикроскопии ............................................................................ 371.3.2. Конструкция просвечивающего электронногомикроскопа .............................................................................. 371.3.3. Подготовка объектов для исследованийи особые требования к ним .................................................... 411.3.4.

Формирование луча................................................................. 421.3.5. Методы визуализации............................................................. 431.3.6. Недостатки и ограничения, особенностиприменения ПЭМ .................................................................... 431.4. РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ...................................... 461.4.1.

Физические основы растровой электронноймикроскопии ............................................................................ 461.4.2. Устройство и работа растрового электронногомикроскопа .............................................................................. 501.4.3. Подготовка объектов для исследованийи особые требования к ним .................................................... 571.4.4. Технические возможности растровогоэлектронного микроскопа....................................................... 58166Электронная микроскопия1.5. ЗЕРКАЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ..................................... 591.5.1. Физические основы зеркальной электронноймикроскопии ............................................................................ 591.5.2.

Конструкция зеркального электронногомикроскопа .............................................................................. 611.5.3. Виды отображения результатов ............................................. 651.5.4. Разрешение и чувствительность ............................................ 681.5.5.

Применение ЗЭМ .................................................................... 701.6. РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ МИКРОАНАЛИЗ ....................................... 711.6.1. Физические основы рентгеноспектральногомикроанализа ........................................................................... 711.6.2.

Устройство и работа рентгеноспектральногомикроанализатора ................................................................... 741.6.3. Подготовка объектов для исследованийи особые требования к ним .................................................... 751.6.4. Технические возможности рентгеноспектральногомикроанализатора ................................................................... 761.6.5. Области применения рентгеноспектральногомикроанализатора ................................................................... 782.

МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯПО ВЫПОЛНЕНИЮ ЛАБОРАТОРНЫХ РАБОТ .......................... 802.1. ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА № 1.ОСНОВЫ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ....................... 802.2. ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА № 2.ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ НА РАСТРОВОМЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ ............................................................ 862.3. ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА № 3.АНАЛИЗ РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ РАСТРОВОЙЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ .......................................................... 912.4.

Свежие статьи
Популярно сейчас
Как Вы думаете, сколько людей до Вас делали точно такое же задание? 99% студентов выполняют точно такие же задания, как и их предшественники год назад. Найдите нужный учебный материал на СтудИзбе!
Ответы на популярные вопросы
Да! Наши авторы собирают и выкладывают те работы, которые сдаются в Вашем учебном заведении ежегодно и уже проверены преподавателями.
Да! У нас любой человек может выложить любую учебную работу и зарабатывать на её продажах! Но каждый учебный материал публикуется только после тщательной проверки администрацией.
Вернём деньги! А если быть более точными, то автору даётся немного времени на исправление, а если не исправит или выйдет время, то вернём деньги в полном объёме!
Да! На равне с готовыми студенческими работами у нас продаются услуги. Цены на услуги видны сразу, то есть Вам нужно только указать параметры и сразу можно оплачивать.
Отзывы студентов
Ставлю 10/10
Все нравится, очень удобный сайт, помогает в учебе. Кроме этого, можно заработать самому, выставляя готовые учебные материалы на продажу здесь. Рейтинги и отзывы на преподавателей очень помогают сориентироваться в начале нового семестра. Спасибо за такую функцию. Ставлю максимальную оценку.
Лучшая платформа для успешной сдачи сессии
Познакомился со СтудИзбой благодаря своему другу, очень нравится интерфейс, количество доступных файлов, цена, в общем, все прекрасно. Даже сам продаю какие-то свои работы.
Студизба ван лав ❤
Очень офигенный сайт для студентов. Много полезных учебных материалов. Пользуюсь студизбой с октября 2021 года. Серьёзных нареканий нет. Хотелось бы, что бы ввели подписочную модель и сделали материалы дешевле 300 рублей в рамках подписки бесплатными.
Отличный сайт
Лично меня всё устраивает - и покупка, и продажа; и цены, и возможность предпросмотра куска файла, и обилие бесплатных файлов (в подборках по авторам, читай, ВУЗам и факультетам). Есть определённые баги, но всё решаемо, да и администраторы реагируют в течение суток.
Маленький отзыв о большом помощнике!
Студизба спасает в те моменты, когда сроки горят, а работ накопилось достаточно. Довольно удобный сайт с простой навигацией и огромным количеством материалов.
Студ. Изба как крупнейший сборник работ для студентов
Тут дофига бывает всего полезного. Печально, что бывают предметы по которым даже одного бесплатного решения нет, но это скорее вопрос к студентам. В остальном всё здорово.
Спасательный островок
Если уже не успеваешь разобраться или застрял на каком-то задание поможет тебе быстро и недорого решить твою проблему.
Всё и так отлично
Всё очень удобно. Особенно круто, что есть система бонусов и можно выводить остатки денег. Очень много качественных бесплатных файлов.
Отзыв о системе "Студизба"
Отличная платформа для распространения работ, востребованных студентами. Хорошо налаженная и качественная работа сайта, огромная база заданий и аудитория.
Отличный помощник
Отличный сайт с кучей полезных файлов, позволяющий найти много методичек / учебников / отзывов о вузах и преподователях.
Отлично помогает студентам в любой момент для решения трудных и незамедлительных задач
Хотелось бы больше конкретной информации о преподавателях. А так в принципе хороший сайт, всегда им пользуюсь и ни разу не было желания прекратить. Хороший сайт для помощи студентам, удобный и приятный интерфейс. Из недостатков можно выделить только отсутствия небольшого количества файлов.
Спасибо за шикарный сайт
Великолепный сайт на котором студент за не большие деньги может найти помощь с дз, проектами курсовыми, лабораторными, а также узнать отзывы на преподавателей и бесплатно скачать пособия.
Популярные преподаватели
Добавляйте материалы
и зарабатывайте!
Продажи идут автоматически
5288
Авторов
на СтудИзбе
417
Средний доход
с одного платного файла
Обучение Подробнее