ЭМ (Раздаточные материалы от преподавателя), страница 25

В чем особенности сканирования?3. По какой причине минимальное ускоряющее напряжение15 кВ? Ответ обосновать.4. Какие режимы работы есть у рентгеноспектрального микроанализатора? В чем их принципиальные отличия.5. Назовите искажение, вносимое высоким ускоряющим напряжением. Его влияние на рентгеноспектральный микроанализ.6.

Функциональный состав Oxford INCA X-RAY.7. Опишите идеальные условия рентгеноспектральной микроскопии.8. Расскажите о методах очистки образцов перед сканированием.9. Каковы минимальные размеры площади поверхности длярентгеноспектрального микроанализа? От чего это зависит?10. По какой причине нельзя проводить исследование биологических объектов?Приложение 1. Рабочая тетрадь157Отчет по лабораторной работе № 5.Анализ результатов измерений рентгеноспектрального микроанализаДатаОценка (max 5)Бонус за сложностьПодписьЦели работы1.

Изучение методов анализа полученных результатов.2. Изучение методик расчета погрешностей при различных видах измерений.3. Расчет погрешностей проведенных измерений.4. Получение навыков обработки и представления погрешностейэкспериментальных результатов. Получение навыков анализапогрешностей.Решаемые задачи1. Изучение на практике применения методик расчета погрешностей измерений.2. Изучение базовых методик расчета погрешностей.3. Обработка экспериментальных данных каждым студентоминдивидуально.4.

Проведение расчетов погрешностей полученных результатов.5. Анализ результатов работы, формулировка кратких выводовпо работе, оформление отчета и представление его к защите.Методические указания. Прежде чем приступить к расчетупогрешностей, следует повторить основы курса «Метрология».Краткий конспект теоретической частиКаким образом возможно установить связь погрешностей двухвзаимозависимых величин? Какие законы распределения могутбыть применены в этом случае?________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________158Электронная микроскопияКакие погрешности могут считаться недопустимыми?________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________В чем состоит смысл расчета погрешностей? Какие выводыи рекомендации можно сделать после расчета погрешностей?________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________Подготовка к проведению лабораторной работы1.

Наличие вычислительных приборов.2. Предварительное ознакомление с методиками расчета.3. Наличие собранных спектров на ЭВМ или в распечатанномвиде после проведенных исследований спектров образцов.Проведение лабораторной работы1. Провести анализ полученных результатов измерений линейных размеров объектов.2. По представленным методикам рассчитать погрешности измерений.3. Сделать вывод о погрешностях и факторах, влияющих на погрешности.4. Заполнить краткую теоретическую часть и представить отчетк защите.Приложение 1.

Рабочая тетрадь159Основные методики расчета, формулы расчета и результаты расчетаАнализ экспериментальных данных:Выводы:Контрольные вопросы1. Измерения. Наблюдения. Независимые наблюдения.2. Мера рассеяния. Математическое ожидание. Моменты первого и второго рода.3. Правила обработки многократных наблюдений.4. Порядок обработки результатов наблюдений.5. Коэффициент Стьюдента.

Вычисление коэффициента Стьюдента.6. Оценка достоверности результатов испытаний.7. Оценка результатов измерительного контроля.8. Ошибки первого и второго рода.9. Формирование ошибок контроля.ЛИТЕРАТУРА1. Алферов Ж. И. Двойные гетероструктуры : концепция и применение// Успехи физических наук. – 2002. – Т. 172. – № 9. – C. 19.2.

Андриевский Р. А. Наноматериалы : концепция и современные проблемы // Российский химический журнал. – 2002. – Т. 46. – № 5. –C. 50–56.3. Андриевский Р. А., Рагуля А. В. Наноструктурные материалы. – М. :Изд. центр «Академия», 2005. – 192 с.4. Бахтизин Р. З. Сканирующая туннельная микроскопия – новый метод изучения поверхности твердых тел // Соросовский образовательный журнал. – 2000. – Т. 6. – № 11.5. Быков В. П. // Квантовая электроника.

– 1974. – Т. 1. – № 7. –C. 1557−1577.6. Валиев Р. З., Александров И. В. Наноструктурные материалы, полученные интенсивной пластической деформацией. – М. : Логос, 2000.– 272 с.7. Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности. – М. : Мир, 1989.8. Герасименко Н. Н. Наноразмерные структуры в имплантированныхполупроводниках // Российский химический журнал. – 2002. – Т. 46.– № 5. – C.

30–41.9. Головин Ю. И. Введение в нанотехнологию. – М. : Машиностроение, 2003. – 112 с.10. Голубев В. Г. Трехмерно-упорядоченные композиты опал–полупроводник : получение, структурные и фотонные свойства (//http://link.edu.ioffe.ru/winter/2002/main/golubev).11. Гусев А. И., Ремпель А. А. Нанокристаллические материалы.

– М. :Физматлит, 2000. – 224 с.12. Демиховский В. Я., Вугальтер Г. А. Физика квантовых низкоразмерных структур. – М. : Логос, 2000. – 248 с.13. Елецкий А. В. Углеродные нанотрубки и их эмиссионные свойства// Успехи физических наук. – 2002. – Т. 172. – № 4. – С. 401–438.14. Зенгуил. Физика поверхности. – М. : Мир, 1990.Литература16115. Исследования особенностей процесса локального окисления пленоктитана с использованием сканирующей зондовой микроскопии /С. А. Гаврилов [и др.] // Изв.

вузов. Электроника. – 2000. – № 3. –C. 27–33.16. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия /Я. С. Уманский [и др.]. – М. : Металлургия, 1982. – 632 с.17. Лахно В. Д. Кластеры в физике, химии, биологии. – Ижевск : НИЦ«Регулярная и хаотическая динамика», 2001.

– 256 с.18. Лукьянов А. Е., Спивак Г. В., Гвоздовер Р. С. Зеркальная электронная микроскопия // Успехи физических наук. – 1973. – Т. 110. –Вып. 4.19. Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. –Нижний Новгород : РАН ИФМ, 2004. – 114 с.20.

Моррисон С. Химическая физика поверхности твердого тела. – М. :Мир, 1989.21. Нанокомпозиционные металлполимерные пленки : сенсорные, каталитические и электрофизические свойства / Л. И. Трахтенберг[и др.] // Вестник московского университета. Сер. 2. Химия. – 2001.– Т. 42. – № 5. – С. 325–331.22. Нанотехнологии в электронике / Под. ред. Ю. А. Чаплыгина. – М. :Техносфера, 2005. – 448 с.23. Нанотехнологии и фотонные кристаллы // Материалы 1-го Международного семинара / Под ред.

д-ра техн. наук А. Ф. Белянина и д-рафиз.-мат. наук М. И. Самойловича. – Йошкар-Ола : МарГТУ, 2003. –180 с.24. Неволин В. К. Зондовые нанотехнологии в электронике. – М. : Техносфера, 2005. – 152 с.25. Носкова Н. И., Мулюков Р. Р. Субмикрокристаллические и нанокристаллические металлы и сплавы. – Екатеринбург : Уральское отделение РАН, 2003. – 280 с.26. Оптическая литография прорвалась в глубокий наномир / По материлам сайта www.CNews.com – http://www.cnews.ru/news/top/index.shtml?2006/02/21/196504.27. Плазмохимический синтез и свойства ультрадисперсного NbN /В. Н.

Троицкий [и др.] // Химия высоких энергий. – 1994. – Т. 28. –C. 275–279.28. Помогайло А. Д. Металлополимерные нанокомпозиты с контролируемой молекулярной архитектурой // Российский химический журнал. – 2002. – Т. 46. – № 5. – C. 64–73.29. Помогайло А. Д., Розенберг А. С., Уфлянд И. Е. Наночастицы металлов в полимерах. – М. : Химия, 2000.