ЭМ (Раздаточные материалы от преподавателя), страница 22

PDF-файл ЭМ (Раздаточные материалы от преподавателя), страница 22 Метрология, стандартизация и сертификация (МСиС) (13072): Другое - 11 семестр (3 семестр магистратуры)ЭМ (Раздаточные материалы от преподавателя) - PDF, страница 22 (13072) - СтудИзба2017-12-21СтудИзба

Описание файла

Файл "ЭМ" внутри архива находится в папке "Раздаточные материалы от преподавателя". PDF-файл из архива "Раздаточные материалы от преподавателя", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "метрология, стандартизация и сертификация (мсис)" из 11 семестр (3 семестр магистратуры), которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "остальное", в предмете "метрологическое обеспечение инновационных технологий" в общих файлах.

Просмотр PDF-файла онлайн

Текст 22 страницы из PDF

Елсуков ______________И. А. Косолапов ______________126Электронная микроскопия3.2. СТРУКТУРА И СОСТАВ ФОНДОВ ОЦЕНОЧНЫХСРЕДСТВ ПО ДИСЦИПЛИНЕФонды оценочных средств по дисциплине представляют собой:варианты экзаменационных билетов, перечень вопросов для рейтинговых и контрольных мероприятий.3.2.1. ПЕРЕЧЕНЬ ВОПРОСОВ ДЛЯ РЕЙТИНГОВЫХИ КОНТРОЛЬНЫХ МЕРОПРИЯТИЙ1. Основные понятия, используемые в физике и химии поверхности (кромка, реконструкция, релаксация поверхности).2. Симметрия поверхности и описание ее структуры.3. Определение рельефа поверхности с помощью метода фиксирования отраженных электронов.

Схема растрового электронного микроскопа.4. Основные принципы работы ПЭМ – зависимость качествасканирования от толщины образца. Получение изображенийвысокого разрешения в ПЭМ.5. Метод улавливания вторичных электронов при изученииструктуры поверхности на срезе (растровая электронная микроскопия).6. Эффект «груши» и зависимость ее влияния от ускоряющегонапряжения.7.

Основные принципы работы ЗЭМ. Особенности работы.8. Особенности получения атомарного разрешения с помощьюРЭМ.9. Основные принципы работы электронных микроскопов.10. Исследование поверхности методами электронной микроскопии (на срезе). Особенности подготовки образцов для сканирования в РЭМ.11. Рентгеноспектральный микроанализ. Основные принципы работы рентгеноспектрального микроанализатора.12.

Влияние эффекта «груши» на рентгеноспектральный микроанализ при высоких и низких ускоряющих напряжениях.13. Основные отличия между РЭМ и ПЭМ. Особенности подготовки образцов для сканирования в РЭМ и ПЭМ.Методические материалы12714. Особенности проведения сканирования на рентгеноспектральном микроанализаторе.15. Основные режимы работы рентгеноспектрального микроанализатора.16. Взаимодействие РЭМ и рентгеноспектрального микроанализатора на примере Zeiss Ultra 55 и Oxford INCA X-RAY.3.2.2. ВАРИАНТЫ ЭКЗАМЕНАЦИОННЫХ БИЛЕТОВМосковский государственный технический университет имени Н.

Э. БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 1по курсу «Электронная микроскопия»1. Классификация направлений электронной микроскопии.2. Просвечивающая микроскопия. Принцип работы.3. Объясните понятие электронная пушка. Приведите пример использования.УтверждаюВ. А. ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.Московский государственный технический университет имени Н. Э. БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 2по курсу «Электронная микроскопия»1.

Сканирование структуры образца на срезе при использованииРЭМ.2. Зеркальная электронная микроскопия. Особенности сканирования.3. Принцип работы сканирующего электронного микроскопа.УтверждаюВ. А. ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.128Электронная микроскопияМосковский государственный технический университет имени Н. Э.

БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 3по курсу «Электронная микроскопия»1. Факторы, определяющие быстродействие, точность и стабильностьсканирования на РЭМ.2. Классификация основных методов электронной микроскопии.3. Общая характеристика метода улавливания вторичных электронов(РЭМ).УтверждаюВ. А.

ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.Московский государственный технический университет имени Н. Э. БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 4по курсу «Электронная микроскопия»1. Разрешение РЭМ. Зависимость качества изображения от увеличения.2. Высоковольтная микроскопия.3. Физические основы просвечивающей электронной микроскопии.УтверждаюВ. А. ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.Методические материалы129Московский государственный технический университет имени Н.

Э. БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 5по курсу «Электронная микроскопия»1. Отражательный РЭМ. Особенности сканирования образцов.2. Особенности сканирования ПЭМ.3. Физические основы рентгеноспектрального микроанализа.УтверждаюВ. А. ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.Московский государственный технический университет имени Н. Э. БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 6по курсу «Электронная микроскопия»1.

Метод контраста полей (ПЭМ). Основные особенности. Улучшение качества сканирования.2. Микроскопия магнитных полей (ЗЭМ).3. Метод сканирования по отраженным электронам (РЭМ).УтверждаюВ. А. ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.130Электронная микроскопияМосковский государственный технический университет имени Н. Э. БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 7по курсу «Электронная микроскопия»1. Рентгеноспектральный микроанализ. Основные особенности.

Принцип работы.2. Функциональный состав ЗЭМ.3. Эффект «груши». Влияние на качество сканирования.УтверждаюВ. А. ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.Московский государственный технический университет имени Н. Э. БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 8по курсу «Электронная микроскопия»1. ПЭМ. Применение. Недостатки. Ограничения по разрешению.2. Перспективы развития электронной микроскопии.3.

Устройство и работа растрового электронного микроскопа.УтверждаюВ. А. ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.Методические материалы131Московский государственный технический университет имени Н. Э. БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 9по курсу «Электронная микроскопия»1. Совмещение рентгеноспектрального микроанализа и сканированияРЭМ. Побочные эффекты. Ограничения по сканированию.2. Схема ПЭМ.3. Особенности образцов для различного вида электронных микроскопов.УтверждаюВ. А.

ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.Московский государственный технический университет имени Н. Э. БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 10по курсу «Электронная микроскопия»1. Наноразмерные структуры. Основные понятия.2. Микроскопия электрических полей (ЗЭМ).3. Режимы сканирования РЭМ.УтверждаюВ. А.

ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.132Электронная микроскопияМосковский государственный технический университет имени Н. Э. БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 11по курсу «Электронная микроскопия»1. Режимы сканирования РЭМ.2. Схема ПЭМ.3. Физические основы электронной микроскопии.УтверждаюВ. А. ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.Московский государственный технический университет имени Н.

Э. БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 12по курсу «Электронная микроскопия»1. ПЭМ. Применение. Недостатки. Ограничения по разрешению.2. Рентгеноскопический микроанализ. Особенности применения. Недостатки.3. Функциональный состав ЗЭМ.УтверждаюВ. А. ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.Методические материалы133Московский государственный технический университет имени Н. Э. БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 13по курсу «Электронная микроскопия»1. Отражательный РЭМ. Особенности сканирования образцов.2. Наноматериалы. Виды наноматериалов.

Применение наноматериалов.3. Физические основы рентгеноспектрального микроанализа.УтверждаюВ. А. ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.Московский государственный технический университет имени Н. Э. БауманаЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 14по курсу «Электронная микроскопия»1. Высоковольтная микроскопия.2. Рентгеноскопический микроанализ. Особенности применения. Недостатки.3. Принцип работы сканирующего электронного микроскопа.УтверждаюВ. А.

ШахновБилет рассмотрен и утвержден на заседании кафедры «__» ______________ г.134Электронная микроскопия3.3. СПЕЦИФИКАЦИЯ УЧЕБНЫХ ВИДЕОИ АУДИОМАТЕРИАЛОВ, СЛАЙДОВ, ЭСКИЗОВПЛАКАТОВ И ДРУГИХДИДАКТИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ3.3.1. СПЕЦИФИКАЦИЯ СЛАЙДОВ – КОНСПЕКТОВ ЛЕКЦИЙНазвание разделаЧислослайдов1. Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование.

Общие сведения о наноразмерных структурах, особенности свойств наноструктур, термодинамическиесвойства, свойства проводимости, магнитные свойства, применение наноструктур для создания элементов приборных устройств62. Введение в электронную микроскопию. Введение в основыэлектронной микроскопии. Физические основы электронноймикроскопии63. Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ). Основы просвечивающей электронной микроскопии, конструкцияпросвечивающего электронного микроскопа, подготовка объектов для исследований и особые требования к ним, формированиелуча, методы визуализации, недостатки и ограничения, особенности применения64.

Растровая электронная микроскопия (РЭМ). Основы растровой электронной микроскопии, конструкция растровогоэлектронного микроскопа, устройство и работа растрового электронного микроскопа, подготовка объектов для исследованийи особые требования к ним, детектирование вторичных электронов, детектирование отраженных электронов, разрешение, применение105. Зеркальная электронная микроскопия (ЗЭМ). Основы зеркальной электронной микроскопии, конструкция зеркальногоэлектронного микроскопа, режимы работы, виды отображениярезультатов, разрешение и чувствительность, применение46. Рентгеноспектральный микроанализ.

Физические основы,устройство и работа рентгеноспектрального микроанализатора,подготовка объектов для исследований и особые требованияк ним, технические возможности рентгеноспектрального микроанализатора, области применения рентгеноспектрального микроанализатора8Методические материалы1353.3.2.

ПРИМЕР ОФОРМЛЕНИЯ ДИДАКТИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВПО ЛЕКЦИЯМВ разделе приведен типовой пример оформления дидактического материала по дисциплине «Электронная микроскопия» – конспект материалов лекций, содержащих основные определения,теоретические основы физических принципов, а также примеры.Методологически курс лекций строится на основе оптимальногосоотношения теоретических и прикладных вопросов с реализациейпроектных методов обучения. Структура материала отличаетсяреализацией блочно-вариативной концепции и внедрением проектных методов подготовки специалистов по «Наноинженерии».136Электронная микроскопияМетодические материалы137ЗАКЛЮЧЕНИЕВ рамках проекта, руководствуясь единой концепцией, созданыметодические материалы по дисциплине «Электронная микроскопия».

Методические материалы содержат нормативную базу дисциплины, рекомендации по организации и проведению лекцийи лабораторных работ, перечень слайдов, типовых плакатов и другие дидактические материалы для работы профессорско-преподавательского состава по данной дисциплине.Цель дисциплины – изучение основных методов, методики устройств для проведения микроскопии нанообъектов и наносистем. Материал курса является основой для изучения других технологических процессов, применяемых при создании наноразмерных структур, в том числе в курсах «Технологии синтеза наноструктур», «Проектирование наносенсоров», «САПР наносистем»и ряда других, выполнения исследовательской части курсовогопроекта, курсовых работ по технологии производства ЭВС и подготовки магистерской диссертации.Задачи дисциплины – получение теоретических и практическихнавыков проведения исследований, измерений и сертификации наноструктур, нанообъектов и наносистем.Методологически дисциплина должна строиться на основе оптимального соотношения теоретических и прикладных вопросовс обязательным участием студентов в самостоятельном исследовании особенностей проведения процессов измерения наноструктур.Теоретические основы должны излагаться в такой мере, чтобыпоказать общие принципы основных методов электронной микроскопии, их особенности, достоинства и недостатки.

Свежие статьи
Популярно сейчас
А знаете ли Вы, что из года в год задания практически не меняются? Математика, преподаваемая в учебных заведениях, никак не менялась минимум 30 лет. Найдите нужный учебный материал на СтудИзбе!
Ответы на популярные вопросы
Да! Наши авторы собирают и выкладывают те работы, которые сдаются в Вашем учебном заведении ежегодно и уже проверены преподавателями.
Да! У нас любой человек может выложить любую учебную работу и зарабатывать на её продажах! Но каждый учебный материал публикуется только после тщательной проверки администрацией.
Вернём деньги! А если быть более точными, то автору даётся немного времени на исправление, а если не исправит или выйдет время, то вернём деньги в полном объёме!
Да! На равне с готовыми студенческими работами у нас продаются услуги. Цены на услуги видны сразу, то есть Вам нужно только указать параметры и сразу можно оплачивать.
Отзывы студентов
Ставлю 10/10
Все нравится, очень удобный сайт, помогает в учебе. Кроме этого, можно заработать самому, выставляя готовые учебные материалы на продажу здесь. Рейтинги и отзывы на преподавателей очень помогают сориентироваться в начале нового семестра. Спасибо за такую функцию. Ставлю максимальную оценку.
Лучшая платформа для успешной сдачи сессии
Познакомился со СтудИзбой благодаря своему другу, очень нравится интерфейс, количество доступных файлов, цена, в общем, все прекрасно. Даже сам продаю какие-то свои работы.
Студизба ван лав ❤
Очень офигенный сайт для студентов. Много полезных учебных материалов. Пользуюсь студизбой с октября 2021 года. Серьёзных нареканий нет. Хотелось бы, что бы ввели подписочную модель и сделали материалы дешевле 300 рублей в рамках подписки бесплатными.
Отличный сайт
Лично меня всё устраивает - и покупка, и продажа; и цены, и возможность предпросмотра куска файла, и обилие бесплатных файлов (в подборках по авторам, читай, ВУЗам и факультетам). Есть определённые баги, но всё решаемо, да и администраторы реагируют в течение суток.
Маленький отзыв о большом помощнике!
Студизба спасает в те моменты, когда сроки горят, а работ накопилось достаточно. Довольно удобный сайт с простой навигацией и огромным количеством материалов.
Студ. Изба как крупнейший сборник работ для студентов
Тут дофига бывает всего полезного. Печально, что бывают предметы по которым даже одного бесплатного решения нет, но это скорее вопрос к студентам. В остальном всё здорово.
Спасательный островок
Если уже не успеваешь разобраться или застрял на каком-то задание поможет тебе быстро и недорого решить твою проблему.
Всё и так отлично
Всё очень удобно. Особенно круто, что есть система бонусов и можно выводить остатки денег. Очень много качественных бесплатных файлов.
Отзыв о системе "Студизба"
Отличная платформа для распространения работ, востребованных студентами. Хорошо налаженная и качественная работа сайта, огромная база заданий и аудитория.
Отличный помощник
Отличный сайт с кучей полезных файлов, позволяющий найти много методичек / учебников / отзывов о вузах и преподователях.
Отлично помогает студентам в любой момент для решения трудных и незамедлительных задач
Хотелось бы больше конкретной информации о преподавателях. А так в принципе хороший сайт, всегда им пользуюсь и ни разу не было желания прекратить. Хороший сайт для помощи студентам, удобный и приятный интерфейс. Из недостатков можно выделить только отсутствия небольшого количества файлов.
Спасибо за шикарный сайт
Великолепный сайт на котором студент за не большие деньги может найти помощь с дз, проектами курсовыми, лабораторными, а также узнать отзывы на преподавателей и бесплатно скачать пособия.
Популярные преподаватели
Добавляйте материалы
и зарабатывайте!
Продажи идут автоматически
5288
Авторов
на СтудИзбе
417
Средний доход
с одного платного файла
Обучение Подробнее