123305 (598577), страница 7
Текст из файла (страница 7)
Обеспечение длительной эксплуатации чувствительного элемента в датчике анализатора и получение объективной информации о состоянии контролируемой технологической среды достигается обеспечением выполнения следующих требований:
1. Чувствительный элемент должен взаимодействовать только с представительной частью анализируемой среды;
2. Недопустима установка чувствительного элемента в застойной зоне контролируемой технологической среды;
3. Режим обтекания чувствительного элемента анализируемой средой, а также её температура и давление должны находиться в пределах определённых методикой контроля.
4. Поверхность контакта чувствительного элемента должна всегда оставаться чистой и неизменной во времени.
В зависимости от решаемых задач и структуры автоматизированной системы информация от чувствительного элемента через датчик передаётся на расстояние по специальным коммуникациям связи к приборам, где обрабатывается, при необходимости усиливается и отображается на индикаторе.
2.3.4. Структуры приборов автоматизированного аналитического контроля
В зависимости от исполнения аналитические приборы могут изготавливаться в виде единой конструкции и в виде комплекта, состоящего из различных блоков, каждый из которых выполняет определённую функцию: обработки, измерения, нормирования усиления и отображения измеренных величин.
Общий принцип работы аналитического прибора заключается в следующем Первым в измерительной цепи аналитического прибора размещается первичный измерительный преобразователь. К нему подведён определяемый физический параметр, зарегистрированный чувствительным элементом датчика. Физический параметр в первичном измерительном приборе преобразуется в выходной электрический сигнал. В последующих блоках сигнал соответствующим образом преобразуется (усиливается, нормируется, видоизменяется и т. д.) в удобную для контроля форму. Контролируется сигнал посредством измерения его величины с помощью применения электронных автоматических мостов и потенциометров.
Потребности практики химико- технологических производств удовлетворяются изготовлением жёстких и гибких структур приборов для автоматизированного аналитического контроля, рис.2.4.
Структуры аналитических приборов
Жесткие
Одноканальная
Двухканальная
Компенсационная
Гибкие
С использованием микропроцессоров
С использованием ЭВМ











Рис. 2.4. Классификация структур автоматизированных систем
К жёстким системам относятся следующие типы структур: одноканальная, дифференциальная (двухканальная), компенсационная.
Одноканальная структура обеспечивает непосредственный отсчёт параметров состава или свойств анализируемого вещества. В ней последовательно располагаются основные и вспомогательные элементы, участвующие в процессе контроля технологической среды, рис 2.5.
1
2
3



x
y

y2
Рис. 2.5. Схема одноканальной структуры x-входные параметры (состав или свойства);
1-первичный измерительный преобразователь (ПИП);
y-выходной сигнал удобный для дальнейшего преобразования в системе;
2.-нормирующий преобразователь;
3.-вторичный прибор;
y1, y2-преобразованные во втором и третьем приборах сигналы.
Основным недостатком одноканальной структуры является отсутсвие управляющего воздействия. Это приводит к нарушению гибкости структуры по информативному каналу, что снижает её метрологические и эксплуатационные свойства .
Одноканальная структура (непосредственного отсчёта)исторически рассматривается как прообраз других структур.
Структура двухканальная дифференциального типа включает рабочий и сравнительный каналы, рис. 2.6.
Основное достоинство структур дифференциального типа состоит в том, что второй (сравнительный) канал позволяет повысить информационный уровень первого (рабочего) канала и снизить влияние помех на процесс контроля. Метрологические характеристики двухканальной структуры выше, чем у структуры непосредственного отсчёта.
Рабочий канал
1
2


x
y
y1
Сравнительный канал
11
21

x0

y0
y10
3
4








y2
y3
Рис. 2.6. Схема двухканальной структуры дифференциального типа
1, 11 –первичный измерительный прибор;
2, 21 –нормирующий преобразователь;
3 –блок сравнения
4 –вторичный прибор.
Основными недостатками структуры являются: низкая скорость анализа и отсутствие управляющих воздействий , что снижает гибкость метода контроля.
Управляющие воздействия на процесс анализа реализуются в структурах аналитических приборов компенсационного типа, рис. 2.7.
В данной структуре реализован принцип компенсации. Он заключается в компенсации неизвестного значения информационного сигнала о составе или свойствах анализируемого вещества известным значением, полученным с помощью специальных средств. В момент компенсации отсчитывается значение информационного сигнала.
Эта структура превосходит по своим показателям предыдущие структуры, но не обеспечивает достаточную гибкость режимов контроля и управления. В целом гибкость определяется наличием следящих операционных систем, чем их больше, тем выше гибкость структуры.
6
7
1
2


x
y
y1
11
21

x0

y0
y10
3
4








y2
y3
5




7
6

Рис. 2.7. Схема структуры компенсационного типа
1, 11 –первичный измерительный прибор;
2, 21 –нормирующий преобразователь;
3 –блок сравнения;
4 –усилитель;
5 –блок управления;
6 –вторичный прибор;
7 –операционная система.
Повышение гибкости достигается за счёт внедрения в структуру аналитического прибора микропроцессорных средств, обеспечивающих автоматизацию процесса определения контролируемого свойства вещества или параметра его состава, а также проведение вычислительных операций.
Гибкая структура (рис.2.8) аналитического прибора позволяет учитывать влияние параметров окружающей среды на точность измерений и получать информацию о составе и свойствах анализируемых веществ в режиме реального времени.
Объект
аналитического контроля
1
2
3













x
x1
Рис. 2.8. Обобщённая схема гибкой структуры аналитического прибора
1 –информационный канал;
х -входные параметры, определяющие состав и свойства анализируемых веществ;
2 –корректирующий канал;
х1 –входные параметры, которыми могут быть неконтролируемые компоненты анализируемых веществ;
3 –микропроцессорный блок.
Влияние параметров окружающей среды изучается в ходе разработки технологии или производства конкретной продукции и учитывается при создании методики её аналитического контроля. Полученные результаты реализуются в аналитических приборах с гибкой структурой проведения аналитического контроля.
2.3.5 Требования, предъявляемые к приборам аналитического контроля
В основу требований, предъявляемых к приборам, положен принцип, направленный на обеспечение эффективного использования разработанного метода аналитического контроля. Он может быть реализован при условии, если приборы будут отвечать статическим и динамическим критериям эффективности. К основным из них относятся:
точность и чувствительность (как метода так и прибора);
надёжность (как работы прибора так и проведенных измерений);
быстродействие.
На практике для выбора прибора с реализованным в нём методом применяется комплексный критерий качества, который может быть рассчитан по выражению 2.3.
Ккач = к1*Кточн + к2*Кнадёжн + к3*Кчувствит + к4*Кбыстрод , (2.3)
где: к1, к2, к3, к4 – вес каждого критерия, их сумма ровняется единице;
К – базовый критерий, отражающий точность (надежность, чувствительность, быстродействие). Выбор базовых критериев осуществляется путём экспертных оценок, либо решением задачи оптимизации.
Точность прибора зависит от внутренних и внешних факторов, влияющих на измерительный процесс, рис.2.9.
Внешние факторы:
-
состояние коммуникаций;
-электрические и магнитные поля;
-персонал.
В x нутренниефакторы |
y Температура Давление К Фазовое деление |
Рис. 2.9. Факторы, влияющие на качество работы аналитического прибора
Температура является одним из главных управляющих воздействий на состояние объекта контроля. Она влияет на измерения характеристик состава и свойств веществ и выражается температурной погрешностью. Повышение точности измерения достигается за счёт компенсации температурной погрешности.
Учёт температурной погрешности в автоматизированных системах возможен аппаратными и программными средствами, которые разрабатываются после изучения влияния температуры на процесс измерения. С этой целью снимаются зависимости изменения косвенных параметров от температуры и строятся соответствующие графики.