диплом (1227502), страница 7
Текст из файла (страница 7)
где – напряжённость электрического поля, которое появляется при заряде ёмкости кристалла фотогальваническим током
.
Эквивалентная схема замещения ФГПИ (фотогальванического приёмника излучения) как источника электрического тока позволяет оценить главные рабочие параметры приемника излучения.
|
Рис. 2.1. Эквивалентная схема замещения фотогальванического приемника: Jфг - источник фотогальванического тока; R0 = Rкр + Rн – суммарное сопротивления кристалла и нагрузки; Cкр – ёмкость кристалла. |
Одной из основных характеристик ФГПИ является его чувствительность, определяемая отношением величин выходного сигнала к воздействию светового потока
.
Для вывода формулы для расчёта вольт-ваттной чувствительности, фотогальванического приемника излучения, нужно решить дифференциального уравнения для сигнала на выходе схемы замещения, то есть дифференциальное уравнение для напряжения на сопротивлении нагрузки в схеме замещения. Если не учитывать процессы самоиндукции, то уравнение выглядит следующим образом:
, (2.2)
, (2.3)
где .
Для решения данного уравнения, приведём его к следующему виду:
, (2.4)
где ,
,
.
Это линейное дифференциальное уравнение, неоднородное относительно и
, имеет интегрирующий множитель:
(2.5)
Общее решение такого уравнения получим по формуле:
(2.6)
Пусть ,
, тогда:
.
. (2.7)
При начальном условии :
, (2.8)
следовательно:
, (2.9)
тогда:
. (2.10)
Получим общее решение:
, (2.11)
так как ,
, то:
, (2.12)
где (
– cons’t Гласса;
– площадь облучаемой поверхности кристалла; Ф – интенсивность падающего излучения).
Вольт-ваттная чувствительность ФГПИ:
, (2.13)
Нормированная вольт-ваттная чувствительность ФГПИ:
. (2.14)
Для того, чтобы построить график зависимости вольт-ваттной чувствительности от частоты модуляции, необходимо знать значение конечного времени электрической релаксации .
Найдём это значение для кристалла ниобата лития легированного железом.
(2.15)
где и
– сопротивление и ёмкость кристалла соответственно.
Так как
(2.16)
и
(2.17)
где – удельное сопротивление кристалла ниобата лития легированного железом;
– диэлектрическая проницаемость кристалла;
– электрическая постоянная;
– величина приёмной площадки;
– толщина кристалла,
тогда
. (2.18)
Зависимость нормированной вольт-ваттной чувствительности от частоты модуляции построенной по формуле (5) представлена на рис. 2.2. Видно, что чувствительность S постоянна на низких частотах и падает на высоких частотах.
|
Рис. 2.2. Зависимость нормированной вольт-ваттной чувствительности фотогальванического приёмника от частоты модуляции. |
Таким образом, показано, что фотоприемник обладает равномерной вольт-ваттной чувствительностью в низкочастотном диапазоне, аналогично тепловым приемникам [4-6]. Полученные результаты представляют интерес для разработки фотоприемников излучения с различной геометрией [7-10].
Максимальное значение вольт-ваттной чувствительности фотогальванического приёмника излучения определяется из выражения (2.13) без учёта частотной составляющей:
(2.19)
Для параметров приёмника, на основе кристалла ниобата лития легированного железом [], где:
константа Гласса ,
коэффициент поглощения ,
величина приёмной площадки ,
суммарное сопротивление кристалла и нагрузки , считая, что
, и для толщины кристалла
с удельным сопротивлением []
, получим
,
(2.20)
2.2. ВОЛЬТ-ВАТТНАЯ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ ПИРОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПРИЁМНИКА ИЗЛУЧЕНИЯ
Пироэффект заключается в том, что при изменении температуры кристалла, на его поверхности появляются электрические заряды. Такой эффект появляется у кристаллов с низкой степенью симметрии, например у кристалла ниобата лития.
Появление пироэффекта обусловлено наличием спонтанной поляризации у пироэлектриков, без влияния на них внешних воздействий и при отсутствии внешнего электрического поля.
В пироэлектриках спонтанная поляризация компенсируется, поскольку свободные электрические заряды натекают на кристалл изнутри и извне, поэтому ключевую роль играет изменение спонтанной поляризации Рs при быстром изменении температуры Т.
Чувствительный элемент пироэлектрического приемника излучения (ППИ) – пирокристалл, у которого меняется температура при его облучении.
Уравнение для пироэлектрического тока:
(2.21),
где: A0 – площадь электрода, g - пирокоэффициент, Т – температура кристалла, t – время.
Уравнение теплового баланса для пирокристалла:
(2.22),
где: – поглощательная способность приемной площадки,
–коэффициент теплопотерь,
– теплоемкость кристалла,
- изменение температуры кристалла при облучении,
– поток излучения.
Решим это уравнение:
, (2.23)
(2.24)
Введём обозначения: ,
,
, тогда уравнение
(2.25)
примет вид:
(2.26)
– это линейное дифференциальное уравнение, неоднородное относительно и
, имеет интегрирующий множитель:
(2.27)
Общее решение получим по формуле:
(2.28)
Пусть ,
, тогда:
.
. (2.29)
При начальном условии :
, (2.30)
следовательно:
, (2.31)
тогда:
(2.32)
(2.33)
, (2.34)
так как , то:
(2.35)
Если изменение температуры кристалла при его облучении намного меньше температуры окружающей среды и если поток излучения имеет невысокую интенсивность, то
При условии, что Q << T0 (T0 – температура окружающей среды), и при не очень интенсивных потоках излучения уравнение (2.22) будет выглядеть как линейное дифференциальное уравнение и его решением при нулевом начальном условии [Q = 0, t = 0] будет следующее выражение:
(2.36)
Основные параметры пироэлектрического приёмника излучения определяются из эквивалентной схемы приёмника как источника электрического тока.
|
Рис. 2.3. Эквивалентная схема замещения пироэлектрического приемника: Jфг - источник фотогальванического тока; R0 = Rкр + Rн – суммарное сопротивления кристалла и нагрузки; Cкр – ёмкость кристалла.. |
Одной из основных характеристик ППИ является его чувствительность, которая равна отношению значения величины выходного сигнала к значению величины воздействия
. Чувствительность может быть ампер-ваттной
(когда выходной сигнал - ток
) и вольт-ваттной
(когда выходной сигнал - напряжение
). Обе эти характеристики зависят в общем случае от частоты модуляции ω падающего потока излучения
и представляет собой комплексную частотную характеристику
.
Постоянный поток излучения плотности модулируется с некоторой частотой ω, так что на чувствительный элемент приемника падает поток
. Постоянная составляющая этого потока вызывает равномерный (в рамках выбранной модели) нагрев всей пироэлектрической пластинки, определяя рабочую точку по температуре, а переменная составляющая – искомый сигнал. Обычно переменную составляющую представляют в комплексной форме
.
Выходной сигнал , вызванный потоком
, в упрощенном виде определяется из выражения
(2.37),
где: – площадь кристаллической пластинки ППИ;
- поглощательная способность облучаемой поверхности;
– пироэлектрический коэффициент;
– общее сопротивление электрической цепи ППИ, определяемое из суммы проводимостей кристалла и нагрузки;
– теплопроводность между чувствительным элементом и окружающей средой, определяющая радиационные потери тепла кристаллом;
,
– электрическая и тепловая постоянные времени.
Выведем формулу вольт-ваттной чувствительности пироэлектрического приёмника. Для этого решим дифференциальное уравнения для сигнала на выходе схемы замещения приёмника, (напряжения на сопротивлении нагрузки ). Без учета процессов самоиндукции выражение для вольт-ваттной чувствительности выглядит так:
(2.38)
где: – выходной сигнал на сопротивлении нагрузки,
– емкость кристалла,
(
– сопротивление кристалла).
Решим это уравнение:
(2.39)
, (2.40)
где .
, (2.41)
пусть ,
, тогда:
(2.42)
(2.43)
(2.44)
(2.45)
для упрощения исходного уравнения, воспользуемся формулой:
, (2.46)
где , тогда:
, (2.47)
так как
,
, (2.48)
получим
(2.49)
где – коэффициент поглощения,
– удельная теплоёмкость кристалла,
– плотность кристалла.
Вольт-ваттная чувствительность ППИ:
, (2.50)
Нормированная вольт-ваттная чувствительность ППИ:
(2.51).
Для того, чтобы построить график зависимости вольт-ваттной чувствительности от частоты модуляции, необходимо знать значения конечного времени электрической и тепловой
релаксации.
Значение (формула 2.18).
Найдём значение тепловой релаксации для кристалла ниобата лития легированного железом:
(2.52)
где – толщина кристалла;
– температуропроводность кристалла.
Зависимость нормированной вольт-ваттной чувствительности от частоты модуляции построенной по формуле (2.45) представлена на рис. 2.4. Видно, что чувствительность S падает на малых частотах.
|
Рис. 2.4. Зависимость нормированной вольт-ваттной чувствительности пироэлектрического приёмника от частоты модуляции.
|
Максимальное значение вольт-ваттной чувствительности пироэлекрического приёмника излучения определяется из выражения (2.50) без учёта частотной составляющей: