Диссертация (1143951), страница 32
Текст из файла (страница 32)
Lyvers, E. P., Mitchell, O. R., Akey, M. L., & Reeves, A. P. (1989). SubpixelMeasurements Using a Moment-Based Edge Operator. IEEE Transactions on PatternAnalysis and Machine Intelligence, 11(12), 1293–1309.46. Ghosal S., Mehrotra R. Zernike Moment-Based Subpixel Edge Detection. VisionInterface, 1992 pp. 247-252.47. Bin, T.
J., Lei, A., Jiwen, C., Wenjing, K., & Dandan, L. (2008). Subpixel edgelocation based on orthogonal Fourier-Mellin moments. Image and Vision Computing,26(4), 563–569.48. Форсайт Д., Понс Ж. Компьютерное зрение. Современный подход. – М.:Вильямс, 2004. — 928 с.49. Kass M., Witkin A., Terzopoulos D. Snakes: Active Contour Models // InternationalJournal of Computer Vision. — 1988.
Volume 2. — P. 321–331.50. А.А. Михайличенко, Я.М. Демяненко. Метод точного выделения контуровмедицинских объектов на рентгенограммах // 26-я Международная конференция(GraphiCon2016), Россия, Нижний Новгород, с. 193-197.51. Петров В.О., Привалов О.О. Модификация алгоритма активных контуров длярешения задачи интерактивной сегментации растровых изображений дефектовметаллических отливок // Современные проблемы науки и образования. 2008.№6, С. 14-19.52.
Чернухин Н. А. Комбинированный метод детектирования границ нарентгенографических медицинских изображениях, использующий методикуактивных контуров // Политематический сетевой электронный научный журналКубанского государственного аграрного университета. 2013. № 88. С. 530-544.53. Семашко А.C., Крылов А.С., Родин А.С. поиск границы диска зрительногонерва на изображениях глазного дна с использованием метода активныхконтуров // DSPA: Вопросы применения цифровой обработки сигналов. 2011.
Т.1. № 4. С. 180-183.54. Петров В.О., Привалов О.О., Степанченко И.В., Сургутанов В.В., ПоройскийС.В. Применение метода активных контуров для интерактивного выделения199объектов на растровых изображениях медико-биологических препаратов //Волгоградский научно-медицинский журнал. 2008. № 3 (19). С.
54.55. A. Englander, “Expanding machine vision gauging with sub-pixel techniques,”Sensors-J. Machine Perception, vol. 4, no. 6, pp. 9-18, June 1987.56. Venkatachalam, V. (2003). Comprehensive investigation of subpixel edge detectionschemes in metrology. Proceedings of SPIE, 5011(2003), 200–211.57. Баскаков С.И. Радиотехнические цепи и сигналы.
3-е издание. – М.: Высшаяшкола, 2000. – 462 с.58. Ken Turkowski and Steve Gabriel (1990). "Filters for Common Resampling Tasks".In Andrew S. Glassner. Graphics Gems I. Academic Press. pp. 147–165.59. М. Борн, Э. Вольф. Основы оптики. – М.: Наука, 1973. – 720 с.60. Kaur, A & Singh, C. (2011). Sub-pixel edge detection using pseudo Zernike moment.Image Processing and Pattern Recognition. 4.
pp. 107-118.61. Kisworo, M., Venkatesh, S., West, G. Modeling edges at subpixel accuracy using thelocal energy approach. IEEE Transactions on Pattern Analysis Machine Intelligence,1994, vol. 16, no. 4, p. 405-410.62. Hagara, M., & Kulla, P. (2011). Edge Detection with sub-pixel accuracy based onapproximation of Edge with Erf function. Radioengineering, 20(2), 516–524.63. Sjoerd Stallinga and Bernd Rieger, "Accuracy of the Gaussian Point Spread Functionmodel in 2D localization microscopy," Opt. Express 18, 24461-24476 (2010).64.
Sun, Q., Hou, Y., & Tan, Q. (2016). A subpixel edge detection method based on anarctangent edge model. Optik, 127(14), 5702–5710.65. V. S. Nalwa and T. O. Binford, "On Detecting Edges," in IEEE Transactions onPattern Analysis and Machine Intelligence, vol. PAMI-8, no. 6, pp. 699-714, Nov.1986.66. Chen, P., Chen, F., Han, Y., & Zhang, Z. (2014).
Optik Sub-pixel dimensionalmeasurement with Logistic edge model. Optik - International Journal for Light andElectron Optics, 125(9), 2076–2080.20067. Heidingsfelder, P., Gao, J., Wang, K., & Ott, P. (2014). Subpixel edge localizationwith reduced uncertainty by violating the Nyquist criterion. Optical Engineering, 53,122410.68.
Bailey, D.G. (2005). Sub-pixel profiling, Proceedings of the 5th InternationalConference on Information Communications and Signal Processing, Bangkok,Thailand, pp. 1311– 1315.69. Rocket, P. (1999). The accuracy of sub-pixel localization in the Canny edge detector,Proceedings of the British Machine Vision Conference, Nottingham, UK, pp. 392–401.70. Fabijanska, A.
and Sankowski, D. (2010). Edge detection with sub-pixel accuracy inimages of molten metals, IEEE International Conference on Imaging Systems andTechniques, Thessaloniki, Greece, pp. 186–191.71. Fabijańska, А. (2012). A survey of subpixel edge detection methods for images ofheat-emitting metal specimens. International Journal of Applied Mathematics andComputer Science, 22(3), 695–710.72. MacVicar-Whelan, P.J. and Binford, T.O. (1991). Line finding with subpixelprecision, Proceedings of the DARPA Image Understanding Workshop, Washington,DC, USA, pp. 26–31.73. Jin, J.S.
(1990). An adaptive algorithm for edge detection with subpixel accuracy innoisy images, Proceedings of the IAPR Workshop on Machine Vision Applications,Tokyo, Japan, pp. 249–252.74. Stanke, G., Zedler, L., Zorn, A., Weckend, F. and Weide, H. G. (1998). Sub-pixelaccuracy by optical measurement of large automobile components, Proceedings of the24th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, Aachen,Germany, pp. 2431–2433.75. Sun, Q., Hou, Y., Tan, Q., Li, C., & Liu, M. (2014).
A robust edge detection methodwith sub-pixel accuracy. Optik, 125(14), 3449–3453.76. Trujillo-pino, A., Krissian, K., Alemán-flores, M., & Santana-cedrés, D. (2013).Accurate subpixel edge location based on partial area effect. IMAVIS, 31(1), 72–90.77. Дж. Гудмен. Введение в Фурье-оптику. – М.: Мир. – 1970. – 363 с.20178.
W. Lukosz, “Optical Systems with Resolving Powers Exceeding the ClassicalLimit II,” Journal of the Optical Society of America, vol. 57, no. 7, p. 932, Jul. 1967.79. M. G. L. Gustafsson, “Surpassing the lateral resolution limit by a factor of two usingstructured illumination microscopy,” Journal of Microscopy, vol. 198, no. 2, pp.
82–87, May 2000.80. Inochkin F. M., Pozzi, P., Bezzubik, V.V., Belashenkov, N.R. Increasing the spacetime product of super-resolution structured illumination microscopy by means of twopattern illumination // Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X: Proc.SPIE. Munich, 2017. Vol. 10330.81. E. H. Rego, L. Shao, J. J. Macklin, L. Winoto, G.
A. Johansson, N. Kamps-Hughes,M. W. Davidson, and M. G. L. Gustafsson, “Nonlinear structured-illuminationmicroscopy with a photoswitchable protein reveals cellular structures at 50-nmresolution,” Proceedings of the National Academy of Sciences, vol. 109, no. 3, pp.E135–E143, Dec. 2011.82. S. W. Hell and J. Wichmann, “Breaking the diffraction resolution limit by stimulatedemission: stimulated-emission-depletion fluorescence microscopy,” Optics Letters,vol.
19, no. 11, p. 780, Jun. 1994.83. M. J. Rust, M. Bates, and X. Zhuang, “Sub-diffraction-limit imaging by stochasticoptical reconstruction microscopy (STORM),” Nature Methods, vol. 3, no. 10, pp.793–796, Aug. 2006.84. E. Betzig, G. H. Patterson, R. Sougrat, O. W. Lindwasser, S. Olenych, J. S.Bonifacino, M. W. Davidson, J. Lippincott-Schwartz, and H. F.
Hess, “ImagingIntracellular Fluorescent Proteins at Nanometer Resolution,” Science, vol. 313, no.5793, pp. 1642–1645, Sep. 2006.85. S. T. Hess, T. P. K. Girirajan, and M. D. Mason, “Ultra-High Resolution Imaging byFluorescence Photoactivation Localization Microscopy,” Biophysical Journal, vol. 91,no.
11, pp. 4258–4272, Dec. 2006.86. G. Zheng, R. Horstmeyer, and C. Yang, “Wide-field, high-resolution Fourierptychographic microscopy,” Nature Photonics, vol. 7, no. 9, pp. 739–745, Jul. 2013.20287. X. H. Dong, A. M. H. Wong, M. Kim, and G. V. Eleftheriades, “Superresolution farfield imaging of complex objects using reduced superoscillating ripples,” Optica, vol.4, no. 9, p. 1126, Sep. 2017.88.
Болтс Г.П. Обратные задачи в оптике. – М.: Машиностроение, 1984. – 200 с.89. Гуров И.П. Компьютерная обработка видеоинформации. Методы обработкинеподвижных изображений. Учебное пособие. – СПб.: БХВ, 1998.90. Гуров И.П. Формирование и анализ сигналов в системах компьютернойфотоники. Учебно-методическое пособие.
– СПб: Университет ИТМО, 2018. –108 с.91. Реконструкция изображений: Пер. с англ./Под ред. Г. Старка. — М.: Мир,1992.— 636 с, ил.92. Королев А.Н., Гарцуев А.И., Полищук Г.С., Трегуб В.П. Метрологическиеисследования и выбор формы оптической марки в цифровых измерительныхсистемах // Оптический журнал. 2010. T. 77. № 6. C. 25–27.93. Королев А.Н., Лукин А.Я., Полищук Г.С. Новая концепция измерения угла.Модельные и экспериментальные исследования // Оптический журнал.
2012. Т.79. № 6. С. 52–58.94. Mark de Berg, Marc van Kreveld, Mark Overmars, and Otfried Schwarzkopf (2000),Computational Geometry (2nd revised ed.), Springer-Verlag, ISBN 3-540-65620-0Chapter 3: Polygon Triangulation: pp.45–61.95. Meisters, G. H., "Polygons have ears." American Mathematical Monthly 82 (1975).648–651.96. Черноруцкий И.
Г. Методы оптимизации. Компьютерные технологии. — СПб.:БХВ-Петербург, 2011. — 384 с.97. Тихонов А.Н., Арсенин В.Я. Методы решения некорректных задач. – М.: Наука,1979. – 285 c.98. Richardson W. H. Bayesian-based iterative method of image restoration // JOSA. –1972. – Т. 62. – №.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
