Материал для подготовки к экзамену по электротехнике (1092854), страница 22
Текст из файла (страница 22)
Основы промышленной электроники
Промышленная электроника является одним из важнейших разделов технической электроники, занимающейся изучением и практическим использованием электронных электровакуумных и полупроводниковых приборов и устройств в различных отраслях промышленности.
В промышленной электронике в зависимости от области практического применения можно выделить три направления:
1. Информационная электроника является основой электронно-вычислительной и информационно-измерительной техники и устройств автоматики. К ней относятся электронные устройства и системы, связанные с получением, обработкой, хранением, передачей и использованием информации, а также контролем и управлением промышленными объектами и технологическими процессами;
2. Энергетическая (силовая) электроника занимается изучением и промышленным использованием электронных устройств, связанных с преобразованием электрической энергии средней и большой мощности в системах электрического привода.
3. Электронная технология занимается изучением и промышленным использованием электронных устройств в технологических процессах, основанных на использовании энергии электромагнитных волн, электронных и ионных излучений и др.
Современная промышленная электроника основана на широком применении полупроводниковых приборов, которые по сравнению с электровакуумными приборами обладают большими достоинствами: высокий коэффициент полезного действия, низкое энергопотребление, высокая надёжность и долговечность, незначительные габариты и масса.
ОБРАЗОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННО - ДЫРОЧНОГО ПЕРЕХОДА
В большинстве полупроводниковых приборов используются кристаллы комбинированного полупроводника с двумя и более слоями (зонами), образованными примесными полупроводниками с различным типом проводимости, т. е. полупроводниками р и n - типа.
Область комбинированного полупроводника, расположенная вблизи металлургической границы, разделяющей полупроводник на две части с разнотипной проводимостью ( p и n - зоны), называется электронно - дырочным переходом или р – п - переходом.
Электронно-дырочный переход (рис. 7) обычно получают вплавлением или диффузией соответствующих примесей в пластинку монокристалла чистого полупроводника. Электронно-дырочный переход представляет собой очень тонкий (не более десятых долей микрометра) слой, разделяющий р и n – полупроводники (р и n – зоны) и в отличие от примесных или чистых полупроводников обладающий свойством односторонней проводимости, на использовании которой основана работа полупроводниковых приборов.
Образование электронно-дырочного перехода обусловлено различием концентраций подвижных носителей заряда в электронной и дырочной областях (зонах) комбинированного р - n – полупроводника. В отсутствие внешнего электрического поля в зоне контакта полупроводников р и n – типа из-за разности концентраций подвижных носителей заряда в р и n - зонах происходит процесс диффузии основных носителей электрических заряда из зоны с повышенной концентрацией носителей в зону с пониженной концентрацией носителей заряда (диффузионный ток I ДИФ), т. е. дырки, концентрация которых повышена в полупроводнике р – типа, диффундируют в n - зону, а электроны, концентрация которых повышена в полупроводнике n – типа - диффундируют в р – зону. При встречном движении положительных (дырок) и отрицательных (электронов) носителей зарядов они взаимно нейтрализуются (рекомбинируют) и вблизи границы раздела полупроводников р и n – типа возникает область, обеднённая подвижными основными носителями заряда и обладающая высоким электрическим сопротивлением (запирающий слой).
Рис. 7. Структура электронно-дырочного перехода
Если бы электроны и дырки были нейтральными, то в процессе диффузии произошло бы в конечном итоге полное выравниванию их концентраций по всему объему кристалла. Однако в действительности этого не происходит, поскольку диффузионный ток через р и n - переход приводит к нарушению баланса положительных и отрицательных зарядов и возникновению в запирающем слое электрического поля, препятствующего диффузии носителей зарядов. Уход электронов из n - зоны полупроводника приводит к тому, что их концентрация вблизи р и n - перехода уменьшается и здесь возникает не скомпенсированный положительный заряд неподвижных ионов донорной примеси. В другой части полупроводника - в р – зоне - вследствие ухода дырок их концентрация вблизи р и n - перехода снижается и здесь возникает не скомпенсированный отрицательный заряд неподвижных ионов кристаллической решётки.
Таким образом, в результате диффузии носителей заряда в запирающем слое нарушается баланс положительных и отрицательных зарядов и на границе раздела полупроводников р и n – типа возникают два слоя противоположных по знаку зарядов, образованных неподвижными ионами кристаллической решётки: отрицательными в р - зоне, в положительными в n – зоне, т. е. возникает так называемый двойной электрический слой.
Этот двойной электрический слой (контактная разность потенциалов), образованный пространственными зарядами ионов кристаллической решётки, создает внутри запирающего слоя электрическое поле напряженностью E ПЕР ( поле перехода или потенциальный барьер), направленное от n - зоны полупроводника к р – зоне, т. е. направленное навстречу диффузионному току. Под действием поля перехода возникает встречное движение неосновных носителей заряда через р – п - переход – дырок из n – зоны и электронов – из р – зоны, т. е. возникает так называемый дрейфовый ток I ДР , направленный навстречу диффузионному току.
Разделение носителей заряда на диффундирующие и дрейфующие довольно условно, т.к. в действительности каждый носитель заряда в запирающем слое находится в движении под одновременным действием сил диффузии и внутреннего электрического поля перехода. Через некоторое время дрейфовый ток полностью компенсирует диффузионный и в области р – п - перехода наступает динамическое равновесие, когда результирующий ток через переход равен нулю
I = I ДИФ - I ДР = 0.
Такой режим соответствует равновесному состоянию р – п - перехода при отсутствии внешнего электрического поля.
Свойства электронно - дырочного перехода при наличии внешнего напряжения
Включение электронно - дырочного перехода в прямом направлении
Если двухслойный р – п - полупроводник включить в электрическую цепь в прямом направлении, т. е. так, что плюс приложен к р - слою, а минус к n – слою (рис. 8), то напряжение внешнего электрического поля EВН практически все оказывается приложенным к запирающему слою, как к участку с наибольшим сопротивлением. Из-за встречного направления внутреннего E ПЕР и внешнего EВН полей результирующая напряженность электрического поля в запирающем слое и потенциальный барьер снижаются: E РЕЗ = E ПЕР - EВН .
Снижение потенциального барьера приводит к уменьшению объемного заряда и сужению запирающего слоя, в результате чего возрастает количество основных носителей заряда, обладающих энергией, достаточной для преодоления р – п - перехода, а как следствие этого - увеличивается диффузионная составляющая тока через переход. При этом дрейфовая составляющая тока практически остаётся постоянной, поскольку не зависит от приложенного напряжения, а определяется напряжением поля перехода E ПЕР и количеством неосновных носителей заряда, концентрация которых в примесных полупроводниках по сравнению с основными носителями очень мала.
Поэтому при прямом включении р – п - перехода возникает результирующий ток - прямой ток, протекающий через переход в прямом направлении из р – зоны в п - зону: I ПР = I ДИФ - I ДР > 0.
Рис. 8. Прямое включение электронно-дырочного перехода
Поскольку величина потенциального барьера р – п - перехода обычно составляет несколько десятых долей вольта, то даже небольшое прямое напряжение U ПР (порядка десятых долей вольта), приложенное к р – п – переходу, вызывает появление большого прямого тока IПР , обусловленного высокой концентрацией основных носителей заряда – дырок в р – зоне и электронов в п - зоне и в зависимости от мощности полупроводникового прибора достигающего величины порядка сотен и тысяч ампер. В случае, если прямой ток превышает некоторое значение, допустимое по условиям теплового нагрева полупроводника, то вследствие повышенного тепловыделения происходит быстрый перегрев полупроводника и тепловое разрушение р – п – перехода.
Другими словами при прямом включении р – п – перехода его электрическое сопротивление R ПР = U ПР / IПР очень мало (порядка десятых – сотых долей ома), поэтому им часто пренебрегают, принимая практически равным нулю (R ПР ≈ 0) и в этом случае используют выражение « р – п – переход открыт ».
Включение электронно-дырочного перехода в обратном направлении
Если двухслойный р – п - полупроводник включить в электрическую цепь в обратном направлении, т. е. так, что плюс приложен к n - слою, а минус к p – слою (рис. 9), то в этом случае направления внутреннего E ПЕР и внешнего EВН полей совпадают и результирующая напряженность электрического поля в запирающем слое и потенциальный барьер возрастают: E РЕЗ = E ПЕР + EВН .
При этом возрастает заряд двойного электрического слоя и ширина запирающего слоя, поэтому диффузия основных носителей заряда через переход становится практически невозможной и диффузионный ток через переход I ДИФ = 0. В этом случае результирующий ток через переход будет определяться только дрейфовым током неосновных носителей заряда, протекающим в обратном направлении и называемым обратным током:
I ОБР = I ДР = I ДИФ - I ДР .
Рис. 9. Обратное включение электронно-дырочного перехода
Обратный ток I ОБР , обусловленный движением неосновных носителей заряда (дырок из n – зоны в р – зону и электронов из р – зоны в n – зону) под действием возросшего поля перехода E РЕЗ несколько увеличивается, однако даже при большом обратном напряжении U ОБР (порядка сотен вольт) остаётся очень незначительным (порядка нескольких милли - микроампер), так как концентрации неосновных (собственных) носителей заряда в полупроводнике - дырок в n – зоне и электронов в р – зоне очень малы.
Другими словами при обратном включении р – п – перехода его электрическое сопротивление R ОБР = U ОБР / IОБР очень велико (порядка миллионов ом), поэтому часто его принимают практически равным бесконечности (R ОБР ≈ ∞) и в этом случае используют выражение « р – п – переход закрыт ».