20090524-2149(чернь3) (1088615), страница 3
Текст из файла (страница 3)
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Поправочный коэффициент для уточнения количества микросборок i-го типа в субблоке j-го типа определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Уточненное количество микросборок i-го типа в субблоке j-го типа, за исключением микросхем Nт.с-го типа, определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Уточненное количество микросборок определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Количество микросборок всех типов во всех субблоках записываем в табличной форме:
для J1:
j | Nс.с.i.j | ||||||||||
1 | 12 | 12 | 12 | ||||||||
2 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | ||
3 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 |
для J2:
j | Nс.с.i.j | |||||||||||
1 | 7 | 7 | 7 | |||||||||
2 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | |||
3 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 |
-
Определение параметров надёжности аппаратуры.
-
Интенсивность отказов микросхем.
-
В данной курсовой работе пункт 5.1. не считается. Интенсивность отказов гибридных микросхем определяем по справочнику:
-
Интенсивность отказов аппаратуры.
-
Интенсивность отказов субблоков j-го типа определяем по формуле:
-
где: λс.ш – интенсивность отказов схем широкого применения ( );
λс.с – интенсивность отказов микросборок ( );
λ1К.П – интенсивность отказов паяного контакта ( );
ММ.С – количество задействованных выводов микросхемы (для J1и J2 –8).
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве управления определим по формуле:
-
Количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве ввода-вывода определим по формуле:
-
Количество внешних выводов разъёма кассеты в арифметическом устройстве определим по формуле:
-
Интенсивность отказов кассеты устройства управления определим по формуле:
-
Интенсивность отказов кассеты устройства ввода-вывода определим по формуле:
-
Интенсивность отказов кассеты арифметического устройства определим по формуле:
-
Определим количество внешних выводов аппаратуры:
-
Интенсивность отказа аппаратуры варианта разъёмной конструкции определим по формуле:
где: λ1КВ – интенсивность отказов врубного контакта разъёма ( ).
-
Интенсивность отказа аппаратуры варианта книжной конструкции определим по формуле:
-
Интенсивность отказа аппаратуры варианта кассетной конструкции определим по формуле:
-
Учёт влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.
-
Интенсивность отказов аппаратуры с учетом её работы при реальной температуре, выбранной внутри интервала допустимых температур определим по формуле:
-
где: Кэ – поправочный коэффициент, учитывающий режимы эксплуатации для различных классов аппаратуры (задан как ω = 0,9).
для разъёмной конструкции:
для книжной конструкции:
для кассетной конструкции:
-
Интенсивность отказов аппаратуры с учетом влияния условий окружающей среды определим по формуле:
где: КМ – коэффициент, учитывающий влияние механических воздействий (КМ = 1,0);
КВЛ – коэффициент, учитывающий влияние влажности (КВЛ = 1,0);
КД – коэффициент, учитывающий влияние пониженного давления (КД = 1,14).
для разъёмной конструкции:
для книжной конструкции:
для кассетной конструкции:
-
Среднее время безотказной работы аппаратуры определим по формуле:
для разъёмной конструкции:
для книжной конструкции:
для кассетной конструкции:
-
Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и ЗИПа.
-
Число профилактических осмотров.
-
Т.к. аппаратура эксплуатируется в течение части суток, и при этом осуществляются профилактические осмотры в промежутках между рабочими циклами, то величину среднего времени между отказами аппаратуры определяем путем решения уравнения:
-
-
где: ТПР – время профилактического осмотра.