20090517(ТелоВВ) (1088611), страница 3

Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла (страница 3)

λ_с.с – интенсивность отказов микросборок;

λ_1К.П – интенсивность отказов паяного контакта;

М_М.С – количество задействованных выводов микросхемы.

для устройства ввода-вывода:

для арифметического устройства:

для устройства управления:

1. Определим количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве управления:

1. Определим количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве ввода-вывода:

   Для J1:
   Для J2:

2. Определим количество внешних выводов разъёма кассеты в арифметическом устройстве:

   Для J1:
   Для J2:

3. Определим интенсивность отказов кассеты устройства управления:

   Для J1:
   Для J2:

4. Определим интенсивность отказов кассеты устройства ввода-вывода:

   Для J1:
   Для J2:

5. Определим интенсивность отказов кассеты арифметического устройства:

   Для J1:
   Для J2:

6. Определим количество внешних выводов аппаратуры:

7. Определим интенсивность отказа аппаратуры варианта разъёмной конструкции

где: λ_1КВ – интенсивность отказов врубного контакта разъёма.

1. Определим интенсивность отказа аппаратуры варианта книжной конструкции:

   Для J1:
   Для J2:

2. Определим интенсивность отказа аппаратуры варианта кассетной конструкции:

   Для J1:
   Для J2:

1. Учёт влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.

   1. Определим интенсивность отказов аппаратуры с учетом её работы при реальной температуре, выбранной внутри интервала допустимых температур:

Для разъёмной конструкции:

Для книжной конструкции:

Для кассетной конструкции:

где: К_э – поправочный коэффициент, учитывающий режимы эксплуатации для различных классов аппаратуры (задан как ω = 0,9).

1. Определим интенсивность отказов аппаратуры с учетом влияния условий окружающей среды:

Для разъёмной конструкции:

Для книжной конструкции:

Для кассетной конструкции:

где: К_М – коэффициент, учитывающий влияние механических воздействий (К_М = 1,0);

К_ВЛ – коэффициент, учитывающий влияние влажности (К_ВЛ = 1,0);

К_Д – коэффициент, учитывающий влияние пониженного давления (К_Д = 1,14).

1. Определим среднее время безотказной работы аппаратуры:

Для разъёмной конструкции:

Для книжной конструкции:

Для кассетной конструкции:

1. Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и ЗИПа.

   1. Число профилактических осмотров.

      1. Т.к. аппаратура эксплуатируется в течение части суток, и при этом осуществляются профилактические осмотры в промежутках между рабочими циклами, то величину среднего времени между отказами аппаратуры определяем путем решения уравнения:

где: Т_ПР – время профилактического осмотра.

Это уравнение решаем графоаналитически (Приложение 2), путем нахождения общей точки кривых Т₁ и Т₂ – Т₃, описываемых формулами:

Для разъёмной конструкции:

Для книжной конструкции:

Для кассетной конструкции:

1. Определим время назначенного ресурса аппаратуры:

Для разъёмной конструкции:

Для книжной конструкции:

Для кассетной конструкции:

1. Определим время наработки между двумя профилактическими осмотрами:

Для разъёмной конструкции:

Для книжной конструкции:

Для кассетной конструкции:

1. Число профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса аппаратуры определим по формуле:

Для разъёмной конструкции:

Для книжной конструкции:

Для кассетной конструкции:

1. Комплект ЗИП.

   1. Типовыми элементами замены (ТЭЗ) аппаратуры являются:

для варианта разъёмной конструкции – субблок,

для варианта кассетной конструкции – кассета,

для варианта книжной конструкции – блок.

1. Количество ТЭЗ в комплекте ЗИПа определяется в два этапа:

а) определим количество ЭВ, необходимое для замены:

Для устройства ввода-вывода:

Для арифметического устройства:

Для устройства управления:

б) количество ТЭЗ в комплекте ЗИПа определим по формуле:\

Для устройства ввода-вывода:

Для арифметического устройства:

Для устройства управления:

1. Количество субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течении времени назначенного ресурса.

   1. Количество ТЭЗ, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:

Для разъёмной конструкции:

Для книжной конструкции:

Для кассетной конструкции:

1. Распределение по типам субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров, для варианта разъёмной конструкции аппаратуры определяем по формуле:

1. Количество субблоков и микросхем, необходимых для эксплуатации аппаратуры.

1. Определение затрат на разработку, производство и эксплуатацию аппаратуры.

ПРИЛОЖЕНИЕ 1

ПРИЛОЖЕНИЕ 2

Характеристики

Список файлов курсовой работы