20090517(ТелоВВ) (1088611), страница 2

Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла (страница 2)

для J₂: N_а.у.а. = 858; N_а.у.у. = 643; N_а.у.в. = 643.

1. Конструктивные параметры аппаратуры.

   1. Ориентировочный объём, занимаемый аппаратурой на микросхемах с уровнем интеграции J₁, определяем по формуле:

на микросхемах с уровнем интеграции J₂:

1. По величине ориентировочного объёма, в соответствии с ГОСТ20504-81 для стационарной аппаратуры, выбираем ближайший тип корпуса блока, объём V которого превышает величину V΄, и определяем его габаритные размеры (Приложение 1):

Блок для микросхем с уровнем интеграции J₁: V₁ = 7,92дм³, с размерами 100х180х440мм.; для микросхем с уровнем интеграции J₂: V₂ = 7,92дм³, с размерами 100х180х440мм.

1. Исходя из габаритных размеров выбранного корпуса блока в зависимости от конструктивной реализации аппаратуры и в соответствии с требованиями ОСТ4ГО.010.009 выбираем размеры печатных плат: L_X = 170мм.; L_Y = 75мм.

2. Определяем ориентировочное среднее количество выводов субблока:

   Для J1:
   Для J2:

3. Исходя из ориентировочного среднего количества выводов субблока выбираем тип разъёма, содержащий М′′_сб выводов (М′′_сб ≥ М′_сб). Для J₁ и J₂ выбран разъём ГРППМ7-48Г1.

Черт.2

1. Основные размеры платы указаны на черт.2.

Для разъёмной конструкции по выбранным размерам печатных плат и размерам вилки выбранного разъёма в соответствии с ОСТ4ГО.010.009 выбираем размеры монтажной зоны L_X1 = 127,5мм и L_Y1 = 65мм.

Для книжной и кассетной конструкции по выбранным размерам печатных плат и по размерам скобы с крышкой в соответствии с ОСТ4ГО.010.009 выбираем размеры монтажной зоны L_X1 = 125мм и L_Y1 = 65мм.

1. Определим число горизонтальных (n_Y) и вертикальных (n_X) рядов микросхем для разъёмной конструкции:

для книжной и кассетной конструкции:

Для односторонней установки, определяем максимально возможное количество микросхем на плате:

1. Количество микросхем N_с, устанавливаемых в субблоке, выбираем в пределах от 0,6  N_c.макс до N_c.макс. N_c = 50.

2. Определяем количество субблоков устройства ввода-вывода:

где: N_с.в. – количество микросхем в субблоке устройства ввода-вывода.

1. Определяем количество субблоков арифметического устройства:

где: N_с.а. – количество микросхем в субблоке арифметического устройства.

1. Определяем количество субблоков устройства управления:

где: N_с.у. – количество микросхем в субблоке устройства управления.

1. Количество субблоков в аппаратуре определяем:

   Для J1 и J2:

2. Так как выполняется условие 2JN_с.макс > N_сб., то аппаратура конструктивно реализуется на двух субблоках, один из которых занимает арифметическое устройство, а другой – устройство ввода-вывода и устройство управления.

3. Уточняем количество внешних выводов субблока:

   Для J1:
   Для J2:

4. Так как уточненное количество внешних выводов субблока превышает количество выводов вилки разъёма субблока, то выбираем другой разъём: для J₁ и J₂ – ГРППМ7-90Г1.

5. Определим габаритные размеры субблоков (L_X2 – длина и L_Y2 – ширина):

   для разъёмной:
   для книжной и кассетной:

6. Определим ориентировочную длину корпуса блока разъёмной конструкции:

где: Z₁ – расстояние от лицевой панели корпуса блока до переднего крайнего субблока; Z₂ – расстояние от задней панели корпуса блока до заднего крайнего субблока; Z₃ – расстояние между субблоками.

1. Определим ориентировочную ширину корпуса блока книжной или кассетной конструкции:

где: Z₄ – расстояние от боковой стенки корпуса блока до крайнего субблока.

1. Определим мощность, потребляемую блоком от источника питания (P_в – можно принять равной минимальной потребляемой мощности для транзистора):

   Для J1:
   Для J2:

1. Структурный анализ аппаратуры на уровне микросхем.

   1. Количество типов микросхем.

      1. Определим количество типов микросхем широкого применения и микросборок:

         Для J1:
         Для J2:

      2. Определим количество типов микросхем широкого применения:

где: ξ₁ – коэффициент пропорциональности типов схем широкого применения, учитывающий класс аппаратуры. Принимаем ξ₁ = 0,6.

1. Определим количество типов микросборок:

   Для J1:
   Для J2:

2. Определим ориентировочное количество микросхем широкого применения в разрабатываемой аппаратуре:

где: ξ₂ – коэффициент пропорциональности схем широкого применения, учитывающий класс аппаратуры. Принимаем ξ₂ = 0,4.

1. Определим ориентировочное количество микросборок в разрабатываемой аппаратуре:

   Для J1:
   Для J2:

1. Распределение блоков по типам.

   1. Определим количество неповторяющихся субблоков части блока неоднородной структуры:

Так как для , то все субблоки являются неповторяющимися и их количество принимаем равным .

1. Определяем число типов субблоков аппаратуры для неповторяющихся субблоков:

   Для J1 и J2:

1. Распределение микросхем по типам.

   1. Ориентировочное количество микросхем широкого применения в субблоке j-го типа определяем по формуле:

(для неповторяющихся субблоков γ_j = 1)

для устройства ввода-вывода:

для арифметического устройства:

для устройства управления:

1. Определим ориентировочное количество микросборок в субблоке j-го типа:

для устройства ввода-вывода:

для арифметического устройства:

для устройства управления:

1. Поправочный коэффициент для уточнения количества микросборок в субблоке j-го типа определяем по формуле:

для устройства ввода-вывода:

для арифметического устройства:

для устройства управления:

1. Уточненное количество микросборок в субблоке j-го типа определяем по формуле:

для устройства ввода-вывода:

для арифметического устройства:

для устройства управления:

1. Уточненное количество микросхем широкого применения в субблоке j-го типа определяем по формуле:

для устройства ввода-вывода:

для арифметического устройства:

для устройства управления:

1. Уточненное количество микросхем широкого применения в блоке:

   Для J1:
   Для J2:

2. Уточненное количество микросборок в блоке:

1. Определение параметров надёжности аппаратуры.

   1. Интенсивность отказов микросхем.

В данной курсовой работе пункт 5.1. не считается. Интенсивность отказов гибридных микросхем определяем по справочнику:

1. Интенсивность отказов аппаратуры.

   1. Интенсивность отказов субблоков j-го типа определяем по формуле:

где: λ_с.ш – интенсивность отказов схем широкого применения;

Характеристики

Список файлов курсовой работы