Отзыв на автореф. от Афанасьева (Электронная спектроскопия материалов и микроструктур в сканирующем электронном микроскопе)
Описание файла
Файл "Отзыв на автореф. от Афанасьева" внутри архива находится в следующих папках: Электронная спектроскопия материалов и микроструктур в сканирующем электронном микроскопе, Документы. PDF-файл из архива "Электронная спектроскопия материалов и микроструктур в сканирующем электронном микроскопе", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "физико-математические науки" из Аспирантура и докторантура, которые можно найти в файловом архиве МГУ им. Ломоносова. Не смотря на прямую связь этого архива с МГУ им. Ломоносова, его также можно найти и в других разделах. , а ещё этот архив представляет собой кандидатскую диссертацию, поэтому ещё представлен в разделе всех диссертаций на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст из PDF
Отзыв на автореферат диссертации Купреенко Степана Юрьевича ".электронная спектроскопия материалов и микроструктур в сканирующем электронном микроскопе" представленной на соискание ученой степени канд~да~а физико-матемьггнческих наук по специальности О!.04.04 — физическая электроника Сканирующая электронная микроскопия и электронная спектроскопия являются самостоятельнымн мощными областями исследований.
В работе Купреенко С.Ю, осуществлена, н довольно успешно, попытка обьединить этн два метода анализа микроструктур, т,е. реализовать электронную спектроскопию в условиях работы сканирующего электронного микроскопа — со всеми вытекающими достоинствами н недостатками. В диссертационной работе Купреенко С.Ю. проделана большая исследовательская работа по в~~с~~нию адажи~~ закономерностси зарядки диэлектриков электролами средних энергий, эмиссии вторичных электронов, критически проанализированы существующие теоретвческне представления и предложены новые, логично обоснованные модели протекающих процессов.
Полученный обширный экспериментальный материала убедительно подтверждает правомерность этих моделей и в частности. обрккшання двойного слоя зарядов в облучаемой электронами диэлек|рнческой мишени. Большое внимание уделено вопросам развития методики эксперимента. Доктор ф.-м. наук„профессор кафедры Общей физики и ядерного синтеза НИУ МЭИ у.
с~~ ® аммь~!'! Подпись профессора Афанасьева Виктора Г!ет «ф» ~~ 20!7г. Это усовершенствование детекторов, создание и усовершенствование методов измерения толщин пленок, разработка метода трехмерной реконсзрукции поверхности в растровом электронном микроскопе, оригинальные методы измерения потенциалов поверхности, и открывающиеся в результате этого перспективы.
Диссертационная работа Купреенко С.Ю, является существенным вкладом в области нанотехнологий, физической электроники н электронной микроскопии, соответствует всем требованиям ВАК России, а ее автор заслуживает присуждения ему искомой степени кандидата физико-математических наук по специальности О! .04.04 — физическая электроника. .