Диссертация (Создание высокоточных методов анализа твердых тел на основе расшифровки данных электронной спектроскопии методами инвариантного погружения), страница 20
Описание файла
Файл "Диссертация" внутри архива находится в папке "Создание высокоточных методов анализа твердых тел на основе расшифровки данных электронной спектроскопии методами инвариантного погружения". PDF-файл из архива "Создание высокоточных методов анализа твердых тел на основе расшифровки данных электронной спектроскопии методами инвариантного погружения", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "физико-математические науки" из Аспирантура и докторантура, которые можно найти в файловом архиве МГУ им. Ломоносова. Не смотря на прямую связь этого архива с МГУ им. Ломоносова, его также можно найти и в других разделах. , а ещё этот архив представляет собой кандидатскую диссертацию, поэтому ещё представлен в разделе всех диссертаций на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст 20 страницы из PDF
— С. 76-80.8. Афанасьев В.П., Капля П.С., Иванов Д.А., Лубенченко А.В. Влияние процессов упругогорассеяния на спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии слоисто неоднородных мишеней // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2014. — Т. 2014. № 4. — С. 83-86.9. Афанасьев В.П., Капля П.С., Лубенченко А.В., Иванов Д.А. Влияние процесса многократного упругого рассеяния на сигнал рентгеновской фотоэлектронной спектроскопиив широком интервале потерь энергии / // Известия Российской Академии Наук. СерияФизическая. — 2014. — Т. 78, № 6. — С.
714-717.10. Afanas’ev V.P., Kaplya P.S., Gryazev A.S. Angle-resolved photoelectron spectra of layers offinite thickness // Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques.— 2015. — Vol. 9, no. 3. — Pp. 590-598.11. Afanas’ev V.P., Golovina O.Yu., Gryazev A.S., Kaplya P.S. et al. Photoelectron spectra offinite-thickness layers // Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and12512.13.14.15.16.17.18.Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena. — 2015. — Vol.
33,no. 3 — P. 03D101.Афанасьев В.П., Головина О.Ю., Капля П.С. Количественная интерпретация энергетических спектров рентгеновской фотоэмиссии // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — Т. 2015, № 4. — С. 19-23.Афанасьев, В.П. Капля, П.С. Теория формирования энергетических спектров отраженных заряженных частиц // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронныеисследования. — 2015. — Т. 2015, № 7. — С. 66-71.В.П. Афанасьев, П.С. Капля, О.Ю. Головина и др. Расшифровка спектров РФЭС с последовательным учeтом влияния процессов многократного упругого и неупругого рассеяния// Поверхность.
Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2015. —Т. 2015, № 1. — С. 68-73.В.П. Афанасьев, П.С. Капля, О.Ю. Головина и др. Расчет рентгеновских спектров фотоэлектронов в широком интервале потерь энергии // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2015. — Т. 2015, № 9. — С. 9-14.Afanas’ev V.
P., Gryazev A. S., Kaplya P. S., Andreyeva Y. O. Intrinsic Excitation Effect forthe Al and Mg Samples XPS Analysis // Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotronand Neutron Techniques. — 2016. — Vol. 10, no. 1. — Pp. 113-117.Афанасьев В.П., Грязев А.С., Капля П.С., Андреева Ю.О., Головина О.Ю. Спектры характеристических потерь энергии ниобия, дифференциальные сечения неупругих потерьэнергии и рентгеновские фотоэлектронные спектры с угловым разрешением // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2016.
Т. 2016, №1— С.73-79.Афанасьев В.П., Капля П.С., Лисицына Е.Д. Малоугловое приближение и модельОсвальда–Каспера–Гауклера в задачах отражения электронов от твердых тел // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2016. Т. 2016, №3— С.66-71.126Список литературы1 Гомоюнова М.В. Электронная спектроскопия поверхности твердого тела // Успех физическихнаук. — 1982. — Т. 136, № 1. — DOI: 10.3367/UFNr.0136.198201d.0105.2 Hofmann S.
Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science. — Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2013. — Vol. 49 of Springer Series in Surface Sciences. —DOI: 10.1007/978-3-642-27381-0.3 Went M., Vos M. Electron Rutherford back-scattering case study: oxidation and ion implantationof aluminium foil // Surface and Interface Analysis. — 2007. — nov.
— Vol. 39, no. 11. —DOI: 10.1002/sia.2603.4 Boersch H., Wolter R., Schoenebeck H. Elastische Energieverluste kristallgestreuter Elektronen //Zeitschrift für Physik. — 1967. — Vol. 199, no. 1. — DOI: 10.1007/BF01326021.5 Vos M. Detection of hydrogen by electron Rutherford backscattering // Ultramicroscopy. — 2002.— aug. — Vol.
92, no. 3-4. — DOI: 10.1016/S0304-3991(02)00127-4.6 Surface potential measurements of electron-irradiated insulators using backscattered and secondaryelectron spectra from an electrostatic toroidal spectrometer adapted for scanning electron microscope applications / O. Jbara, M. Belhaj, S. Odof et al. // Review of Scientific Instruments. — 2001.— Vol. 72, no. 3. — DOI: 10.1063/1.1344596.7 Rau E. I., Reimer L. Fundamental problems of imaging subsurface structures in the backscatteredelectron mode in scanning electron microscopy // Scanning. — 2006.
— dec. — Vol. 23, no. 4. —DOI: 10.1002/sca.4950230403.8 Afanas’ev V., Naujoks D. Backscattering of fast electrons // Zeitschrift für Physik B CondensedMatter. — 1991. — Vol. 83. — DOI: 10.1007/BF01314398.9 Powell C., Jablonski A. Progress in quantitative surface analysis by X-ray photoelectron spectroscopy: Current status and perspectives // Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. — 2010. — Vol. 178-179. — DOI: 10.1016/j.elspec.2009.05.004.10 Tougaard S. Energy loss in XPS: Fundamental processes and applications for quantification, nondestructive depth profiling and 3D imaging // Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. — 2010. — may.
— Vol. 178-179. — DOI: 10.1016/j.elspec.2009.08.005.11 Тихонов А.Н., Арсенин В.Я. Методы решения некорректных задач. — Москва: Наука, 1980. —С. 288.12 Goudsmit S., Saunderson J. Multiple scattering of electrons. II // Physical Review. — 1940. —Vol. 58, no. 1. — DOI: 10.1103/PhysRev.58.36.12713 Goudsmit S., Saunderson J. Multiple scattering of electrons // Phys. Rev. — 1940. — Vol. 57. —DOI: 10.1103/PhysRev.57.24.14 Компанеец А.С. Многократное рассеяние быстрых электронов и α-частиц в тяжелых элементах // Журнал Экспериментальной и Теоретической Физики. — 1945.
— Т. 15, № 6. — С. 235–243.15 Компанеец А.С. Многократное рассеяние тонких пучков быстрых электронов // Журнал Экспериментальной и Теоретической Физики. — 1947. — Т. 17, № 12. — С. 1059–1062.16 Landau L. On the energy loss of fast particles by ionization // Journal of Physics-USSR. — 1944.— Vol. 8. — pp. 201–205.17 Scott W., Snyder H. On Scattering Induced Curvature for Fast Charged Particles // Physical Review.— 1950. — Vol. 78, no.
3. — DOI: 10.1103/PhysRev.78.223.18 Амбарцумян В.А. К задаче о диффузном отражении света // ЖЭТФ. — 1943. — Т. 11, № 9-10.— С. 323–334.19 Чандрасекар С. Перенос лучистой энергии. — Москва: Иностранная Литература, 1953. —С. 431.20 Fadley C. X-ray photoelectron spectroscopy: Progress and perspectives // Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. — 2010. — Vol. 178-179. — DOI: 10.1016/j.elspec.2010.01.006.21 Went M., Vos M. High-resolution study of quasi-elastic electron scattering from a two-layer system //Surface Science. — 2006.
— Vol. 600, no. 10. — DOI: 10.1016/j.susc.2006.02.038.22 Electron and neutron scattering from polymer films at high momentum transfer / M. Vos,C. Chatzidimitriou-Dreismann, T. Abdul-Redah, J. Mayers // Nuclear Instruments and Methodsin Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. — 2005. — Vol. 227,no. 3.
— DOI: 10.1016/j.nimb.2004.09.003.23 Trzhaskovskaya M., Nefedov V., Yarzhemsky V. Photoelectron angular distribution parameters forelements Z=1 to Z=54 in the photoelectron energy range RANGE 100-5000 eV // Atomic Data andNuclear Data Tables. — 2001. — Vol. 77, no. 1. — DOI: 10.1006/adnd.2000.0849.24 Tougaard S., Hansen H. Non-destructive depth profiling through quantitative analysis of surfaceelectron spectra // Surface and Interface Analysis. — 1989. — nov. — Vol.
14, no. 11. —DOI: 10.1002/sia.740141109.25 Seah M. P. Quantification in AES and XPS // Surface Analysis by Auger and X-ray PhotoelectronSpectroscopy / Ed. by D. Briggs, J. T. Grant. — Chichester: IM Publication, 2003. — pp. 345–375.26 Seah M. P. Quantification of AES and XPS // Practical Surface Analysis / Ed.
by D. Briggs, M. Seah.— Chichester: Wiley, 1990. — pp. 206–251.12827 Zakhvatova M., Gil’mutdinov F., Surnin D. Allowance for the background component in X-ray photoelectron and Auger electron spectroscopy // The Physics of Metals and Metallography. — 2007.— aug. — Vol. 104, no. 2. — DOI: 10.1134/S0031918X07080078.28 Shirley D. a.
High-Resolution X-Ray Photoemission Spectrum of the Valence Bands of Gold //Physical Review B. — 1972. — Vol. 5, no. 12. — DOI: 10.1103/PhysRevB.5.4709.29 Végh J. The Shirley background revised // Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. — 2006. — may. — Vol. 151, no. 3. — DOI: 10.1016/j.elspec.2005.12.002.30 Tougaard S. Practical algorithm for background subtraction // Surface Science. — 1989. — jun. —Vol.
216, no. 3. — DOI: 10.1016/0039-6028(89)90380-4.31 Tougaard S. Surface nanostructure determination by X-ray photoemission spectroscopy peak shapeanalysis // Journal of Vacuum Science & Technology A: …. — 1996. — Vol. 14, no. September1995. — pp. 1415–1423.32 Seah M. Background subtraction // Surface Science. — 1999. — jan. — Vol. 420, no. 2-3. —DOI: 10.1016/S0039-6028(98)00852-8.33 CasaXPS. — URL: http://www.casaxps.com.34 Jablonski A., Salvat F., Powell C. NIST Standard Reference Database 64. — URL: http://www.nist.gov/srd/nist64.cfm.35 Tanuma S., Powell C., Penn D.
Calculations of electron inelastic mean free paths // Surface andInterface Analysis. — 2005. — Vol. 37, no. 1. — DOI: 10.1002/sia.1997.36 Tanuma S., Powell C., Penn D. Calculations of electron inelastic mean free paths. IX. Data for 41elemental solids over the 50 eV to 30 keV range // Surface and Interface Analysis. — 2011. —Vol. 43, no. 3. — DOI: 10.1002/sia.3522.37 Trzhaskovskaya M., Nefedov V., Yarzhemsky V. Photoelectron angular distribution parameters forelements Z=55 to Z=100 in the photoelectron energy range 100-5000 eV // Atomic Data and NuclearData Tables. — 2002. — Vol.
82, no. 2. — DOI: 10.1006/adnd.2002.0886.38 Afanas’ev V., Lubenchenko A., Efremenko D. On the application of the invariant embedding methodand RTE codes for surface state analysis // Light Scattering Reviews 8 / Ed. by A. A. Kokhanovsky.— Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2013. — pp. 363–423.39 Werner W. Website. —URL: http://eapclu.iap.tuwien.ac.at/{~}werner/data{_}rpn{_}adf.html.40 Tilinin I.
