Диссертация (Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность), страница 13

наук: 05.02.23 / Дорошевич Виктор Казимирович. - М., 2010. – 242 с.19. Дорошевич В.К., Дорошевич К.К., Критенко М.И. Комплексная оценка качества микросхем. МО РФ "Фундаментальные и поисковые исследования в интересах страны", вып. 77-78, 1993. с. 54-56.20. РД 22.12.174-94. Микросхемы интегральные. Порядок и методы проведенияфизико-технической экспертизы при оценке качества./ Ответственный исполнитель/, 22 ЦНИИИ МО, 1994. – 95 c.21. Дорошевич В.К., Мальцев П.П. Новый подход к проведению ускоренных испытаний микросхем. МО РФ "Фундаментальные и поисковые исследования в интересах страны", вып. 77-78, 1993.

– с 34 – 40.22. Основные вопросы теории и практики надежности. Сборник трудов семинаранаучного совета по проблеме надежности. Отделение механики и процессовуправления АН СССР / Под ред. Н. Г. Бруевич. М.: Советское радио, 1980.-327 с.23. Гнеденко Б.В., Беляков Ю.К., Соловьев А.Д. Математические методы в теориинадежности: Изд-во Наука, 1965. – 524 c.24. Бруевич Н.Г. Надежность, долговечность, точность. О надежности сложныхтехнических систем. – М. : Сов. Радио, 1966.

– С. 113–118.25. Епифанов А.Д. Надежность автоматических систем.— М,: Машиностроение,1964.— 235 с.26. Левин Б.Р. Теория надежности радиотехнических систем.— М.: Сов. радио,1978.—262 с.27. Маолов А.Я., Татарский В.Ю. Повышение надежности радиоэлектронной аппаратуры.- М.: Сов. радио, 1972.— 263 с.10328. Дружинин Г.В. Надежность систем автоматики – М.: Энергия, 1967.

– 526с.29. Дружинин Г.В. Надежность автоматизированных систем.— М: Энергия, 1977.– 536 с.30. Голинкевич Т.А. Оценка надежности радиоэлектронной аппаратуры. – М.:Изд-во Советское радио, 1969. – 174 c.31. ГОСТ РВ 20.57.414-97 КСКК. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические военного назначения. Методы оценки соответствия требованиям к надежности, Изд-во: Госстандарт России, 1997. – 17 с.32. РД 22.12.191-98. Микросхемы интегральные.

Методика оценки интенсивностиотказов микросхем по результатам испытаний. М. 22 ЦНИИИ МО, 1998. – 96 c.33. Исследование областей военно-технического применения, методов обеспечения отказоустойчивости, контролепригодности и разработка методологии испытаний суперкристаллов для высокоскоростных систем обработки данных: отчет оНИР, "Электроника ВСН-ВНС"/Ответственный исполнитель/. Инв.

949 – Мытищи: 22 ЦНИИИ МО, 1993.– 198 с.34. Исследование методов контроля и физико-технического анализа качества операций типовых технологических процессов изготовления схем с целью разработки мероприятий по дальнейшему повышению их качества: отчет о НИР/ ответственный исполнитель – Мытищи: 22 ЦНИИИ МО, 1980. – 190 с.35. Пролейко В.М., Абрамов В.А., Брюнин В.М. Система управления качествомизделий микроэлектроники. –М: Изд-во Советское радио, 1976 – 224 с.36.

Резиновский А.Я. Испытания и надежность радиоэлектронных комплексов.М.: Радио и связь, 1985. – 168 с.37. Бердичевский Б.Е. Вопросы обеспечения надежности радиоэлектронной аппаратуры при разработке.— М.: Сов. радио, 1977.— 381 с.10438. ОСТ 1114.1011-99. Стандарт отрасли. Микросхемы интегральные.

Система иметоды статистического контроля и регулирования технологического процесса. /Богданов Ю.И., Дорошевич К.К., Иванов А.В. и др. / М. ЦНИИ 22, 1999.– 78 с.39. ОСТ 11 20.9926-99 «Микросхемы интегральные. Требования к элементам производства. Сертификация систем качества и производств, /Ответственный исполнитель/,: Изд-во Минобороны, 1999. – 54 с.40. ОСТ 11 14.1012-99 «Микросхемы интегральные. Технические требования ктехнологическому процессу. Система и методы операционного контроля»,/Ответственный исполнитель/,: Изд-во Минобороны, 1999. – 67 с.41. ОСТ В 11 1010-2001 «Микросхемы интегральные, бескорпусные. Общие техническиеусловия»,/Ответственныйисполнитель:Изд-воМинобороны,2001.

– 77 с.42. Дружинин Г.В. Методы оценки и прогнозирования качества. М: Радио исвязь, 1982. – 160 с.43.СтоядиновичН.Д.Физическиеосновыотказовинтегральныхсхем. / Факультет электронной техники, Югославский университет, Белградская14/ представлена в издательство 5-го апреля 1983 года. – 1983.– 135 с.44. Развитие методов ускоренных испытаний на безотказность и наработку до отказа применительно к микросхемам с субмикронными размерами элементов: отчет о НИР / Малинин В.Г.

– Санкт-Петербург: ОАО «РНИИ «Электронстандарт»,2013. – 109 с.45. Справочник по надежности. Пеp. с англ. Под ред. Б.Е. Бердичевского. Т. 2. М.,«Мир», 1970. – 304 с.46. Справочник по надежности. Пер. с англ. Под ред. Б.Е. Бердичевского. Т. 3. М.,«Мир», 1970. – 376 с.47. Фокин Ю. Г. Надежность при эксплуатации технических средств. М., Воениздат, 1970. – 224 с.10548. Качество продукции: Статистические методы управления качеством. Регулирование технологических процессов методом группировки.

Рекомендации. Сост.Сперанский Б.С., Бондарь М.Т., Фридлендер И.Г. и др. – М.: 1978. – 29 с.49. Холлин Дж. Бездефектность (новый подход к проблеме обеспечения качества). Пер. с англ. Под ред. Я. М. Сорина. М., «Мир», 1968 – 336с.50. Дорошевич В.К. Требования к обеспечению качества и управлению технологическим процессом изготовления микросхем. «Нано- и микросистемная техника»№9, 2008 . – с. 21-23.51.

Сретенский В.Н., Трейер В.В. О метрологическом обеспечении контроля инадежности изделий в процессе эксплуатации: Надежность и контроль качества,1978. № 4, с. 38-45.52. Шишонок Н. А., Репкин В. Ф„ Барвинский Л, Л. Основы теории надежности иэксплуатации радиоэлектронной аппаратуры, под ред. Н.А. Шишонка.

М., «Советское радио», 1964. – 550 с.53. Сотсков Б.С. Основы теории и расчета надежности элементов и устройств автоматики и вычислительной техники. М., «Высшая школа». 1970. – 271 с.54. Павленко К. И. Надежность радиоэлектронной аппаратуры при циклическом инепрерывном режимах использования.

М., «Советское радио», 1971. – 160 с.55. Нечипоренко В. И. Структурный анализ и методы построения надежных систем. М., «Советское радио», 1968. – 254 с.56. Коуден Д. Статистические методы контроля качества. Пер. с англ.; Под ред.Б.Р. Левина. – М.: ФизМатГиз, 1961. – 623 с.57. Химмельблау Д. Анализ процессов статистическими методами. Пер. с англ.В.Д. Скаржинского; Под ред. В.Г. Горского. – М.: Мир, 1973. – 957 с.58. Фейгенбаум А. Контроль качества продукции.

Экономика, 1986. – 471 с.59. Шор Я.Б. Статистические методы анализа и контроля качества и надежности.М.: Советское радио, 1962. – 552 с.10660. Власов В.Е., Захаров В.П., Коробов А.И. Системы технологического обеспечения качества компонентов микроэлектронной аппаратуры. / Под ред.А.И.Коробова. - М.: Радио и связь, 1987. – 160 с.61. Груничев А.

С., Кузнецов В. А., Шипов Е. В. Испытания радиоэлектроннойаппаратуры на надежность. Под ред В. А. Кузнецова. М.. «Советское радио»,1969. – 288 с.62. Военный справочник MIL-HDBK-217 Прогнозирование надежности электронной аппаратуры. Министерство обороны США, 1965. – 37 с.63. Справочник - Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов - Л: ВНИИ«Электронстандарт», 1983. – 335 с.64. Дорошевич П.В.

Возможные виды отказов сверхбольших интегральных схем.МОРФ"Военнаяэлектроникаиэлектротехника",вып.65(Ф),ч. 2, 2013. – с. 67 -73.65. Дорошевич К.К., Дорошевич В.К., Дорошевич П.В. Система нормативногообеспечения и контроля качества изделий микроэлектроники на всех этапах ихжизненного цикла. МО РФ "Военная электроника и электротехника", вып. 66 (Ф),ч. 2, 2014. – с. 55 - 63.66. ОСТ В 11 1009-2001 «Многокристальные модули, микросборки. Общие технические условия», /ответственный исполнитель/, ФГУП «22 ЦНИИИ Минобороны России», 2001. – 85 с.67. Булгаков С.С., Десятов Д.Б.

Автоматизированный тестовый контроль производства БИС., М: Радио и связь, 1992. – 192 с.68. Исследование процессов конструктивно-технологического построения микроэлектронных датчиков и разработка требований по оценке их качества и надежности в интересах роботизированных РЭСВ: отчетные материалы по НИР («Осень-1072») /ответственный исполнитель – Мытищи: ФГУП «22 ЦНИИИ МинобороныРоссии», 1995. – 206 с.69. Дорошевич К.К., Поздеев А.П., Дорошевич П.В., Попова Н.В.

Методы герметизации микросхем, гарантирующие выполнение требований по содержанию влаги в подкорпусном объеме. МО РФ "Военная электроника и электротехника",вып. 65, часть 1, 2013. – с.174 – 178.70. Критенко М.И., Бедрековский М.А., Вуколов Н.И., Голубев В.В. Особенностиобеспечения и контроля качества изделий единичного и мелкосерийного производства.