Статья - Техническая база ЭВМ, страница 3
Описание файла
Документ из архива "Статья - Техническая база ЭВМ", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "организация эвм" из 6 семестр, которые можно найти в файловом архиве РТУ МИРЭА. Не смотря на прямую связь этого архива с РТУ МИРЭА, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "остальное", в предмете "организация эвм, микропроцессорные средства и схемотехника" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "Статья - Техническая база ЭВМ"
Текст 3 страницы из документа "Статья - Техническая база ЭВМ"
Жидкость протекает между платами модулей со скоростью 2,5 см/с, для увеличения эффективности теплосъема с помощью воздушного барботажа создается турбулентность потоков жидкости. При этом максимальная температура кристаллов и микросхем не превышает 38° С, что обеспечивает высокую надежность ЭВМ. Существенно повышает надежность также защищенность модулей от вредных воздействий воздушной среды (влаги, кислорода и др.), использование хорошо освоенных в производстве логических микросхем небольшой степени интеграции, которые применяются с 1982 г. в ЭВМ Cray X-MP, надежное электронное проектирование схем (в части синхронизации, обеспечения малых и контролируемых искажений сигналов при передаче).
ЭВМ Сгау-2 имеет машинный такт 4,1 нс, существенно меньший, чем у других современных ЭВМ, в 8—16 раз большую емкость оперативной памяти, четырехпроцессорный комплекс размещается на площади менее 2 м2. Это получено при использовании далеко не совершенных компонентов: логических схем малой интеграции в простых корпусах (и не предельного для 1985 г. быстродействия), простых разъемных соединителей и печатных плат малых размеров с двумя слоями сигнальных связей, без объединительных МПП. Следовательно, улучшение функциональных характеристик достигнуто за счет очень плотной установки плат с микросхемами (шаг установки всего 3 мм )и применения объемных связей, а эти качества оказалось возможным реализовать благодаря охлаждению компонентов погружением в жидкость.
Основным недостатком конструктивно-технологических решений ЭВМ Сгау-2 является отсутствие простого физического доступа для исследования сигналов внутри ЭВМ, что обычно требуется при выявлении ошибок проектирования в процессе наладки и эксплуатации первых образцов ЭВМ. Такие решения приемлемы при очень малом количестве ошибок проекта, что обеспечивается высокой культурой и дисциплиной разработки при достаточно простых электронно-схемотехнических правилах и нормах.
Тенденции, направления и перспективы развития
С целью прогнозирования уровня и определения оптимальных принципов технической базы будущих суперЭВМ проведем анализ тенденций и ограничений совершенствования рассмотренных направлений.
Развитие первого направления — высокопроизводительные и суперЭВМ на корпусированных БИС и МПП — целесообразно проследить на примере совместных разработок ЭВМ японской фирмы Fujitsu и американской фирмы Amdahl, поскольку за последние 12 лет сменилось уже три поколения таких ЭВМ и каждое из них представляло в свое время наивысшее достижение в данном направлении. К первому поколению (с 1975 г.) относятся ЭВМ серий Amdahl-470 и FACOM-200, ко второму (с 1981 г.) — ЭВМ серий Amdahl-580, FACOM М-380 и суперЭВМ серии VP, к третьему (с 1987 г.) — ЭВМ серии FACOM M-780 и Amdahl-590.
Совершенствование параметров технической базы указанных ЭВМ иллюстрируется графиками рис. 1. При переходе от первого поколения ко второму максимальное количество элементов на плате увеличилось в 11,5 раз, а плотность размещения элементов — в 5 раз; при переходе от второго поколения к третьему произошел рост этих показателей еще соответственно в 21 и 7 раз. Это достигнуто за счет повышения степени интеграции логических БИС (в 4 и 7,5 раз) и БИС памяти, увеличения площади плат (в 2,6 и 3 раза) и плотности печатных проводников (в 1,5 и 3,2 раза), а также улучшения теплоотвода и перехода в М-780 к установке БИС на обеих плоскостях платы. Следует отметить, что количество контактов в разъемных соединителях, установленных на плате с БИС, изменялось в очень небольших пределах: ячейка первого поколения имеет 800 контактов (из них: 664 сигнальных), второго — максимально 1152 контактов, третьего—1400 контактов (из них 700 сигнальных). Такое положение можно объяснить тем, что на платах второго поколения размещаются функционально законченные узлы устройств, а на платах третьего поколения — полные устройства.
Принципы компоновки плат с БИС в шкафах ЭВМ кардинально изменились: в первых машинах платы размещались на двух параллельных плоских рамах, а связи между платами осуществлялись витыми парами проводов и кабелями; в шкафах ЭВМ второго поколения платы располагались пакетами (по 13 шт. в каждом), а связи между ними обеспечивались двумя объединительными панелями на основе МПП, подсоединение к которым производилось с использованием разъемных соединителей с нулевым усилием сочленения; в ЭВМ М-780 плата с БИС представляет собой процессор, она соединяется с другими платами ЭВМ только небольшим числом кабелей.
Таким образом, тенденциями развития рассматриваемого направления являлись: 1) повышение интеграции и быстродействия микросхем при увеличении количества и плотности расположения выводов корпуса, а также рассеиваемой мощности; 2) увеличение плотности печатного монтажа; 3) повышение эффективности теплоотвода (переход в третьем поколении к жидкостному охлаждению); 4) ограничение роста числа выводов разъемных соединителей платы путем размещения на платах функционально законченных узлов; 5) увеличение площади печатных плат. Первые четыре фактора продолжают иметь мощные стимулы дальнейшего роста, а значительного увеличения площади печатных плат, по-видимому, не будет как из-за резкого возрастания производственно-технических трудностей, так и в связи с отсутствием функциональных потребностей.
Если предположить, что совершенствование всех параметров технической базы (кроме размеров плат) будет происходить эволюционно, и использовать зависимости от времени, справедливые для предшествующих периодов развития, то, экстраполируя еще на одно поколение, т. е. на 6 лет, можно предсказать следующие показатели, которые будут характеризовать в 1993 г. техническую базу ЭВМ на основе корпусированных БИС и МПП:
логические СБИС с интеграцией 30—40 тыс. вентилей с задержкой менее 0,1 нс/вент. (внутри СБИС) в корпусах с 400—500 выводами по четырем сторонам с шагом 0,3 мм при рассеиваемой мощности около 30 Вт;
СБИС сверхбыстродействующей памяти (с встроенной логикой) емкостью 64 Кбит при времени выборки 2 нс и СБИС большой оперативной памяти емкостью 1—4 Мбит при времени выборки 50 нс;
п
олосковые печатные платы со сквозными и внутренними межслойными переходами с плотностью печатных сигнальных связей 100 см/см2 (линии и зазоры шириной 0,05 мм, шаг сквозных отверстий 1,0 мм, число слоев около 50);
кондуктивно-жидкостное охлаждение (3 Вт/см2) с короткими теплопроводными путями от кристаллов СБИС до жидкости и с развитой поверхностью, омываемой теплоносителем при повышенной скорости протекания.
Рис. 1. Изменение параметров технической базы высокопроизводительных ЭВМ на основе корпусированных БИС.
По оси абсцисс указаны поколения ЭВМ фирм Amdahl и Fujitsu
1 —выпуск с 1975 г., 2-с 1981 г., 3-с 1987 г., 4 - прогноз на 1993 г.
По оси ординат: а, б — интеграция (N), число выводов (Р), задержка внутреннего вентиля (т) и потребляемая мощность (W) логических БИС; в, г — интеграция (N) и время выборки информации (тв) БИС сверхбыстродействующей и оперативной памяти; д — площадь (S), число слоев проводников (т), шаг сквозных отверстий (Д) и ширина печатных линий (Ь) многослойных печатных плат ТЭЗ; е — плотность потока тепла (w), отводимою от компонентов ТЭЗ
В настоящее время не видно каких-либо принципиальных физических или технологических препятствий, которые не позволили бы достигнуть прогнозируемых значений параметров. Более того, уже имеются результаты исследований и разработок по созданию подобных СБИС на кремниевых биполярных схемах с переключателями тока, соответствующих методов жидкостного охлаждения, МПП с использованием аддитивной технологии создания проводников, полиимидных диэлектриков, лазерной обработки. При указанных параметрах СБИС и плат плотность размещения элементов на плате возрастает до 10—15 вент./мм2, т. е. в 3—4 раза по сравнению с плотностью, обеспечиваемой технической базой третьего поколения (например, в серии ЭВМ М-780). На отдельных платах будут размещаться функционально законченные устройства (или несколько таких устройств). При этом плотность расположения плат в шкафах определяют не соединения между платами (и соединители), а конструкции теплоотводов. Поскольку при жидкостном охлаждении, как показывают расчеты и опыт ЭВМ Сгау-2, зазоры между платами могут быть уменьшены, то объемная плотность компоновки элементов в шкафах суперЭВМ следующего поколения возрастает в большем отношении, чем плотность элементов на плате (ориентировочно в 5—10 раз).
По мере повышения интеграции БИС и числа их выводов увеличиваются сложность и значимость проблем, связанных с использованием корпусов микросхем: создание корпусов с сотнями очень плотно расположенных выводов, имеющих малые омические сопротивления на пути от кристалла до точки присоединения вывода к плате, малые индуктивности и емкости; установка крупных кристаллов большой площади в корпус с обеспечением малого теплового сопротивления; монтаж корпусов на платы с обеспечением высокой надежности соединений и демонтаж при замене без повреждения плат; обеспечение электрической однородности линий связи между кристаллами и согласование этих линий с нагрузкой; увеличение разрыва между быстродействием схем внутри БИС и внешними задержками — интерфейсных элементов БИС, на корпусах, в связях между БИС. Все это стимулирует переход к применению в качестве модулей ЭВМ микросборок с бескорпусными БИС.
Некоторые показатели развития микросборок фирмы IBM приведены в табл. 2 [5, 9]. Эффективность применения микросборок для повышения плотности компоновки тем выше, чем больше в каждом из них кристаллов микросхем. При оптимальном использовании МПП, на которой устанавливаются или корпусиро ванные однокристальные микросхемы, или микросборки, выигрыш в средней плотности расположения кристаллов на МПП определяется отношением суммарного числа выводов всех кристаллов микросборки к количеству выводов этой микросборки, т. е. при использовании правила Рента он равен т(1-r), где т — число кристаллов, а r ~ 0,5 — показатель степени в зависимости между интеграцией узла и числом его выводов. Выигрыш может быть большим, если в микросборке размещается функционально законченное устройство.
Одним из путей широкого внедрения в суперЭВМ микросборок из большого числа БИС и СБИС с учетом сложности проблем освоения технологии фирмы IBM является реализация их на основе особо прецизионных многослойных печатных плат, кристаллов БИС с ленточными выводами или в микрокорпусах, жидкостного охлаждения с отводом тепла от кристаллов к теплоносителю кондуктивным способом (аналогично тому, как это делается в ЭВМ серий 3080 и 3090 — фирмы IBM и SX фирмы NEC) или
при непосредственном погружении в диэлектрическую жидкость, имеющую низкую температуру кипения.
Возможность создания указанных микросборок появилась в связи со значительными успехами в технологии многослойных печатных плат. В табл. 3 приведены параметры МПП современных высокопроизводительных ЭВМ и параметры, типичные для плат ЭВМ третьего поколения, а в табл. 4 даны характеристики многослойных керамических и печатных плат для микросборок, которые могут быть реализованы в ближайшие годы. Особо прецизионные печатные платы не только могут превосходить керамические по размеру, плотности и качеству связей, но они также являются более доступными для освоения на заводах по производству современных ЭВМ.
Конструктиво-технологические проработки показывают, что модули-микросборки на основе специальных МПП и кристаллов БИС с ленточными выводами (или в микрокорпусах) позволяют получить плотность размещения БИС на плате и в объеме в 4—8 раз большую (в зависимости от размеров кристаллов), чем для перспективных вариантов компоновки с использованием корпуси-рованных БИС. Заметим, что рассмотренное направление реализации модулей отражает существующую тенденцию к стиранию различий между традиционными ячейками ЭВМ и микросборками, которое происходит естественным образом при увеличении количества БИС в модуле, числа и плотности расположения выводов у каждого из них.
Таблица 2
Параметры микросборок | Серия ЭВМ | |
Серия 4300 | ЭВМ 3080 | |
Число кристаллов БИС (максимальное) | 9 | 100, 118, 133 |
Размеры многослойных керамических Плат, мм | 50X50X4 35x35x4 | 90x90x5,5 |
Число слоев в платах | 23 | 33 |
Количество штыревых выводов модуля | 361 196 | 1800 |
Шаг расположения выводов модуля, мм Потребляемая мощность, Вт | 2,54X2,54 9 | 2,54x1,27 300 |
Способ охлаждения | Воздушный струйный | Кондуктивно-водяной |
Таблица 3
Параметры плат | ЭВМ третьего поколения | Amdahl 580 | IBM 3080 (3090) | Hitachi М-680 | Fujitsu М-780 |
Размеры, мм | 140X150Xl,8 | 290Х310Х3.4 | 610Х710Х4.6 | 280Х420Х4 | 488X540X7,5 |
Число слоев: всего для сигнальных связей | 9 4 | 14 6 | 20 8 | 20 8 | 42 18 |
Ширина проводников, мкм | 300 | 100 | 80 | 100 | 60 |
Диаметр отверстий переходов, мм: сквозных внутренних | 0,9 — | 0,35 — | 0,4 0,15 | — 0,55 | 0,35 0,12 |
Минимальный шаг сквозных отверстий, мм | 2,5 | 1,27 | 1,27 | 1,27 | 1,2 |
Отношение толщины платы к диаметру сквозных отверстий | 2:1 | 10:1 | 11:1 | 7:1 | 21:1 |
Таблица 4
Параметры платы | Вид платы | |
многослойная керамическая | многослойная полиимидная печатная | |
Ширина линий, мкм | 100 | 30 |
Шаг межслойных переходов (при проведении одного проводника между ними), мкм | 600 | 500 |
Максимальный размер, мм | 150 | 250 |
Число слоев проводников | 40 | 50 |
Удельное сопротивление проводящего слоя, мОм/П | 8 | 2 |
Диэлектрическая постоянная материала | 9,5 | 3,5 |
Задержка распространения сигналов, не/см | 0,1 | 0,06 |
Дальнейшее увеличение плотности компоновки элементов в модуле ЭВМ может быть достигнуто использованием многослойной тонкопленочной системы межсоединений с линиями и зазорами шириной порядка 10 мкм и менее. Большое количество разрабатываемых вариантов создания таких модулей можно разделить на следующие группы: монолитные ультраБИС на целой полупроводниковой пластине или кристалле сверхбольшой площади; гибридные схемы с использованием многослойных тонкопленочных плат на жестких подложках (пластины кремния, сапфира, керамики и др.) и кристаллов микросхем со столбиковыми выводами (с потерей плотности размещения элементов могут быть использованы также проволочные и ленточные выводы); мозаичные микросборки из предварительно проверенных кристаллов, объединенных связующим материалом в блок с плоской поверхностью, на которой реализуются тонкопленочные соединения.