Михайлов В.П. - Учебное пособие по курсу ФОЭТ, страница 15
Описание файла
Документ из архива "Михайлов В.П. - Учебное пособие по курсу ФОЭТ", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "физико-химические основы нанотехнологий (фхонт)" из 5 семестр, которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "книги и методические указания", в предмете "физико-химические основы нанотехнологий (фхонт)" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "Михайлов В.П. - Учебное пособие по курсу ФОЭТ"
Текст 15 страницы из документа "Михайлов В.П. - Учебное пособие по курсу ФОЭТ"
Полупроводники – вещества, удельное электрическое сопротивление которых лежит в диапазоне ρ =10 -4.. 10 10 Ом см.. У проводников (металлов) - ρ ≤ 10-4 Ом см, у изоляторов (диэлектриков) ρ ≥ 1010 Омсм. Основные полупроводниковые материалы – германий (Ge), кремний (Si), арсенит галлия (GaAs).
Зонная модель твердых тел
Согласно квантово - механической теории твердого тела электроны в атоме не могут иметь произвольную энергию, а обладают строго определенными дискретными значениями энергии, т. е. располагаются на определенных энергетических уровнях.
В твердом теле возникают зоны разрешенных значений энергии электронов (валентная зона и зона проводимости) и запрещенные зоны.
Для идеального кристалла запрещенная зона – диапазон значений энергии, которую не может иметь электрон в атоме. Валентная зона – зона энергетических уровней, полностью занятых электронами. Зона проводимости – зона энергетических уровней, не заполненных электронами.
Для того, чтобы определить степень заполнения энергетического уровня электронами, пользуются принципом Паули: энергетический уровень атома может быть заполнен двумя электронами, имеющими взаимно противоположные направления спинов (спин – собственный момент количества движения электрона, связанный с его вращением вокруг собственной оси).
Как следует из зонной модели (см. рис.), различие электрической проводимости проводников и диэлектриков определяется шириной запрещенной зоны , где - минимальная энергия электрона в зоне проводимости; - максимальная энергия электрона в валентной зоне.
Различие механизмов электрической проводимости металлов и полупроводников проявляется в температурной зависимости. Для металлов характерно повышение ρ при повышении T за счет рассеяния энергии электронов на тепловых колебаниях кристаллической решетки: , где - удельное сопротивление при комнатной температуре ( ).
Для полупроводников при повышении температуры удельное сопротивление снижается за счет возникновения подвижных носителей заряда (электронов и дырок) в результате теплового возбуждения, т. е. электроны из валентной зоны могут переходить в зону проводимости. Так, для чистых полупроводников: , где β – постоянная положительная величина.
Собственные и примесные полупроводники
Проводимость в полупроводниках создается не только электронами в зоне проводимости. После перехода электронов в зону проводимости в валентной зоне остаются вакантные состояния, называемые «дырками», которые ведут себя как положительно заряженные частицы. Таким образом, в валентной зоне проводимость осуществляется дырками.
Собственный полупроводник – полупроводник в котором подвижные носители заряда образуются только в результате переноса электронов из валентной зоны в зону проводимости. В этом случае концентрация электронов равна концентрации дырок (схема а).
Примесной полупроводник – полупроводник, содержащий примесные атомы, имеющие свои энергетические уровни (примесные уровни).
Если такой уровень располагается вблизи дна зоны проводимости, то электроны с него могут легко переходить в эту зону. Полупроводник n-типа – полупроводник, у которого подвижные электроны возникают вследствие их перехода с примесных уровней в зону проводимости (схема б). Уровни, поставляющие электроны в зону проводимости, называют донорными.
Если примесный уровень, не занятый электронами, расположен вблизи потолка валентной зоны, то электроны из этой зоны могут легко перейти на этот уровень, образуя в валентной зоне подвижные дырки. Полупроводник p-типа – полупроводник, у которого подвижные носители заряда – дырки образуются за счет захвата электронов примесными уровнями (схема в). Уровни, захватывающие электроны и генерирующие дырки в валентной зоне называют акцепторными.
Кристаллические структуры типа алмаза и типа цинковой обманки
Монокристаллические полупроводниковые материалы, используемые при изготовлении интегральных микросхем (ИМС), имеют кристаллическую решетку типа алмаза или цинковой обманки. В такой решетке каждый атом окружен четырьмя соседними атомами, расположенными в вершинах тетраэдра. Валентную связь между парой соседних атомов образуют два электрона с двумя противоположно ориентированными спинами.
Для германия Ge и кремния Si (IV группы таблицы Менделеева) характерны решетки типа алмаза, т. е. в этих материалах все валентные связи существуют только между атомами одного элемента.
Арсенид галлия GaAs (A III B V) обладает решеткой типа цинковой обманки, т. е. кристаллическая решетка образована атомами галлия – элемента III группы (A III), и мышьяка – элемента V группы (B V).
Кристаллы полупроводниковых материалов обладают анизотропией, т. е. неоднородностью механических и электрофизических свойств в различных направлениях. В технологии производства ИМС для обозначения кристаллографических плоскостей используют индексы Миллера.
Индексы Миллера
Для кубических кристаллов индексы Миллера представляют собой три цифры, относящиеся к прямоугольной системе координат.
Кристаллографические оси, определяемые индексами Миллера, перпендикулярны соответствующим кристаллографическим плоскостям.
Важнейшим параметром кристаллической решетки полупроводников является ее постоянная «а» – расстояние между двумя атомами, расположенными в соседних вершинах куба.
Основные кристаллографические плоскости кубической решетки
Статистика подвижных носителей заряда
Для определения важнейших параметров полупроводниковых материалов (например, электрической проводимости) необходимо знать концентрацию подвижных носителей заряда: электронов - в зоне проводимости и дырок в валентной зоне.
Концентрация подвижных электронов с энергией от до определяется как:
где N(E) – плотность квантовых состояний электронов (энергетических уровней), т. е. количество квантовых состояний электронов, приходящихся на единицу объема полупроводника и единицу энергетического интервала dE;
f(E,T) – функция распределения, определяющая вероятность того, что энергетический уровень с энергией E при некоторой температуре Т является занятым электронами.
Функция распределения f(E,T) описывается квантово-механической функцией Ферми-Дирака:
где - уровень (энергия) Ферми; Е – энергия энергетического уровня.
Функция распределения Ферми-Дирака
EMBED KompasFRWFile
При Т=0К электроны находятся на самых низких энергетических уровнях. Если , то вероятность заполнения этих уровней f(E) равна 1. Если , то f(E)=0.5 (при ). При функция Ферми-Дирака размывается, но остается симметричной относительно уровня Ферми. При этом электроны в результате теплового возбуждения переходят на более высокие энергетические уровни ( ).
В некоторых частных случаях функция Ферми-Дирака преобразуется в классическую функцию распределения Максвелла-Больцмана:
где С – постоянная величина для определенного полупроводника и фиксированной Т. Эта функция применяется для определения вероятности заполнения электронами квантовых состояний с энергией .
В этом случае функция Ферми-Дирака: принимает вид: .
Проводник с энергией квантовых состояний , называется невырожденным и описывается функцией Максвелла-Больцмана. Полупроводник, для которого не выполняется условие , называется вырожденным и описывается функцией Ферми-Дирака.
Функция распределения Максвелла-Больцмана
EMBED KompasFRWFile
Для нахождения концентрации подвижных носителей заряда - электронов:
необходимо определить плотность квантовых состояний N(E) для зоны проводимости и валентной зоны.
Для зоны проводимости: , где - энергия дна зоны проводимости, - постоянная величина.
Для валентной зоны: , где - энергия потолка валентной зоны, - постоянная величина.
Зависимости для невырожденного полупроводника n-типа
Определим концентрацию электронов для всей зоны проводимости невырожденного полупроводника n-типа ( ):
где - энергия дна зоны проводимости, тогда - концентрация электронов в элементарном интервале энергии dE. Интегралом произведения N(E) f(E,T) будет площадь заштрихованной области, ограниченной кривой dn/dE.
Зависимости для вырожденного полупроводника n-типа
Пользуясь статистикой Ферми-Дирака, можно определить концентрацию электронов в зоне проводимости вырожденного полупроводника n-типа (условие не выполняется). При этом уровень Ферми располагается выше дна зоны проводимости (при низких ).
Концентрация электронов равна: , т. е. определяется площадью заштрихованной области, ограниченной кривой .
В общем случае, для собственного полупроводника концентрацию электронов в зоне проводимости можно определить следующим образом: , где - эффективная плотность квантовых состояний в зоне проводимости (постоянная величина для данного полупроводника).
Концентрация подвижных дырок в валентной зоне: , где - эффективная плотность квантовых состояний в валентной зоне полупроводника.
Для собственного (беспримесного) полупроводника: , где - собственная концентрация электронов, равная собственной концентрации дырок .
Таким образом, для собственного полупроводника: , где - ширина запрещенной зоны ( ). Отсюда следует, что концентрация подвижных носителей заряда: электронов ( ) и дырок ( ) в собственном полупроводнике зависит от температуры Т и ширины запрещенной зоны . При этом подвижные электроны и дырки возникают в результате теплового возбуждения и переноса валентных электронов в зону проводимости через запрещенную зону .
В примесном полупроводнике подвижные электроны и дырки возникают в основном за счет ионизации примесных донорных и акцепторных атомов.