Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом

О-7 - Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом

Зачтено на максимальный балл

Цель работы - изучение явления интерференции при отражении света от тонкого прозрачного слоя однородного и изотропного вещества. ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ Если выпуклую сферическую поверхность линзы привести в соприкосновение с плоскопараллельной стеклянной пластинкой и направить по нормали к пластинке пучок монохроматического света, то в свете, как в проходящем через данную систему, так и отраженном от нее, можно наблюдать интерференционную картину чередующихся концентрических светлых и темных колец. По имени их первого исследователя они получили название колец Ньютона. Радиусы колец Ньютона зависят от их порядкового номера, длины волны падающего света и от радиуса кривизны выпуклой поверхности линзы, касавшейся пластинки. Чтобы установить эту зависимость, предварительно рассмотрим, каким образом при освещении параллельным пучком света прозрачной плоскопараллельной пластинки или пленки малой толщины возникает интерференция света.