Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
5,0057
2020-12-052024-11-05СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
Лабораторная сделана в ворде, зачтено на максимальный бал, измерения новые, с сайта ФН-4 ![]()

Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Вариант
Просмотров
41
Качество
Идеальное компьютерное
Размер
1,57 Mb