Автореферат (1173420), страница 5
Текст из файла (страница 5)
Нгуен Тхи Ханг. Оптические свойства аморфных пленок триселенидамышьяка, полученных по технологии спин-коатинга//Материалы научнотехнической конференции «Микроэлектроника и информатика - 2018». –Москва. – 2016. – С.30.11. Нгуен Тхи Ханг. Оптические свойства аморфных пленок триселенидамышьяка, полученных по технологии спин-коатинга // Материалы научнотехнической конференции «Микроэлектроника и информатика - 2018».
Москва.- 2018. – С.44.Цитируемая литература:1. Мотт, Н. Электронные процессы в некристаллических веществах (в 2х т.) /Н. Мотт, Э. Дэвис. – М.: Мир. – 1982. – 1026 с.2. Фельц, A. Аморфные и стеклообразные неорганические твердые тела / A.Фельц.
– М.: Мир. – 1986. – 556 с.3. Минаев В.С. Стеклообразные полупроводниковые сплавы / В.С. Минаев –М.: Металлургия – 1991. – 407 с.4. Панасюк, Л. Особенности кинетики испарения стеклообразныххалькогенидов мышьяка // Л. Панасюк, В. Прилепов / Analele Stiintitice ale USM:Seria "Stiinte fizico-matematice". – Chisinau, 2001. – Р.159.5. Chern, G.
C. Spin-coated amorphous chalcogenide films // G. C. Chern, I. Lauks/ Journal of Applied Physics, 1982. – №53. – Р.6979.6. Сарсембинов, Ш.Ш. Структурная и примесная модификация электронныхсвойствхалькогенидныхстеклообразныхполупроводников.Ш.Ш.Сарсембинов, О.Ю. Приходько, М.Ж. Мальтекбасов / Алматы «Казакуниверситетi». – 2015. – 239 с.7.
Vahid, G. Ta’eed. Ultrafast all-optical chalcogenide glass photonic circuits //Vahid G. Ta’eed, Neil J. Baker, Libin Fu, Klaus Finsterbusch, Michael R.E. Lamont,David J. Moss, Hong C. Nguyen, Benjamin J. Eggleton, Duk Yong Choi, StevenMadden, and Barry Luther-Davies / – Optics Express, 2007.
– Issue 15. – Р. 9205.8. Bora Ung. Chalcogenide Microporous Fibers for Nonlinear Applications in MidInfrared // Bora Ung, Maksim Skorobogatiy / – Optics Express, 2010. – Vol. 18 – No.8 – р.8647.9. Shchurova, N.T. Correlation between mechanical parameters for amorphouschalcogenide films // N.T. Shchurova, N.D. Savchenko / Journal of Optoelectronicsand Advanced Materials, June 2001. – Vol. 3. – No. 2. – P. 491.18.