Диссертация (1149530), страница 21
Текст из файла (страница 21)
– Т.79. – С.316.57.БугровЯ.С.,НикольскийС.М.Дифференциальноеиинтегральноеисчисление // Высшая математика. В 3 т. Т. 2 / Под общ. ред. В. А.Садовничего—6-е изд., стереотип. — М.: Дрофа. – 2004 г. – С. 186-200.58.Wolfram Mathematica — 8.0. License Number: L3400-2803.Version: 8.0.4.https://user.wolfram.com/portal/59.Абильсиитов Г.А., Гонтарь В.Г., Колпаков А.А. и др. Технологическиелазеры // Справочник. В 2 т.
Т.2 / М.: Машиностроение. – 1991 г. –С. 175-186.60.Котликов Е.Н., Гришечкина Г.Е., Коваленко И.И., Новикова Ю.А. и др.Разработка и исследование оптических констант пленкообразующихматериалов на основе бинарных фторидов для ИК области спектра. Отчет оНИР 1.55.11. № гос. регистрации 01201180708. // СПб.: ГУАП. – 2011 г. –16 с.61.Котликов Е.Н., Лавровская Н.П., Новикова Ю.А. и др.
Исследованиеоптических констант халькогенидов и фторидов, полученных при ионном150ассистировании. Отчет о НИР 53-00-708. № гос. регистрационный01201152494 // СПб.: ГУАП. – 2012 г. – 26 с.62.Котликов Е.Н., Гришечкина Г.Е., Кузнецов Ю.А., Новикова Ю.А. и др.Исследование оптических констант пленкообразующих материалов.
Отчет оНИР 157-2. № гос. регистрации 01201054054 // СПб.: ГУАП.–2011 г. – 22 с.63.Холлэнд Л. Нанесение тонких пленок в вакууме. М.: Госэнергоиздат. –1963 г. – 608 с.64.Майселла Л., Глэнга Р. Справочник. Технология тонких пленок. // В 2 Т., Т.2пер. с англ. под ред. М.И. Елинсона, Г.Г. Смолко. М.: Сов. радио. – 1977 г. –768 с.65.Риттер Э. Пленочные диэлектрические материалы для оптическихприменений // Сб. физика тонких пленок. Под общ. ред. Г.
Хасса и Р. Э.Тауна; перевод с англ. под ред. В. Б. Сандомирского и А. Г. Ждана. В 8 Т.,Т. 8. М.: Мир. – 1967 г. – С. 7 – 60.66.Materion:[Электронныйресурс].URLhttp://materion.com/ResourceCenter/ProductData/InorganicChemicals/Fluorides/BrochuresAndDataSheets/YttriumFluorideYF3.aspx (Дата обращения 15.02.14)67.Фурман Ш.А. Тонкослойные оптические покрытия.
Л.: Машиностроение. –1977 г. – 264 с.68.Минков И.М. Простой способ определения показателей преломления слоевчетвертьволновых просветляющих покрытий // Оптика и спектроскопия. –1985 г. – Т.59. – В.1. – С. 212-659.69.Кокс Дж., Хаас Г. Просветляющие покрытия для видимой и инфракраснойобластей спектра // Сб. физика тонких пленок.
В 8 т. Т. 2. / Под общ. ред. Г.Хасса и Р. Э. Тауна; перевод с англ. под ред. В. Б. Сандомирского и А. Г.Ждана. М.: Мир. – 1967. – С. 186–253.70.МухамедовР.К.Определениеоптимальныхзначенийпоказателейпреломления просветляющих покрытий //ОМП. – 1991г. – №2. – С. 57–60.15171.Михайлов В.Н. К теории синтеза интерференционных покрытий с помощьюпреобразования Фурье // Оптика и спектроскопия. – 1990 г. – Т.
69. – № 3. –С.698–703.72.Столов Е.Г. Синтез интерференционных оптических покрытий // ОМП. –1982 г. – №5. – С. 10–11.73.Столов Е.Г. Синтез интерференционных оптических покрытий // Оптика испектроскопия. – 1988 г. – Т.64. – В.1. – С. 147-150.74.Столов Е.Г. Банк данных для расчета и изготовления интерференционныхпокрытий // ОМП. – 1985г. – №7. – С.
43-45.75.Власов А.Г., Ермолаев А.М., Минков И.М. Метод расчета многослойногопокрытиясзаданнойотражательнойспособностью//Оптикаиспектроскопия. – 1962 г. – Т.13. – № 2. – С. 259– 265.76.Минков И.М. Об определении глобального минимума в задаче синтезатонкослойных покрытий // Оптика и спектроскопия. – 1981г. – Т.50. – №.4.– С. 755-765.77.Евтушенко Ю.Г. Методы поиска глобального экстремума // Исследованиеопераций. М.: Изд-во АН СССР. – 1974 г. – В. 4. – С. 39–68.78.Свешников А.Г., Тихонравов А.В., Фурман Ш.А., Яншин С.А. Общий методсинтеза оптических покрытий // Оптика и спектроскопия. – 1985г. – Т.
59. –В. 5. – C. 1161–1163.79.ФурманШ.А.Синтезинтерференционныхпокрытий//Оптикаиспектроскопия. – 1984г. – Т.56. – В.2. – С.198-200.80.Baumeister P.W. Design of multilayer filters by successive approximations. // J.Opt. Soc. Amer. – 1958. –Vol. 48. – pp. 955–958.81.Baumeister P.W.
Starting designs for the computer optimization of opticalcoatings // Appl. Opt. – 1995. –Vol. 34. – № 22. – pp. 4835–4843.82.Мухамедов Р.К., Майстер А.В., Гайнутдинов И.С. Синтез покрытийпропускающего типа методом перебора // ОМП. –1990 г. – №12. – С. 61–63.15283.Мухамедов Р.К., Хайрова Э.К., Азаматов М.Х., Касимов Р.И. Метод расчетаоптимальных значений показателей преломления просветляющих покрытий// ОМП. – 1992 г. – №1.
– С.39-41.84.Губанова Л.А. Оптические покрытия. Учебное пособие. СПб.: СПбГУИТМО. – 2012 г. – 101 с.85.Сосси Л. Метод синтеза диэлектрических интерференционных покрытий //Изв. АН Эст. ССР. Сер. физ., матем. – 1974 г. – Т.23. – С.229-237.86.Сосси Л. К теории синтеза многослойных диэлектрических светофильтров //Изв. АН Эст.
ССР. Сер. физ., матем. – 1976 г. – Т.2. – С.176-177.87.Белл Р.Д. Введение в фурье-спектроскопию. М. :Мир. – 1975 г. – 380 с.88.Rabinovich K., Pagis A. Multilayer Antireflection Coatings: Theoretical Modeland Design Parameters // Appl. Opt. – 1975. – V.14. – №6. – pp. 1326-1334.89.Knittl Z. Optics of Thin Film Films. Willey. London.1976.
324 p.90.Epstein L.I. The design of optical filters. // J. Opt. Soc. Am. –1952. – V.42. –No 3. – pp.806-810.91.Thelen A. Equivalent layers in multilayer filters // J. Opt. Soc. Am. 1966. V.56.No 6. P.1533-1538.92.Ohmer M.C. Design of three-layer equivalent films // J.
Opt. Soc. Am. – 1978. –V.68. – No 1. – pp.137-139.93.Macleod H.A. Thin film optical filters. New York: McGraw-Hill. – 1986. –pp. 260-261.94.Тихонравов А.В. Синтез слоистых сред. М.: Знание. – 1987 г. –48 с.95.Тихонравов А.В., Гришина Н.В. Современные подходы к проектированиюмногослойных оптических покрытий // Компьютерная оптика. – 1992 г. –№ 10-11.
– С.3-48.96.Тихонравов А.В. О задачах оптимального управления, связанных с синтезомслоистых сред // Дифференциальные уравнения. – 1985 г. – №21. –С. 1516-1523.15397.Свешников А.Г., Тихонравов А.В., Яншин С.А. Синтез оптических покрытийпри наклонном падении света // Журнал вычисл. матем.
и матем. физики. –1983 г. – № 23. –С. 929-939.98.МарковЮ.Н.,НесмеловЕ.А.,ГайнутдиновИ.С.Методсинтезаахроматических просветляющих и светоделительных покрытий // Оптика испектроскопия. – 1979 г. – Т.46. – В.1. – С. 158-161.99.Несмелов Е.А., Конюхов Г.П. К теории отрезающих интерференционныхфильтров. // Оптика и спектроскопия. – 1971 г. – Т.31. – В.
1. – С. 133-137.100. Марков Ю.Н., Несмелов Е.А., Никитин А.С., Гайнутдинов И.С. К теорииполосовых интерференционных фильтров // Оптика и спектроскопия. –1977 г. – Т. 43. – В. 5. – С. 984-989.101. Боглаев Ю.П. Вычислительная математика и программирование. М.:Высшая школа. – 1990 г. – 544 с.102. Минков И.М., Веремей В.В.
К расчету тонкослойных покрытий с заданнымиоптическими свойствами // Оптика и спектроскопия. –1974 г. – Т. 37. –В. 5. – С. 998-1000.103. Шатилов А.В., Тютикова Л.П. Пример расчета интерференционногосветофильтраметодомпоследовательногосинтеза//Оптикаиспектроскопия. – 1963 г. – Т.14. – В.3. – С.
426-429.104. Dobrowolski J.A. Comporison of the forier transform and flip-flop thin filmsynthesis methods. // Applied Optics. – 1986. – V.25. – №12. – pp. 1966-1972.105. Baumeister F. Startinlg designs for the computer optimization of optical coatings// Applied Optics. – 1995. – № 34. –pp. 4835–4843.106. Котликов Е.Н., Шалин В.Б., Тропин А.Н. Синтез оптических покрытий сприменением генетических алгоритмов // СПб: Научно-технический вестникИТМО. – 2011г.
– №05/75. – С. 1-5.107. Котликов Е.Н., Шалин В.Б., Тропин А.Н. Особенности функционированияалгоритмов многокритериальной оптимизации на основе эволюционных154стратегий // Сборник трудов VII Международной конференции молодыхученых и специалистов «Оптика-2013». СПб.: ИТМО. – 2013г. – С. 338-339.108. Котликов Е.Н., Новикова Ю.А. Просветляющие покрытия для кремния всредней ИК на основе эквивалентных слоев // Научная сессия ГУАП: Сб.докл. СПб: ГУАП. – 2014 г.
– С. 159-167.109. Амочкина Т.В. Алгоритм синтеза многослойных оптических покрытий,основанный на теории эквивалентных слоев // Вычислительные методы ипрограммирование. – 2005 г. – Т.6. – 71-85.110. Котликов Е.Н., Хонинева Е.В. Программа синтеза интерференционныхпокрытий «FlmMgr» / СПб: ГУАП. 2011 г. № гос. Регистрации 2011612364.111.
Котликов Е.Н., Варфоломеев Г.А., Тропин А.Н. Анализ стабильностиспектроделительных интерференционных покрытий // Научная сессияГУАП: Сб. докл. Завалишенские чтения. СПб: ГУАП. – 2007 г. – С.137-140.112. Котликов Е.Н., Прокашев В.Н., Хонинев А.Н., Хонинева Е.В. Синтезсветоделительных покрытий // Оптический журнал. –2001 г. – Т. 68. – № 8.– С. 49–52.113. БалышевК.В.,ПутилинЭ.С.,СтаровойтовС.Ф.Исследованиевоспроизводимости выходных параметров многослойных диэлектрическихсистем во время изготовления // Оптический журнал. – 1998 г. – Т.65. – № 3.– С.39 – 43.114.
Котликов Е.Н., Тропин А.Н. Критерий устойчивости спектральныххарактеристик многослойных интерференционных покрытий // Оптическийжурнал. – 2009 г. – Т. 76. – № 3. – С. 60-64.115. Котликов Е. Н., Моцарь Е.В., Новикова Ю.А., Тропин А.Н.Анализустойчивости многослойных интерференционных покрытий / Научныйжурнал. Известия ГУАП №1. СПб.: ГУАП. – 2011 г. – С.123-131.116. Котликов Е.Н., Иванов В.А., Моцарь Е.В., Новикова Ю.А., Тропин А.Н.Анализустойчивостиспектральныххарактеристикмногослойных155оптических покрытий // Оптика и спектроскопия.
– 2011г. – Т.111. – №3. –С.515-520.117. Котликов Е.Н., Моцарь Е.В., Новикова Ю.А., Матросов С.В. Синтезширокополосных просветляющих покрытий для ИК области спектра //Научная сессия ГУАП: Сб. докл. – 2011 г. – С. 130-133.118. КотликовЕ.Н.,НовиковаЮ.А.Сравнительныйанализкритериевустойчивости интерференционных покрытий // Оптический журнал.
–2013 г. – Т.80. – №9. – С. 61-67.119. Котликов Е.Н., Новикова Ю.А., Щербак С.Я.Анализ устойчивости икоррекции многослойных интерференционных покрытий по трансформацииспектров пропускания // Научная сессия ГУАП: Сб. докл. – 2012 г. –С. 174-177.120. Котликов Е.Н., Новикова Ю.А. и др. Модернизация программногообеспечения для синтеза интерференционных покрытий в средней ИКобласти спектра и разработка методик синтеза и анализа устойчивостиинтерференционных покрытий. Отчет о НИР 533-2д.
№ гос. регистрации01201177036. // СПб.: ГУАП. –2012 г. – 40 с.121. Котликов Е.Н., Новикова Ю.А. Программное обеспечение для анализаустойчивости и коррекции интерференционных покрытий // Научныйжурнал, информационно-управляющие системы: Политехника. – 2013г. –№ 1(62). – С. 41- 46.122. Котликов Е.Н., Новикова Ю.А., Прилипко В.К. Программное обеспечениедля анализа устойчивости интерференционных покрытий // Научная сессияГУАП: Сб. докл. – 2012 г. – С.171-173.123. Котликов Е.Н., Гришечкина Г.Е., Лавровская Н.П., Новикова Ю.А.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
