Диссертация (1149530), страница 20

Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла (страница 20)

–V.119. – pp.683-688.4.КотликовЕ.Н., ВарфоломеевПроектирование,изготовлениеГ.А., Лавровская Н.П., Тропин А.Н.иисследованиеинтерференционныхпокрытий. Учебное пособие. СПб.: ГУАП. –2010 г. –185 с.5.Котликов Е.Н., Терещенко Г.В. Исследование оптических констант пленок,используемых для синтеза широкополосных просветляющих покрытий //Оптика и спектроскопия –1997 г.

– Т.82. –№4. – С. 653-659.6.Котликов Е.Н., Хонинева Е.В., Прокашев В.Н. Проблема сниженияоптических потерь в пленках фторидов // Оптический журнал. – 2004 г. –Т.71. – №6. – С. 84 – 87.7.Котликов Е.Н., Иванов В.А., Новикова Ю.А., Тропин А.Н., Царев Ю.Н.Исследование оптических свойств пленок легированных фторидов /Научный журнал. Известия ГУАП №1.

СПб.: ГУАП. – 2011г. – С. 117-122.8.Крылова Т.Н. Интерференционные покрытия. Л.: Машиностроение.–1973 г. – 224 с.9.Dobrowolski J.A., Ho F.C., Waldorf A. Determination of optical constants of thinfilm coating materials based on inverse synthesis // Applied Optics. – 1983. –Vol.22, Issue 20. – pp. 3191-3200.10.Willey R.R. Practical Production of Optical Thin Films // Willey Optical,Consultants: Charlevoix, MI, USA.

– 2008. – 419 p.14511.Tikhonravov A.V., Amotchkina T.V., Trubetskov M.K. Optical characterization andreverse engineering based on multiangle spectroscopy // Applied Optics. – 2012.– Vol. 51. – № 2. – pp. 245-254.12.Gao L., Lemarchand F.,Lequime M. Exploitation of multiple incidencesspectrometric measurements for thin film reverse ingineering // Optics Express. –2012. –Vol. 20.

– № 14. – pp. 15734 – 15750.13.Кикоин И.К. Таблицы физических величин. Справочник. М.: Атомиздат. –1976 г. – С. 637-639.14.Аскоченский А.А. Оптические материалы для инфракрасной техники.М.:Наука. – 1995 г. – С. 87-96.15.Гисин М.А., Мустаев Р.М. Оптические свойства пленок фторида иттрия вИК области спектра // Оптический журнал. – 1996 г. – №11. – С. 37-39.16.Bezuidenhout D., Clarke R., Pretorius R. The Optical Properties of YF3 films //Thin Solid Films.

– 1987. – Vol. 155. – №1. – pp. 17-30.17.Справочник технолога – оптика. Справочник под общ. ред. С. М. Кузнецоваи М. А. Окатова. Л.: Машиностроение. – 1983 г. – 414 с.18.КоноваловО.П.,ШагановИ.И.Определениеоптическихконстантслабопоглощающих диэлектрических слоев на прозрачной подложке //ОМП. – 1988 г. – №8. – С. 39-41.19.Толмачев В.А., Окатов М.А., Леонова Т.В. Эллипсометрия: теория, методы,приложения.

Новосибирск: Наука. – 1991 г. – 252с.20.Аззам Р., Бамара Н. Эллипсометрия и поляризованный свет. М.: Мир. –1981 г. – 582 с.21.Ржанов А.В. Эллипсометрия – метод исследования поверхности. Сборникстатей. Новосибирск: Наука. – 1983 г. –180 с.22.Хевенс О.С. Измерение оптических констант тонких пленок // Сб. физикатонких пленок. В 8 т. Т. 2. / Под общ. ред. Г. Хасса и Р. Э.

Тауна; перевод сангл. под ред. В. Б. Сандомирского и А. Г. Ждана. М.: Мир. – 1967 г. – С.136–185.14623.ВаляевА.С.Определениеоптическихпостоянныхтонкихслабопоглощающих слоев // Оптика и спектроскопия. – 1963 г. – Т.15. –В.4. – С. 500-511.24.Валяев А.С. К методике определения оптических постоянных тонкихслабопоглощающих слоев // Оптика и спектроскопия. – 1965 г. – Т.18. –В.5.

– С. 889-891.25.Раков А.В. Спектрофотометриятонкопленочных полупроводниковыхструктур. М.: Сов. радио. – 1975 г. – 176 с.26.Swanepoel R. Determination of the thickness and optical constants of amorphoussilicon // J. Phys. E.: Sci. Instrum . – 1983. – Vol. 16. – pp. 1114-1122.27.Минков И.М., Ветлицкая Е.Л., Золотарев В.М., Капитонова Л.Н.Определение оптических констант поглощающего неоднородного слоя поспектрам отражения // Оптика и спектроскопия.

– 1985 г. – Т.58. – №3. –С.689-693.28.Житарюк В.Г., Гуминецкий С.Г. О точности интерференционных методовопределенияоптическихпостоянныхтонкихслоев//Оптикаиспектроскопия. –1982 г. – Т.52. – №1. – С.126-130.29.Андриевский Б.В., Вахулович В.Ф., Курляк В.Ю., Романюк Н.А. Определениедисперсии показателя преломления и толщины тонких пленок по спектрамотражения или пропускания // Оптика и спектроскопия. –1988 г.

– Т.65. –№1. – С.136-140.30.Филиппов В.В. Аналитический метод определения оптических постоянных итолщины поглощающих пленок по спектрам отражения // Оптика испектроскопия. – 1995 г. – Т.78. – №5. – С.798-801.31.Котликов Е.Н. Исследование поглощения в зеркалах и пленках из селенидацинка и фторидов // Оптика и спектроскопия. – 1991 г. – Т.70.

– №4. –С.838-841.14732.Котликов Е.Н., Громов Д.Н., Иванов В.А., Коваленко И.И. и др. О проблемеуменьшения поглощения света пленками в инфракрасной области спектра //Высокочистые вещества. – 1992 г. – №2. – С. 34-40.33.Bubenzer A., Koidl P. Exact expressions for calculating thin-film absorptioncoefficients from laser calorimetric data // Applied Optics. – 1984. –Vol.23. –№17. – pp.2886-2891.34.Гончаренко А.М., Редько В.П. Введение в интегральную оптику. Минск:Наука и техника. – 1975.

– 148 с.35.Андрушко Л.М. Диэлектрические неоднородные волноводы оптическогодиапазона. Киев: Техника. – 1983 г. –144 с.36.Новикова Ю.А., Тропин А.Н., Шалин В.Б. Эволюционное развитие методовопределенияпараметровтонкихпленокпорезультатамспектрофотометрических измерений // Научная сессия ГУАП: Сб. докл.СПб: ГУАП. – 2014 г. – С.

157-159.37.Котликов Е.Н., Иванов В.А., Крупенников В.А., Таллерчик Б.А., Тропин А.Н.Исследование оптических констант пленокхалькогенидов мышьяка вобласти длин волн 0.5 – 2.5 мкм // Оптика и спектроскопия. – 2007 г. – Т.103. – № 6. – С. 983–987.38.Васильев Ф.П. Численные методы решения экстремальных задач. М.: Наука.– 1980 г. – 520 с.39.Борн М., Вольф Э. Основы оптики. Пер. с англ. под ред. Г.П. Мотулевич М.:Наука. –1970 г. – 856 с.40.Власов А.Г.

Отражение и пропускание света системой тонких пленок //ОМП. – 1946 г. – №2. – С. 11-16.41.Котликов Е.Н., Терещенко Г.В. Использование халькогенидных соединенийдля изготовления просветляющих покрытий в средней ИК области спектра //Оптический журнал.

– 1997 г. – Т. 64. – № 3. – С. 110–115.42.Kotlikov E.N., Ivanov V.A., Tropin A.N. Film’s forming materials for THzSpectral Range Purposes // USA. – 5-8 July 2010. – Draft abstracts. – P. 88.14843.Бернинг П. Х. Теория и методы расчета оптических свойств тонких // Сб.физика тонких пленок. В 8 т. Т. 1. / Под общ. ред. Г. Хасса и Р. Э. Тауна;перевод с англ.

под ред. В. Б. Сандомирского и А. Г. Ждана. М.: Мир.–1967 г. – С. 91–151.44.Кард П.Г. Анализ и синтез многослойных интерференционных пленок.Таллин: Валгус. – 1971 г. – 235 с.45.ТеленА.Конструированиемногослойныхинтерференционныхсветофильтров // Сб. физика тонких пленок. В 8 т. Т. 5. / Под общ. ред. Г.Хасса и Р. Э.

Тауна; перевод с англ. под ред. В. Б. Сандомирского и А. Г.Ждана. М.: Мир. – 1972 г. – С. 46–83.46.Золотарев В.М., Морозов В.Н., Смирнова Е.В. Оптические постоянныеприродных и технических сред. Справочник. Л.:Химия. – 1984 г. – 216 с.47.Минков И.М. Просветление границы между изотропными средами для двухдлин волн // Опт.

мех. промышленность. – 1983 г. – №7. – С.1-3.48.Тун Р.Э. Структура тонких пленок // Сб. физика тонких пленок. В 8 т. Т. 1. /Под общ. ред. Г. Хасса и Р. Э. Тауна; перевод с англ. под ред. В. Б.Сандомирского и А. Г. Ждана. М.: Мир. – 1967 г. – С. 231-275.49.Abeles F. The propagation of electromagnetic waves in stratified media //Ann.Phys. – 1948. – Vol.3. – N.4. – pp.504-520.50.F. Van de Wielle.

Antireflected films and multilayers structures, in book: ―SolidState Imaging‖ ed. by P. Jespers, Noordfoff-Leyden. – 1976. – pp.28-30.51.Котликов Е.Н., Терещенко Г.В. Исследование оптических констант пленок,используемых для синтеза широкополосных просветляющих покрытий //Оптика и спектроскопия.

– 1997 г. – Т.82. – №4. – С. 653-659.52.КотликовЕ.Н.,НовиковаЮ.А.Исследованиепленкообразующихматериалов на основе бинарных фторидов // II Всероссийская конференцияпо фотонике и информационной оптике. Сб. научных трудов. М.: НИЯМИФИ. – 2013 г. – С.111-113.14953.Котликов Е.Н., Новикова Ю.А. Исследование оптических константпленкообразующихматериаловнаосновефторидовдлясреднейинфракрасной области // Сборник трудов VII Международной конференциимолодых ученых и специалистов «Оптика-2013».

СПб.: ИТМО. – 2013 г. –С.275-277.54.Котликов Е.Н., Новикова Ю.А. Исследование оптических констант пленокBaxMe1-xF2 // Оптика и спектроскопия. – 2014 г. – Т. 117. – №3. – С.48-52.55.Котликов Е.Н., Андреев В.М. Новикова Ю.А. Определение оптическихконстант пленок на подложках из кремния // Научная сессия ГУАП: Сб.докл. СПб: ГУАП. – 2013 г. – С. 167-170.56.Новикова Ю.А. Исследование оптических констант пленок YxBa1-xF2+x //Сборник трудов VII Международнойконференциимолодых ученых испециалистов «Оптика-2011». СПб.: ИТМО. – 2011 г.

Характеристики

Список файлов диссертации