Рекомендуемая основная литература (1125129)
Текст из файла
РЕКОМЕНДУЕМАЯ
основная ЛИТЕРАТУРА
1. Э.В.Суворов Физические основы современных методов исследования реальной структуры кристаллов, Черноголовка, 1999, 231 с.
В этом пособии содержатся практически все разделы курса «МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ РЕАЛЬНОЙ СТРУКТУРЫ И СОСТАВА МАТЕРИАЛОВ»
2. Лабораторный практикум, Рентгеновские и электронно-микроскопические методы анализа атомнокристаллической структуры материалов, под ред. В.Ш.Шехтмана, Э.В.Суворова, Черноголовка, 2000, 138 с.
Приведены описания лабораторных работ способствующие закреплению теоретического курса и приобретению практических навыков по теме «МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ РЕАЛЬНОЙ СТРУКТУРЫ И СОСТАВА МАТЕРИАЛОВ»
3. П.Хирш, А.Хови, Р.Николсон, Д.Пэшли, М.Уэлан, Электронная микроскопия тонких кристаллов, Москва,Мир,1968,с.574
Монография содержит наиболее полные сведения по методике и теории электронно-микроскопических исследований
4. Томас Г., Гориндж М. Дж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов, М., Наука, 1983, 320 с (стр. 40-47, 99-180, 195-203, 254-258, 270-271).
5. Дж.Каули, Физика дифракции, Москва, Мир, 1976, с.432
Это лучшее прекрасно написанное пособие по физике дифракции имеющееся на русском языке.
6. Морис Р., Мени X., Тиксье Р. Микроанализ и растровая электронная микроскопия М., Мир, 1985, 406.
Это просто написанное пособие по эелектронной микроскопии
7. Методы анализа поверхностей. Под редакцией А.Зайдерны. Пер. с англ. М., Мир, 1979, 582 с (стр. 201-215)
В монографии приведены прекрасные обзоры по различным разделам исследования поверхности.
8. Розанов А.А. Вакуумная механика М., Высшая школа, 1982, 207 с (стр. 68-113, 121-137)
Прекрасная монография по вакуумной технике
Дополнительная литература.
-
А.А.Харкевич, Спектры и анализ, Москва, ГИ Физ.Мат.Лит.1962, с.234
-
Г.Пейн Физика колебаний и волн, Москва, Мир, 1979, с.390
-
Azaroff L.V. X-ray Diffraction, 1974, McGraw-Hill Book Company, New York, p.665
-
Р.Джеймс, Оптические принципы дифракции рентгеновских лучей, Москва, ИЛ, 1950, с.572
6. В.И.Иверонова, Г.П.Ревкевич, Теория рассеяния ренгеновских лучей, Москва, МГУ, 1978, с.278
7. Г.С.Жданов, Основы рентгеноструктурного анализа, Москва, Гостехиздат, 1940, с.446
-
А.М.Гинье, Рентгенография кристаллов, Москва, Физматгиз, 1961, с.604
-
Б.Я.Пинес Лекции по структурному анализу, Харьков, ХГУ, 1957, с.476
-
У.Вустер, Диффузное рассеяние рентгеновских лучей в кристаллах, Москва, ИЛ, 1963, с.
-
Я.С.Уманский, Рентгенография металлов, Москва, Металлургия, 1967, с.236
-
А.Ф.Скрышевский, Структурный анализ жидкостей, Москва, Мир, 1976, с.256
13. М.А.Кривоглаз Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в неидеальных кристаллах, Киев, Наукова думка, 1983, с.251
-
З.Г.Пинскер, Рентгеновская кристаллооптика, Москва, Наука, 1982, с.390
Характеристики
Тип файла документ
Документы такого типа открываются такими программами, как Microsoft Office Word на компьютерах Windows, Apple Pages на компьютерах Mac, Open Office - бесплатная альтернатива на различных платформах, в том числе Linux. Наиболее простым и современным решением будут Google документы, так как открываются онлайн без скачивания прямо в браузере на любой платформе. Существуют российские качественные аналоги, например от Яндекса.
Будьте внимательны на мобильных устройствах, так как там используются упрощённый функционал даже в официальном приложении от Microsoft, поэтому для просмотра скачивайте PDF-версию. А если нужно редактировать файл, то используйте оригинальный файл.
Файлы такого типа обычно разбиты на страницы, а текст может быть форматированным (жирный, курсив, выбор шрифта, таблицы и т.п.), а также в него можно добавлять изображения. Формат идеально подходит для рефератов, докладов и РПЗ курсовых проектов, которые необходимо распечатать. Кстати перед печатью также сохраняйте файл в PDF, так как принтер может начудить со шрифтами.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
