Павлов В.Н., Ногин В.Н. Схемотехника аналоговых электронных устройств (2-е издание, 2001) (1095416), страница 15
Текст из файла (страница 15)
мощью источника тока ЛВ1вп, Искомый результат преобразована; тока этого источника в ток Л/, определяется как непосредственнызг его проникновением в коллекторную цепь схемы (в узел а схемы рис. 4.12,б), так и его воздействием на эииттериую цепь транин стора.
Протекая через эту цепь, он создает на ней разность потсп циалов ЛУэ, которая, в свою очередь, преобразуется в измене. ния Л(/г разности потенциалов на резисторе й,. Преобразованпа разности потенциалов Л(/э в Л(/а осуществляется в соответств,.п с ранее рассмотренной схемой, т. е. в соответствии со свойствами схемы ОБь Поэтому Л1'а=Ля'г/йв=-Ь(/з Квег/йв, где Л(/э= =ЛВ/ве йэЦ(йвв ее ~', нпвв он г=нпгг/(1+нпггйг). При этом Л/г =- ЛВ/вп — д/; = ЛВ/ва (1+ Дггйа)/(1+ Кгзйэ + Кзгйа) (4.19) В схеме рис. 4.12„в н образовании тока Л1а также участвуют дке составляющие. Одна из них является результатом непосредственного воздействия источника нестабильности Л/ к на коллекторную цепь транзистора, а вторая Л/а — следствием протекания тока Л1в» через его базовую цепь. В этой цепи образуется напряжение Л(/н = =Л/внйа11йвв вэ н которое со~дав~ соответствующее изменение Л(,',- потенциала в цепи коллсктора.
Преобразование напряжения Л(l~ в ЛУэ происходит и соответствии со свойствами схемы ОЭь при этом Л/а=Л(/нКвэг/йн, где Каэг=кггйв/(1+йггйэ); Л/а = Л/вк+ Л/а'=. Д/вк(1+АЪйа)/(1+ Кг,йв+ дзгйа). (4,20) Таким образом, для каскадов на биполярном транзисторе ш (4.15) — (4.20) следует, что д/к - !д(/вэКг +(1+ дпйа) ~В/пз+ + З/вк (1 + Кгзйа)!/(1 + Кггйэ + //ийа). (1 21) Сопоставление представленных на рис.
3.4 и 3.5 эквивалентных схем, а также соотношений (З.В) и (3.9), отражающих свойсгпа каскадов иа биполярном и полевом транзисторах, указывает па подобие свойств этих каскадов с точки зрения оценки илияипа дестабилизирующих факторов на положение ИРТ. В связи с этмш иа основании (4.21) и (3.9) можно представить соотношение, опре делающее воздействие дестабнлизиртчоших факторов яа полож,.' ние ИРТ в каскаде н.', полевом транзисторе: э/с . г эУзидгг 1 11 + и нйа) (Ькгг/кг~» /се + — 'з/вз (1 + дггй )1К1 + Ксчй, + КгЛ ) Пример 4Л. Ьы зе мп з рассмотренной и примере 3! схеме изэни и,.
гпн Ьа. ~.а ванини ппншш:леи температур перевалов транзистора иа ЗП' Рис. 4.13 т'еюеиае. 1. С помонгью (38) определяем значения пзраметроа иестабильно[еюответствуюпгих зквивалентной схеме рис 3.5, а, В йт,з= !00 и Ы 30'. ЬУвз.-2,1 ° 1О .30:. 63 мВ; ЬВ-100-0,006.30=1о; а!вн.=10 М[акр(0,06.30)-














